磁共振摄像装置、照射磁场测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种可在短时间内高精度地测量RF发射线圈的B1分布的MRI装置。因此，MRI装置的摄像单元具备：包括RF照射单元的前脉冲的施加、和自施加上述前脉冲起的经过时间(TI)不同的多个信号获取序列的B1分布测量序列。信号获取序列采用翻转角小的脉冲作为RF脉冲，并在前脉冲后的纵向驰豫结束之前被执行。运算单元采用由多个信号获取序列分别得到的TI不同的图像数据，来计算RF照射单元的B1分布。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及磁共振摄像装置(以下称作MRI装置)，尤其涉及具备测量对被检体照射高频磁场的照射线圈的照射磁场分布的功能的MRI装置。
技术介绍
MRI装置是一种对在均匀的静磁场中配置了检查对象的状态下通过向检查对象施加高频磁场脉冲而产生的核磁共振(NMR)信号进行测量，并通过NMR信号的运算来重构检查对象的图像的装置。通过采用高磁场的磁场产生装置作为配置检查对象的静磁场，从而能够得到SN高的图像。近年来，随着超导磁铁的开发，能够实现3T以上的高磁场的高磁场MRI装置正在普及。在高磁场MRI中，虽然能够得到高SN，但是在腹部摄像等时却存在图像中产生亮度不均的问题。作为该亮度不均的原因之一在于，激励被检体的组织内的原子核自旋的高频磁场脉冲(以下称作RF脉冲)的磁场分布(照射磁场分布、BI分布)在空间上不均勻。一般而言，用于激励的高频磁场的共振频率由于与静磁场强度成比例，因此在高磁场MRI的情况下，需要照射频率比现有技术的高频磁场更高的磁场。在该情况下，生物体内的高频磁场的波长成为与生物体(尤其腹部)的大小相同的规模。因此，高频磁场的相位因生物体内的位置而发生变化，会出现图像不均。作为用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：伊藤公辅，泷泽将宏，黑川真次，
申请(专利权)人：株式会社日立医疗器械，
类型：
国别省市：