一种用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法技术

本发明专利技术涉及量子保密通信领域，公开了一种基于单光子水平扫描的发送有限光子脉冲条件下提高相位调制器半波电压测量可信度的方法。该方法通过对光子计数统计起伏对半波电压测量可信度的分析，确定在发送有限光子脉冲条件下，为使相位调制器半波电压的测量在给定精度下达到一定可信度，单光子探测器在半波电压波峰需探测的光子数，从而提高测量数据的可信度。通过由不完善干涉导致的误码率求出允许相位误差，确定计数起始相位角，并通过统计方法获取光子计数与半波电压测量可信度的关系。该方法有效解决了光子计数统计起伏对测量可信度的影响，适用于常用的相位编码系统，为量子密钥分发系统提供了一种有实际应用价值的精确相位测量方案。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.设置单个相位扫描点所需发送的光子脉冲数N；S2.根据通信系统设置相关参数，包含平均每脉冲光子数μ、传输衰减率λ及探测器的平均探测效率η，分析计算每个光子从发送端到达探测器的概率x及探测器探测到光子的概率p；S3.设置不完善干涉引起的误码率阈值QBERopt和半波电压测量可信度y；S4.根据误码率阈值QBERopt计算出相位误差并计算出起始相位角S5.根据下式计算出达到半波电压测量可信度y，且误码率阈值QBERopt时所需探测到的光子数目k，y=Σθ=απCNk(xp)k(1-xp)N-kΣθ=0πCNk(xp)k(1-xp)N-k;S6.进行半波电压的扫描测量，验证探测器所探测的光子数是否达到探测光子数目k的探测要求；在半波电压扫描周期内，两探测器在各计数最高点其光子计数均在k以上，则满足探测要求，执行步骤S7；否则返回再次执行步骤S6；S7.对两探测器计数最高点对应的加载电压进行差值计算，得到相位调制器半波电压。FDA00002908341300011.jpg,FDA00002908341300012.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王赓，魏正军，陈文芬，郭莉，王金东，张智明，郭健平，刘颂豪，
申请(专利权)人：华南师范大学，
类型：发明
国别省市：