遥感图像辐射校正方法技术

技术编号:8907361 阅读:161 留言:0更新日期:2013-07-11 05:02
本发明专利技术公开了一种遥感图像辐射校正方法。所述方法包括以下步骤:测量遥感图像成像时成像区域的太阳天顶角θ、地形坡度角α、太阳方位角地形坡度方位角和地表辐射亮度L(λ);计算地形校正因子Tscs+c;通过MODTRAN模型计算直接辐射和水平面像元的散射辐射以及大气投射非对称性指数k(λ,z);计算地表入射太阳辐射E(λ,z);从遥感图像中提取大气顶层辐射Ll(λ)并通过MODTRAN模型计算出成像区域的程辐射Lp(λ,z)和地表至传感器入瞳处的透过率Tu(λ,z);求取地表反射率ρ(λ),λ为遥感器接收到的光谱波长,z为遥感器监测的高程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术遥感图像处理领域,尤其涉及一种。
技术介绍
在遥感监测中影响遥感图像成像的因素包括大气因素、地形因素(尤其在山区,地形因素的影响更为明显)等;为了使从遥感器的测量值与地物实际光谱辐射值具有较高的一致性,通常需要对从采集生成的遥感图像中提取的测量值进行辐射校正,以提取精确的地表反射率值。然而在传统的中一般是基于太阳-地表-传感器三者之间的几何关系来考虑的,如余弦校正、C校正等,仅考虑了成像区域的直接辐射部分,未考虑到散射辐射和邻近像元反射辐射,故存在着校正过度的现象,导致最终从遥感图像中提取的地表反射率的值存在过大或过小的偏差;又如基于太阳-冠层-传感器三者的SCS校正消除了森林覆盖区地形影响,在考虑散射辐射时忽略了地形起伏的影响,依然存在过度校正的问题。综合上述,故提供一种更为优良的辐射校正方法,以获取更为精确的地表反射率是急需解决的一个问题。
技术实现思路
(一)专利技术目的针对辐射校正中过度校正的问题,本专利技术提供一种能从遥感图像中提取更为精确的地表反射率的。(二)技术方案为达上述目的,本专利技术,包括以下步骤:测量遥感图像成像时成像区域的太阳天顶角Θ、地形坡度角α、太阳方位角%、地形坡度方位角料以及表观辐射亮度L(A);利用权利要求1.一种,其特征在于,所述包括以下步骤: 测量遥感图像成像时成像区域的太阳天顶角Θ、地形坡度角α、太阳方位角%、地形坡度方位角外以及表观辐射亮度L(X);利用cos(/:) = cos(<9)COS(a) + sin(60shi(a)cos((/)s.-朽)、L(A) =a+b.cos (i)、C=b/a 以及Tscs+c=(C0S(i)+C)/ (cos ( Θ ) cos ( a )+C)计算地形校正因子 Tsc;s+。;a、b 均为拟合系数,C 为中间变量;通过M0DTRAN模型计算成像时成像区域水平面像元的直接辐射纪μ,--)、水平面像元的散射辐射4(义二)以及大气投射非对称性指数k( λ,ζ);利用公式五(尤-)=^Ehd (λ, z)Tscs+c + Ehf (λ, z) {k(A, z)Tscs+c + l-k(A, z)}计算地表入射太阳辐射Ε(λ,ζ) ;Θ为遮挡因子;成像区域为向阳面则Θ为1,为向阴面则O为O; 从遥感图像中提取大气顶层辐射L1 ( λ )并通过M0DTRAN模型计算出成像时成像区域内程辐射LpU,ζ)与地表至传感器入瞳处的透过率TuU,ζ);利用公式2.根据权利要求1所述的,其特征在于,所述Ε(λ,ζ)还包括分量邻近像元的反射辐射Eadj ; 测量成像区域的平均反射率Padj ;通过公式浐= 认0 +句认以及Eadj =EhU,ζ) Padj计算所述Eadj,其中,所述EhU,ζ)为水平像元的总辐射。3.根据权利要求2所述的,其特征在于,所述在求解Ε(λ,ζ)过程中还引入了天空可视因子Vd以及地形可视因子Vt: 通过公式4.根据权利要求1、2或3所述的,其特征在于,通过光线跟踪法计算大气投射非对称性指数k( λ,ζ)。全文摘要本专利技术公开了一种。所述方法包括以下步骤测量遥感图像成像时成像区域的太阳天顶角θ、地形坡度角α、太阳方位角地形坡度方位角和地表辐射亮度L(λ);计算地形校正因子Tscs+c;通过MODTRAN模型计算直接辐射和水平面像元的散射辐射以及大气投射非对称性指数k(λ,z);计算地表入射太阳辐射E(λ,z);从遥感图像中提取大气顶层辐射Ll(λ)并通过MODTRAN模型计算出成像区域的程辐射Lp(λ,z)和地表至传感器入瞳处的透过率Tu(λ,z);求取地表反射率ρ(λ),λ为遥感器接收到的光谱波长,z为遥感器监测的高程。文档编号G06K9/32GK103198314SQ201310054700公开日2013年7月10日 申请日期2013年2月20日 优先权日2013年2月20日专利技术者杨贵军, 赵春江, 冯海宽, 宋晓宇, 顾晓鹤, 杨小冬, 徐新刚, 杨浩, 杨月英 申请人:北京农业信息技术研究中心本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种遥感图像辐射校正方法,其特征在于,所述遥感图像辐射校正方法包括以下步骤:测量遥感图像成像时成像区域的太阳天顶角θ、地形坡度角α、太阳方位角地形坡度方位角以及表观辐射亮度L(λ);利用L(λ)=a+b·cos(i)、C=b/a以及Tscs+c=(cos(i)+C)/(cos(θ)cos(α)+C)计算地形校正因子Tscs+c;a、b均为拟合系数,C为中间变量;通过MODTRAN模型计算成像时成像区域水平面像元的直接辐射水平面像元的散射辐射以及大气投射非对称性指数k(λ,z);利用公式E(λ,z)=ΘEdh(λ,z)Tscs+c+Efh(λ,z){k(λ,z)Tscs+c+1-k(λ,z)}计算地表入射太阳辐射E(λ,z);Θ为遮挡因子;成像区域为向阳面则Θ为1,为向阴面则Θ为0;从遥感图像中提取大气顶层辐射L1(λ)并通过MODTRAN模型计算出成像时成像区域内程辐射Lp(λ,z)与地表至传感器入瞳处的透过率Tu(λ,z);利用公式ρ(λ)=π(L1(λ)-Lp(λ,z))E(λ,z)Tu(λ,z)求取成像区域的地表反射率,其中,所述λ为遥感器接收到的光谱波长,所述z为遥感器监测的高程。FDA00002842957300011.jpg,FDA00002842957300012.jpg,FDA00002842957300013.jpg,FDA00002842957300014.jpg,FDA00002842957300015.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨贵军赵春江冯海宽宋晓宇顾晓鹤杨小冬徐新刚杨浩杨月英
申请(专利权)人:北京农业信息技术研究中心
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1