可产生三维立体图像的光学显微成像方法技术

可产生三维立体图像的光学显微成像方法，涉及光学显微成像方法。提供一种可产生衬度高、立体感强、细微结构表现丰富、边界清楚的三维立体图像的光学显微成像方法。镜头选择；样品制备；样品聚焦；衬度调节。或镜头选择；样品制备；样品聚焦；挡光片放置；衬度调节。基本原理：利用单一光源在被观察样品周围制造环形照明光，收集样品暗场光的同时收集少量明场光，通过调节照明或收集方式调节样品暗场光在收集光中的比例，可使被观察的样品形成衬度高、立体感强、细微结构表现丰富、边界清楚的三维立体图像。

【技术实现步骤摘要】
可产生三维立体图像的光学显微成像方法
本专利技术涉及光学显微成像方法，特别涉及一种可产生三维立体图像的光学显微成像方法。
技术介绍
可产生三维立体图像的光学显微成像方法是应某些特殊样品的观察要求而产生的。以透明活细胞样品为例，由于其与周围介质有相近光吸收系数，仅在折射率上存在细微差别，因此很难用一般的显微方法进行观察。一种解决方法是将其染色，但通常染色后的细胞状态已经发生改变甚至死亡，无法满足对活细胞观察的要求。再以金相材料样品为例，通常希望获得材料上的不平整表面、裂纹、微孔、凹陷、晶界等信息，这就要求显微方法能够把其表面立体分布情况和有关细微结构都表现出来。为满足上述需求，目前已发展出的可产生三维立体图像的显微方法主要有微分干涉相衬法(DifferentialInterfereContrast，DIC)和霍夫曼调制相衬法(HoffmanModulationContrast，HMC)。微分干涉相衬法所必需部件包括起偏器、检偏器、微分干涉相衬组件插板(DIK组件插板)。起偏器是把光源变为线偏振光；检偏器可以使满足干涉条件的相干光进行干涉。DIK组件插板是微分干涉相衬法的核心部件，其上装本文档来自技高网...

【技术保护点】
可产生三维立体图像的光学显微成像方法，其特征在于包括以下步骤：（1）镜头选择：根据待观察的样品选取合适的物镜以及比此物镜NA值小的聚光镜，所述聚光镜需能产生环形照明光，将选取好的镜头分别安装在显微镜的物镜转盘和聚光镜平台上；（2）样品制备：将样品固定在载物台上；（3）样品聚焦：打开显微镜，利用单一光源通过聚光镜在样品周围制造环形照明光，先调节聚光镜，将光斑聚焦到样品上，再调节物镜，使其聚焦到样品上；（4）衬度调节：此时可观测到样品的三维立体光学显微图像，通过微调聚光镜在样品上的聚焦深度，或通过调节光阑及挡光片的尺寸，或选择NA值差别不同的物镜及聚光镜组合，或使用空间光调制器，可调节样品暗场光在...

【技术特征摘要】
1.可产生三维立体图像的光学显微成像方法，其特征在于包括以下步骤：(1)镜头选择：根据待观察的样品选取合适的物镜以及比此物镜NA值小的聚光镜，所述聚光镜需能产生环形照明光，将选取好的镜头分别安装在显微镜的物镜转盘和聚光镜平台上；所述聚光镜为暗场聚光镜，或为普通聚光镜搭配挡光片；(2)样品制备：将样品固定在载物台上；(3)样品聚焦：打开显微镜，利用单一光源通过聚光镜在样品周围制造环形照明光，先调节聚光镜，将光斑聚焦到样品上，再调节物镜，使其聚焦到样品上；(4)衬度调节：通过微调聚光镜在样品上的聚焦深度，或通过调节孔径光阑及挡光片的尺寸，或选择NA值差别不同的物镜及聚光镜组合，或使用空间光调制器，可调节样品暗场光在收集光中的比例，实现衬度调节，可使被观察的样品形成衬度高、立体感强、细微结构表现丰富、边界清楚的三维立体图像。2.如权利要求1所述的可产生三维立体图像的光学显微成像方法，其特征在于在步骤(3)中，所述单一光源为白光光源或单色光源。3.如权利要求2所述的可产生三维立体图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑晓姗，任斌，崔颜，宗铖，刘必聚，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：