【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及红外焦平面器件用杜瓦瓶检测领域,具体涉及。
技术介绍
:杜瓦瓶在红外焦平面探测器性能测试过程中需要广泛使用,红外焦平面探测器芯片测试用杜瓦瓶引脚数量众多,内外引脚数量通常为50个或78个。杜瓦瓶在投入使用之前需要进行引脚连通性检测,现有的杜瓦瓶引脚连通性检测方法是利用手持万用表进行人工手动检测,具体方法是利用万用表的欧姆档测试不同引脚之间的电阻来判断引脚间是否连通。由于杜瓦瓶引脚连通性检测需要测试内外对应引脚间的导通性和内外不对应引脚间的绝缘性。对于内外引脚数量均为50个的杜瓦瓶至少需要进行1125次人工万用表测量以检测杜瓦瓶引脚连通性,对于内外引脚数量均为78个的杜瓦瓶则至少需要进行2701次人工万用表测量。人工手动检测效率较低且容易引起测试人员疲劳造成漏检或误检。
技术实现思路
:为了解决上述人工手动检测存在的问题,本专利技术的目的是提供一种能够实现杜瓦瓶引脚连通性检测的自动化,提高检测效率与准确度的。为达上述目的,本专利技术提供一种杜瓦瓶引脚连通性检测系统,包括:开关矩阵102、源表103和计算机104,所述的开关矩阵102是具有多路行选、列选开关功能的可程控开关矩阵,所述的源表103是具有电阻测试功能的可程控源表,所述的计算机104是通用微型计算机。其连接方式为:开关矩阵102的两个行选输出端口分别和源表103的两个输入端口相连,开关矩阵102、源表103的通讯端口分别和计算机104的两个USB端口相连。一种杜瓦瓶引脚连通性检测方法,步骤为:一、将待检测杜瓦瓶101的内、外引脚分别和开关矩阵102的两组列选端口相连;二、利用计算机104 ...
【技术保护点】
一种杜瓦瓶引脚连通性检测系统,包括:开关矩阵(102)、源表(103)和计算机(104),其特征在于:所述的开关矩阵(102)是具有多路行选、列选开关功能的可程控开关矩阵,所述的源表(103)是具有电阻测试功能的可程控源表,所述的计算机(104)是通用微型计算机;开关矩阵(102)的两个行选输出端口分别和源表(103)的两个输入端口相连,开关矩阵(102)、源表(103)的通讯端口分别和计算机(104)的两个USB端口相连。
【技术特征摘要】
1.一种杜瓦瓶引脚连通性检测系统,包括:开关矩阵(102)、源表(103)和计算机(104),其特征在于: 所述的开关矩阵(102)是具有多路行选、列选开关功能的可程控开关矩阵,所述的源表(103)是具有电阻测试功能的可程控源表,所述的计算机(104)是通用微型计算机; 开关矩阵(102)的两个行选输出端口分别和源表(103)的两个输入端口相连,开关矩阵(102)、源表(103)的通讯端口分别和计算机(104)的两个USB端口相连。2.一种基于权利要求1所述系统的杜瓦瓶引脚连通性检测方法,其特征在于包括以下步骤: 一、将待检测杜瓦瓶(...
【专利技术属性】
技术研发人员:华桦,何忞,胡晓宁,林春,
申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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