本发明专利技术涉及一种按键测试装置及按键测试系统。该按键测试装置包括：按压件，用于按压待测按键；荷载件，与该按压件可移动地相连；第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间；第一驱动装置，与该荷载件相连，用于驱动该荷载件朝靠近或远离待测按键的方向运动；及检测设备，用于测量按压件的位移及施加在待测按键上的力度。上述按键测试装置具有测量精确度较高的优点。
【技术实现步骤摘要】
按键测试装置及按键测试系统
本专利技术涉及一种电子产品测试设备，尤其涉及一种适用于对电子产品的按键开关进行自动测试的按键测试装置及按键测试系统。
技术介绍
在各类电子产品、机械设备上大量使用着各种形式的按键，现有技术对按键的性能及寿命测试通常是采用人工或机械的方式。其中，人工的方式存在着测试效率低、测试力度不规范、没有严格的测试标准等缺点。本公司申请人在先申请的中国专利技术专利200610062967.8公告的《砝码重力指》就是一种可取代原有的人手测试，克服了人手测试按键开关导通程度不一及下压力度不一的缺陷。可准确地测量出按键开关的过灵敏度和过重按压度的装置。该《砝码重力指》包括一轴杆，轴杆的端部至少设有一组在限定范围内可轴向移动的砝码，轴杆配有一可控制其轴向移动的驱动机构和复位弹簧；轴杆上还设有用于其在台面移动板上固定的安装座。利用驱动机构对砝码的控制，将设定重量的砝码施加在被测按键开关上，对按键的按压力进行测试。若凭借向下一定距离时，按键开关导通了，则说明被测按键视为过灵敏，为不合格产品。若凭借砝码重量不能促使按键开关导通，则说明被测按键为不合格产品。具有测试速度快、测试准确规范等优点。但在实际应用中，发现上述结构的砝码重力指尚存在以下缺陷:1.无法仿真人手对按键的段落感觉，2.砝码下降速度快，无缓冲，如用到两颗砝码时，由于上、第二砝码间是以硬着落方式叠加的，即第一砝码以自由落体方式叠加在第二砝码上，其下降速度过快，按键的行程很短，而导致不可测试段落感，因此会影响测试的准确性。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种测试准确度较高的按键测试装置及按键测试系统。一种按键测试装置，包括:按压件，用于按压待测按键；荷载件，与该按压件可移动地相连；第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间。在优选的实施例中，还包括:第一驱动装置，与该荷载件相连，用于驱动该荷载件朝靠近或远离待测按键的方向运动；第二驱动装置，用于驱动待测按键朝靠近或远离该按压件的方向运动；及检测设备，用于测量按压件的位移及施加在待测按键上的力度。在优选的实施例中，该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该按压件的光学刻度尺及与该光学刻度尺相对应的光电传感器。在优选的实施例中，该荷载件的内部开设有收容腔，该荷载件的底部还开设有连通该收容腔的通孔，该荷载件 位于该通孔的周围形成抵压座，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该按压部的宽度小于该杆部的宽度，该杆部活动收容于该收容腔，该按压部穿设于该通孔，该第一缓冲件一端与该抵压座相抵，另一端与该杆部的端面相抵，该按键测试装置还包括设于该杆部顶部与该收容腔的顶部之间的第二缓冲件。一种按键测试系统，包括多个上述的按键测试装置，用于同时测试多个待测按键，每一待测按键包括上电极和下电极，多个待测按键的上电极相互连接，或者多个待测按键的下电极相互连接。在优选的实施例中，还包括控制模块，该多个待测按键分成多个区域，该控制模块控制该第一驱动装置和第二驱动装置对每一区域单独检测。一种按键测试装置，包括:按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块；支架，包括多个平行设置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每个支撑板上开设有允许该托块穿过的通孔；多个荷载件，每个荷载件放置在一个支撑板上，每个荷载件上开设有允许该杆部穿过但阻止该托块穿过的过孔，且相邻两个荷载件之间的距离大于相邻两个托块之间的距离；第一驱动装置，与该支架相连，用于驱动该杆部朝靠近或远离待测按键的方向运动；第二缓冲件，设于一个托块与支架之间；多个触动开关，每个触动开关设在一个支撑板上，并能被该荷载件的压力所触发；及检测设备，与该多个触动开关和待测按键相连，用于测量按压件的位移及接收该多个触动开关发出的信号。在优选的实施例中，还包括多个第一缓冲件，每个第一缓冲件设于一个托块与一个荷载件之间；或每个第一缓冲件设于一个支撑板与一个荷载件之间。一种按键测试装置，包括:按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块；支架，包括多个平行放置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每个支撑板上开设有允许该托块穿过的通孔，且相邻两个支撑板之间的距离大于相邻两个托块之间的距离；多个荷载件，每个荷载件放置在一个支撑板上，每个荷载件上开设有允许该杆部穿过但阻止该托块穿过的过孔；第二缓冲件，设于一个托块与支架之间；第一驱动装置，固定在支架上，并与该杆部相连，用于驱动该按压部朝靠近或远离待测按键的方向运动；检测设备，待测按键相连，该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该杆部的光学刻度尺及安装在该支架上并与该光学刻度尺相对应的光电传感器。在优选的实施例中，还包括阻尼件，设于该按压件或该荷载件上。缓冲件，阻尼件，可以是上或下单向缓冲，可以是双向缓冲，材质，形状，缓冲大小不拘。上述按键测试装置的第一缓冲件能够让荷载件的重量慢慢的加载到按压件上，作用相当于将荷载件分成很多微小的单位重量，每一小单位重量呈递增方式，逐步地叠加在按压件上，比较接近人手按压时的实际情况。另外，荷载件加载及卸载的速度放缓，有利于检测装置采用充裕的时间读取测试值，增加了测量的精确度。附图说明通过附图中所示的本专利技术的优选实施例的更具体说明，本专利技术的上述及其它目的、特征和优势将变得更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分，且并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本专利技术的主旨。图1a为实施例一的按键测试装置的结构示意图；图1b为实施例一的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图1c为实施例一的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图2为实施例一的按键测试装置的测试曲线图；图3a、图3b为实施例二的按键测试装置的结构示意图；图3c为实施例二的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图3d为实施例二的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图4a、图4b为实施例三的按键测试装置的结构示意图；图4c为实施例三的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图4d为实施例三的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图5a、图5b为实施例四的按键测试装置的结构示意图；图5c为实施例四的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图5d为实施例四的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图6a、图6b为实施例五的按键测试装置的结构示意图；图6c为实施例五的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图6d为实施例五的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图7a、图7b为实施例一的按键测试系统的结构示意图；图7c为实施例一的按键测试系统测试分区按键时的立体示意图；图7d为图7c中电路板的平面示意图；图8a、图8b为实施例二的按键测试系统的结构示意图；图9为实施例六的按键测试装置的结构示意图；图10为实施例六的按键测试装置的测试曲线图；图1Oa 图1Of为实施例六的按键测试装置使用过程中的状态示意图；图11为实施例六的按键测试装置测试按键按压时的测试曲线图；图12为实施例六的按键测试装置测试按键回弹时的测试曲线图；图13为实施例七的按键 测试装置的结构示意图；本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种按键测试装置，其特征在于，包括：按压件，用于按压待测按键；荷载件，与该按压件可移动地相连；第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间。
【技术特征摘要】
1.一种按键测试装置，其特征在于，包括: 按压件，用于按压待测按键； 荷载件，与该按压件可移动地相连； 第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间。2.根据权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，还包括: 第一驱动装置，与该荷载件相连，用于驱动该荷载件朝靠近或远离待测按键的方向运动； 第二驱动装置，用于驱动待测按键朝靠近或远离该按压件的方向运动；及 检测设备，用于测量按压件的位移及施加在待测按键上的力度。3.根据权利要求2所述的按键测试装置，其特征在于:该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该按压件的光学刻度尺及与该光学刻度尺相对应的光电传感器。4.根据权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于:该荷载件的内部开设有收容腔，该荷载件的底部还开设有连通该收容腔的通孔，该荷载件位于该通孔的周围形成抵压座，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该按压部的宽度小于该杆部的宽度，该杆部活动收容于该收容腔，该按压部穿设于该通孔，该第一缓冲件一端与该抵压座相抵，另一端与该杆部的端面相抵，该按键测试装置还包括设于该杆部顶部与该收容腔的顶部之间的第二缓冲件。5.一种按键测试系统 ，其特征在于:包括多个如权利要求1至4任意一个所述的按键测试装置，用于同时测试多个待测按键，每一待测按键包括上电极和下电极，多个待测按键的上电极相互连接，或者多个待测按键的下电极相互连接。6.根据权利要求5所述的按键测试系统，其特征在于:还包括控制模块，该多个待测按键分成多个区域，该控制模块控制该第一驱动装置和第二驱动装置对每一区域单独检测。7.一种按键测试装置，其特征在于，包括: 按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块； 支架，包括多个平行设置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖贵城，
申请(专利权)人：深圳安格仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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