检测方法技术

本发明专利技术提供一种检测方法。此方法包括以下步骤：利用电压转换器接收交流电源并且转换成直流电源，再将直流电源供给至基板管理控制器与待测元件；其次，基板管理控制器接收待测元件的识别字串，并通过输入输出端口作输出；接着，检测系统接收及判断所接收到的识别字串与预设字串相同与否，并于当识别字串与预设字串相同时判断检测次数达到预设检测值与否；然后，当检测次数未达到预设检测值时，则停止供给交流电源至待测装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测技术，尤其涉及一种待测装置的。
技术介绍
现今网络技术趋于成熟，依赖网络来进行信息的传递与交换的比重越来越高，做为信息交换平台的伺服器的可靠度也越来越重要。伺服器具有冗余式磁盘阵列(RedundantArray of Independent Disks, RAID)卡,提供存储装置的容错功能,使得伺服器中存储的资料在部分毁损时得以恢复。伺服器在开机之后，使用者可以通过基本输入输出系统(Basic Input OutputSystem, BIOS)设定程序来了解目前硬件的设置状态。其中BIOS设定程序从RAID卡读取到硬盘的识别编号，因此使用者可以看到不同的硬盘的识别编号。例如伺服器具有标记为C、D、E的三个硬盘，第一次开机的硬盘顺序为C、D、E，而第二次开机的硬盘顺序可能变更为D、C、E,如此会造判别硬盘稳定的不确定性。由于RAID卡扫描硬盘的顺序和时间不是固定的，RAID卡将先扫描到的硬盘给予顺序在前的识别编号，这导致同一个硬盘在不同开机时间的BIOS设定程序中，存在不同的识别编号。如此一来，常令使用者困惑，是否作业系统中硬盘设定已经变更。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种，藉以解决现有技术所述及的问题。本专利技术提出一种，适用于至少一待测装置。此待测装置包括电压转换器、基板管理控制器、至少一待测元件与输入输出端口，且待测装置电性耦接至检测系统，而检测系统为接收及输出一交流电源。此包括:电压转换器接收交流电源；电压转换器将交流电源转换成直流电源，以供给至基板管理控制器与待测元件；基板管理控制器接收待测元件的识别字串并通过输入输出端口作输出；检测系统接收及判断识别字串与预设字串相同与否；当识别字串与预设字串相同时，则判断一检测次数达到预设检测值与否；以及当检测次数未达到预设检测值时，则停止供给交流电源至待测装置。在本专利技术的一实施例中，还包括:检测系统判断停止供给交流电源至待测装置达预设时间与否；以及当停止供给交流电源至待测装置达预设时间时，检测系统再次供给交流电源至待测装置。在本专利技术的一实施例中，当检测系统再次供给交流电源至待测装置时，则对检测次数加一。在本专利技术的一实施例中，当识别字串与预设字串不相同时，则输出一验证失败信肩、O在本专利技术的一实施例中，基板管理控制器接收待测元件的识别字串的步骤包括:判断在接收预设时间之内接收到识别字串与否；当在接收预设时间之内接收到识别字串时，则输出识别字串；以及当在接收预设时间之内未接收到识别字串时，则输出一验证失败信息。在本专利技术的一实施例中，还包括当检测次数达到预设检测值时，则输出一验证成功信息。基于上述，本专利技术采用检测系统来检测一待测装置。在待测装置接收到交流电源且运作时，检测系统可根据待测装置所传出的识别字串进行比对与验证，可以用来检测一待测装置的稳定性与可靠度。另外，使用者仅需设定检测次数与停止供给交流电源的预设时间即可得到完整的测试结果，大幅提升了稳定性测试的方便性与准确性。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1A是依照本专利技术一实施例的待测装置与检测系统的示意图。图1B是依照本专利技术另一实施例的待测装置与检测系统的示意图。图2是依照本专利技术一实施例的流程图。主要元件符号说明:10:检测系统20A、20B:待测装置22:电压转换器24:24_1、24_2、...、24_n:待测元件26:基板管理控制器28:输入输出端口30:交流电源供应器S201 S223:方法流程图各步骤具体实施例方式现将详细参考本专利技术的实施例，并在附图中说明所述实施例的实例。另外，凡可能之处，在附图及实施方式中使用相同标号的元件/构件代表相同或类似部分。图1A是依照本专利技术一实施例的待测装置与检测系统的示意图。待测装置20A包括电压转换器22、待测元件24、基板管理控制器26与输入输出端口 28，其中基板管理控制器26电性耦接至电压转换器22、待测元件24与输入输出端口 28。且检测系统10电性耦接至待测装置20A的电压转换器22与输入输出端口 28。而检测系统10接收来自交流电源供应器30或是市电的交流电源，并可控制所接收到的交流电源是否输出至待测装置20A，并且检测系统10系用来对待测装置20A进行检测。电压转换器22是用来接收由检测系统10所传送的交流电源，并且转换成直流电源后，供应至待测元件24和基板管理控制器26，以提供待测装置20A所需的电力。在待测元件24开始执行测试的程式或是待测元件24开始其驱动程式后，待测元件24可输出识别字串至基板管理控制器26。基于在一个接收预设时间之内，基板管理控制器26判断是否收到识别字串。若基板管理控制器26收到识别字串时，将识别字串通过输入输出端口 28输出至检测系统10作检测，否则基板管理控制器26通过输入输出端口 28而输出一验证失败信息，以使检测系统10得知在此段接收预设时间之内并未接收到识别字串。为了说明图1A的详细检测步骤，以下特举另一实施例来对本专利技术进行说明。图2是依照本专利技术一实施例的流程图，请合并参阅图1A和图2。如步骤S201所示，待测装置20A通过电压转换器22来接收交流电源。接着，如步骤S203所示，电压转换器22将接收到的交流电源转换成直流电源，并且将转换后的直流电源供应至基板管理控制器26与待测元件24。接着，如步骤S205所示，在待测元件24开始执行测试的程式或是待测元件24开始其驱动程式后，待测元件24会输出一识别字串，因此在本实施例中利用基板管理控制器26来接收待测元件24的识别字串，并且基板管理控制器26判断在接收预设时间之内接收到识别字串与否，其中此接收预设时间可定义为读取此识别字串的等待时间，可依照设计需求而定。倘若在接收预设时间之内未收到识别字串，表示超过等待时间而已经逾时(timeout)则不再进行读取，则如步骤S207所示，基板管理控制器26输出验证失败信息。倘若基板管理控制器26接收到识别字串，则直接输出识别字串。接着，如步骤S209所示，由检测系统10接收识别字串。接着，如步骤S211所示，检测系统10判断识别字串与预设字串相同与否。倘若判断识别字串的结果为与预设字串不相同，则如步骤S213所示，检测系统10输出验证失败信息。倘若判断识别字串的结果为与预设字串相同，如步骤S215所示，则检测系统10进一步判断检测次数达到预设检测值与否。倘若判断次数的结果为已达到预设检测值，则如步骤S217所示，检测系统10输出验证成功信息，此验证成功信息可以用来表示待测元件24达到稳定性规格。倘若判断次数的结果为未达到预设检测值，则如步骤S219所示，检测系统10停止供给交流电源至待测装置20A。更清楚来说，在步骤S219之后，如步骤S221所示，检测系统10会不中断地判断停止供给交流电源至待测装置20A达到预设时间与否。倘若停止供给的时间达到预设时间，则如步骤S223所示，对于检测次数加一，此一步骤主要是为记录识别字串的验证次数。然后回到步骤S201，重复另一循环如步骤S201至S223的检测流程。如此一来，检测系统10再次供给交流电源至待测装置20A，以重新进行识别字串的测试。值得一提的是，在步骤S215中所设定的预设检测值主要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测方法，适用于至少一待测装置，该待测装置包括一电压转换器、一基板管理控制器、至少一待测元件与一输入输出端口，且该待测装置电性耦接至一检测系统，而该检测系统为接收及输出一交流电源，其特征在于，该检测方法包括：该电压转换器接收该交流电源；该电压转换器将该交流电源转换成一直流电源，以供给至该基板管理控制器与该待测元件；该基板管理控制器接收该待测元件的一识别字串并通过该输入输出端口作输出；该检测系统接收及判断该识别字串与一预设字串相同与否；当该识别字串与该预设字串相同时，则判断一检测次数达到一预设检测值与否；以及当该检测次数未达到该预设检测值时，则停止供给该交流电源至该待测装置。

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，适用于至少一待测装置，该待测装置包括一电压转换器、一基板管理控制器、至少一待测元件与一输入输出端口，且该待测装置电性耦接至一检测系统，而该检测系统为接收及输出一交流电源，其特征在于，该检测方法包括: 该电压转换器接收该交流电源； 该电压转换器将该交流电源转换成一直流电源，以供给至该基板管理控制器与该待测元件； 该基板管理控制器接收该待测元件的一识别字串并通过该输入输出端口作输出； 该检测系统接收及判断该识别字串与一预设字串相同与否； 当该识别字串与该预设字串相同时，则判断一检测次数达到一预设检测值与否；以及 当该检测次数未达到该预设检测值时，则停止供给该交流电源至该待测装置。2.根据权利要求1所述的检测方法，还包括: 该检测系统判断停止供给该交流电源至该...

【专利技术属性】
技术研发人员：游乔智，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：