烘箱温度测试装置的连接结构制造方法及图纸

一种烘箱温度测试装置的连接结构，包括多条连接线，每条连接线均穿在扁平的橡胶软套中，每条连接线的一端焊接有温敏探头，另一端焊接有可以插接于温度处理和显示装置上的接插件，本实用新型专利技术能够保护长线，将处理和显示装置上安装匹配的接插单元后，能够在多个处理和显示装置上复用，大大提高了测试效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路高低温试验，特别涉及一种烘箱温度测试装置的连接结构。
技术介绍
烘箱是电子设备制造中常用的工具之一，用来烘干相应的胶体或者用来做产品高低温试验。在这些应用中，对于烘箱温度的控制是非常重要的。烘箱温度主要是依靠其自身的温度检测装置来实现检测，通过面板显示。然而由于烘箱长期工作在超高温或者超低温的情况下，其内部的检测元件极其容易老化，引起面板温度显示有误差。因此，要定期对烘箱内的实际温度进行检测，检测主要是用长线接温度探头，将温度探头悬置在烘箱中，长线引出到外部，通过长线另端连接的处理和显示装置查看温度。这种方式比较简便，但是如下问题:( I)长线从烘箱门的位置放入到烘箱内，在多次开合门的过程中，容易对长线造成损伤，损伤后需要重新利用长线焊接探头，费时费力；( 2 )长线直接从处理和显示装置焊接引出，一旦损坏，需要在处理和显示装置上重新焊接长线，此时需要将处理和显示装置拆开进行操作，比较麻烦。(3)长线固定于处理和显示装置上，但是，该处理和显示装置也可能出现误差，必须更换处理和显示装置进行复测时，需要另外焊接带探头的长线。(4)温度探头固定于长线上，温度探头也可能出现误差，必须更换温度探头进行复测时，需要另外焊接带处理和显示装置的长线。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种烘箱温度测试装置的连接结构。为了实现上述目的，本技术采用的技术方案是:一种烘箱温度测试装置的连接结构，包括多条连接线2，每条连接线2均穿在扁平的橡胶软套3中，每条连接线2的一端焊接有温敏探头4，另一端焊接有可以插接于温度处理和显示装置上的接插件I。与现有技术相比，本技术能够保护长线，将处理和显示装置上安装匹配的接插单元后，能够在多个处理和显示装置上复用，大大提高了测试效率。附图说明附图为本技术的卡环结构示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术进行更详尽的说明。如图所示，本技术为一种烘箱温度测试装置的连接结构，包括多条连接线2，每条连接线2均穿在扁平的橡胶软套3中，每条连接线2的一端焊接有温敏探头4，另一端焊接有可以插接于温度处理和显示装置上的接插件I。使用时，将带温敏探头4的一端放置于烘箱中，橡胶软套3对应在烘箱门的位置，在烘箱开关门的时候，由于橡胶软套3的作用，会对连接线2有一定的保护，而连接线2在橡胶软套3中呈单排设置，将对烘箱密闭性影响降到最低，接插件I插入到温度处理和显示装置的匹配接插单元上，即可实现测量。如果要对当前的温度处理和显示装置进行更换，则仅通过插拔接插件的操作即可实现，无需专门焊接。而如果对当前的温敏探头4的灵敏度产生怀疑，要对其进行测试，则也可以通过插拔接插件，利用当前的温度处理和显示装置以及另外的连接线2即可实现。权利要求1.一种烘箱温度测试装置的连接结构，包括多条连接线(2)，其特征在于，每条连接线(2)均穿在扁平的橡胶软套(3)中，每条连接线(2)的一端焊接有温敏探头(4)，另一端焊接有可以插接于温度处理和显示装置上的接插件(I)。专利摘要一种烘箱温度测试装置的连接结构，包括多条连接线，每条连接线均穿在扁平的橡胶软套中，每条连接线的一端焊接有温敏探头，另一端焊接有可以插接于温度处理和显示装置上的接插件，本技术能够保护长线，将处理和显示装置上安装匹配的接插单元后，能够在多个处理和显示装置上复用，大大提高了测试效率。文档编号G01K1/00GK203024871SQ20122063431公开日2013年6月26日 申请日期2012年11月26日 优先权日2012年11月26日专利技术者李程 申请人:西安威正电子科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种烘箱温度测试装置的连接结构，包括多条连接线（2），其特征在于，每条连接线（2）均穿在扁平的橡胶软套（3）中，每条连接线（2）的一端焊接有温敏探头（4），另一端焊接有可以插接于温度处理和显示装置上的接插件（1）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李程，
申请(专利权)人：西安威正电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：