漏电开关校验仪制造技术

本实用新型专利技术公开漏电开关校验仪，包括微控制器模块、所述微控制器模块的输入端分别连接有电源模块、漏电测量模块、时间测量模块和IO输入模块，其输出端分别连接有显示模块、电阻选通网络模块和辅助继电器输出模块，所述微控制器模块的输入输出连接有通讯模块，所述电阻选通网络模块还包括移位寄存器级联结构，本实用新型专利技术使传统的不可程控的漏电开关校验仪实现程控化，提高了测试仪的稳定性和精度，并可方便的应用于自动测试线中，在误差允许的范围内，最短1s的时间即可从起始电流升至终止电流，极大的提高产品的校验速度和校验效率，并且每个回路都有足够大的固定电阻接入，以及每个可控硅都有足够的耐压值，整套产品的故障率极低。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

漏电开关校验仪
本技术涉及一种漏电检测装置，特别涉及漏电开关校验仪。
技术介绍
漏电开关校验仪，是一种专用于校验漏电开关的动作时间和动作电流的专用测量设备，主要用于断路器生产厂商的漏电开关的出厂检测和产品调试。校验仪的工作原理是将一个可调的电阻穿入一个电压回路，从而产生可调的模拟电流，并串入漏电开关的工作回路，之后通过手动调节可调电阻，而改变电流，当电流升至规定值时，漏电开关脱扣，从而测得其动作电流。若电阻调至某个规定值，则输出电流也为一固定值，此时，将漏电开关串入电流回路，产品将在规定时间脱扣，此时间即为漏电动作时间。现有的漏电开关校验仪，它在校验仪存在以下几点缺陷:1.可调电阻寿命短；2.调节精度与人为因素关系大；3.不同规格的模拟电流，所需的可调电阻的功率和精度匹配较困难；4.不能实现远程或智能控制；5.模拟电流的上升速率不平稳。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的上述不足之处，本技术的目的在于提供一种漏电开关校验仪，采用多个可控硅程控接入固定电阻，实现阻值的调节。为了达到上述之目的，本技术采用如下具体技术方案:漏电开关校验仪，包括微控制器模块、所述微控制器模块的输入端分别连接有电源模块、漏电测量模块、时间测量模块和IO输入模块，其输出端分别连接有显示模块、电阻选通网络模块和辅助继电器输出模块，所述微控制器模块的输入输出连接有通讯模块，所述电阻选通网络模块还包括移位寄存器级联结构。所述漏电测量模块由电流互感器Tl将待测的交流电流，转换为等比例电流，并经二极管Dl、D2、D3、D4组成的全桥整流电路和并联的采样电阻R4和R5，转换为正弦半波脉动的直流电压IN-，直流电压IN-经由电阻R1、R2、R3和运放Ul组成的反向放大器，进行放大，并经由运放U2、U3、二极管D5、D6、D7、Cl和R6组成的峰值保持电路，最终通过RlO和C2组成的低通滤波器后，送入微控制器的电流测量端，微控制器输出的电流泄放信号，经由电阻R7、光耦U4隔离后，使+15V电压经过R8、U4、D8、R9后驱动开关管Ql。所述时间测量模块由IN-信号通过R11、R12、R13及运放U5组成的反向放大器，经稳压二极管D9，进入R14和C3组成的并联电路，得到含有一定纹波的直流信号，该信号经由R15、R16和运放U6组成的比较器，输出经电阻R17和稳压二极管DlO稳压，送入微控制器的时间测量端。所述电阻选通网络模块至少包括两组或两组以上，其电阻选通网络的输入端连接有发光二极管LEDl，发光二极管LEDl连接电阻R21，电阻R21连接光耦U7，光耦U7的输出两端分别连接电阻R22、电阻R23，并且与双向可控硅T2、电阻R24、电容C6、压敏电阻Yl、电阻R25，外置电压Vl经过T2和R25，得到相应比例的电流，该电流串入试品中。所述移位寄存器级联结构包括芯片ICl和芯片IC2，ICl和IC2按照级联方式连接，微控制器的串行数据信号disp_data和移位时钟信号disp_shift、锁存时钟信号disp_lock，分别连接到ICl和IC2的相应引脚，且这些信号输入前，经由R18、R19、R20电平上拉，并经过电容CS和C9滤波，ICl和IC2的输出将驱动所述电阻选通网络模块。与现有的技术相比，本技术具有以下突出优点和效果:本技术使传统的不可程控的漏电开关校验仪实现程控化，提高了测试仪的稳定性和精度，并可方便的应用于自动测试线中，在误差允许的范围内，最短Is的时间即可从起始电流升至终止电流，极大的提高产品的校验速度和校验效率，并且每个回路都有足够大的固定电阻接入，以及每个可控硅都有足够的耐压值，整套产品的故障率极低。附图说明图1为本技术的原理框图；图2为本技术漏电测量模块的电路图；图3为本技术时间测量模块的电路图；图4为本技术电阻选通网络模块的电路图；图5为本技术移位寄存器级联结构的电路图；以下结合附图对本技术作进一步的详细说明。具体实施方式为了进一步解释本技术的技术方案，下面通过具体实施例来对本技术进行详细阐述。如图1、图2、图3、图4、图5所示，漏电开关校验仪，包括微控制器模块、所述微控制器模块的输入端分别连接有电源模块、漏电测量模块、时间测量模块和IO输入模块，其输出端分别连接有显示模块、电阻选通网络模块和辅助继电器输出模块，所述微控制器模块的输入输出连接有通讯模块，所述电阻选通网络模块还包括移位寄存器级联结构。所述漏电测量模块由电流互感器Tl将待测的交流电流，转换为等比例电流，并经二极管Dl、D2、D3、D4组成的全桥整流电路和并联的采样电阻R4和R5，转换为正弦半波脉动的直流电压IN-，直流电压IN-经由电阻R1、R2、R3和运放Ul组成的反向放大器，进行放大，并经由运放U2、U3、二极管D5、D6、D7、Cl和R6组成的峰值保持电路，最终通过RlO和C2组成的低通滤波器后，送入微控制器的电流测量端，微控制器输出的电流泄放信号，经由电阻R7、光耦U4隔离后，使+15V电压经过R8、U4、D8、R9后驱动开关管Ql。所述时间测量模块由IN-信号通过R11、R12、R13及运放U5组成的反向放大器，经稳压二极管D9，进入R14和C3组成的并联电路，得到含有一定纹波的直流信号，该信号经由R15、R16和运放U6组成的比较器，输出经电阻R17和稳压二极管DlO稳压，送入微控制器的时间测量端。所述电阻选通网络模块至少包括两组或两组以上，其电阻选通网络的输入端连接有发光二极管LEDl，发光二极管LEDl连接电阻R21，电阻R21连接光耦U7，光耦U7的输出两端分别连接电阻R22、电阻R23，并且与双向可控硅T2、电阻R24、电容C6、压敏电阻Yl、电阻R25，外置电压Vl经过T2和R25，得到相应比例的电流，该电流串入试品中。所述移位寄存器级联结构包括芯片ICl和芯片IC2，ICl和IC2按照级联方式连接，微控制器的串行数据信号disp_data和移位时钟信号disp_shift、锁存时钟信号disp_lock，分别连接到ICl和IC2的相应引脚，且这些信号输入前，经由R18、R19、R20电平上拉，并经过电容CS和C9滤波，ICl和IC2的输出将驱动所述电阻选通网络模块，通过移位寄存器控制过零触发型光耦，驱动可控硅Tl至T12的通断，从而切入固定电阻R-1至R_n，R-1至R-n可视用户的要求采用普通电阻或低温漂电阻，其阻值的配置采用2的倍数依次递增，对于任意阻值，只需算好相应的编码，并发送给移位寄存器，即可输出相应电阻。对于阻值的改变，以Is为一单位，改变并发送相应编码，由于光耦固有的过零触发特性，可保证在每次过零时，刷新电阻值，并且保证了每个周波内，波形的完整和平滑，降低了失真度。对于模拟电流的上升，可设置起始电流和终止电流，以及起始电流至终止电流所需的上升时间。程序会自动计算电阻的变更速率，其变更方式可以是直线方式或斜线方式，其斜线方式采用斜率公式进行计算。权利要求1.漏电开关校验仪，其特征在于:包括微控制器模块、所述微控制器模块的输入端分别连接有电源模块、漏电测量模块、时间测量模块和IO输入模块，其输出端分别连接有显示模块、电阻选通网络模块和辅助继电器输本文档来自技高网...

【技术保护点】
漏电开关校验仪，其特征在于：包括微控制器模块、所述微控制器模块的输入端分别连接有电源模块、漏电测量模块、时间测量模块和IO输入模块，其输出端分别连接有显示模块、电阻选通网络模块和辅助继电器输出模块，所述微控制器模块的输入输出连接有通讯模块，所述电阻选通网络模块还包括移位寄存器级联结构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：闵小飘，郭亮，曾祥全，卢贤贵，王雅东，
申请(专利权)人：乐清市先驱自动化设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：