物品光电计数方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种物品光电计数方法及装置，所述方法包括如下步骤：S1、发射第一光线；S2、接受第二光线，并在接受到所述第二光线后，停止发射所述第一光线；S3、判断在停止发射所述第一光线的第一时段内，是否可接受到光线，若是，则认定所述第二光线为干扰光线，不作计数；若否，则认定所述第二光线为第一光线的反射光线，计数加一。本发明专利技术利用方波形式的发射光源，间隙性地发射用于技术的光线，并通过识别当前被接收到光线是有效光线还是干扰光源，从而保证计数的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电计数领域技术，尤其涉及一种可滤除外界干扰光源的物品光电计数方法及其装置。
技术介绍
光电传感计数(对射计数)已在各领域等到广泛应用。其基本原理是:光电计数装置设置有一红外光源，并对着所经过的物品发射光线，当有一个物品经过并遮挡住该红外光源后，便可反射回来一支光线，之后光电计数装置上的接收器便可感应此反射回来的光线，此时表明有一个物品通过，计数器便相应加一。然而，现有技术中，光电计数装置不免受到外界各种光源的干扰，以至于，在待计数物品未到达发射光源的位置时，干扰光源就被光电计数装置的接收电路所接收到，从而误将“干扰光源”当作“发射光”，这样势必造成光电计数装置的计数不准确。
技术实现思路
本专利技术所需解决的技术问题在于提供一种可滤除外界干扰光源的物品光电计数方法。相应地，本专利技术还提供一种应用上述方法的物品光电计数装置。为解决上述技术问题，本专利技术所采取的技术方案为: 一种物品光电计数方法，其包括如下步骤: 51、发射第一光线； 52、接受第二光线，并在接受到所述第二光线后，停止发射所述第一光线； 53、判断在停止发射所述第一光线的第一时段内，是否可接受到光线，若是，则认定所述第二光线为干扰光线，不作计数；若否，则认定所述第二光线为第一光线的反射光线，计数加一。作为本专利技术的进一步改进，所述方法具体包括: 配置以一定频率周期性发射所述第一光线，其中，在一个周期内，包括发射光线的第二时段和停止发射光线的第一时段。作为本专利技术的进一步改进，所述方法还具体包括: 获取单个物品从触及光线发射位置到脱离光线发射位置所需的第三时段； 设置所述第一时段小于所述第三时段。作为本专利技术的进一步改进，所述方法还具体包括: 自接受到所述第二光线起，定义一等于所述第三时段的第四时段； 在所述第四时段内，只作一次计数。作为本专利技术的进一步改进，所述第一光线只在接收到所述第二光线后的第一时段内停止发射，其它时段均保持发射状态。此外，一种物品光电计数装置，其包括:一用于发射第一光线的发射模块；一用于接受第二光线的接收模块；其中，该装置在接受到所述第二光线后，停止发射所述第一光线；以及一干扰判断模块、其用于判断在停止发射所述第一光线的第一时段内，是否可接受到光线，若是，则认定所述第二光线为干扰光线，不作计数；若否，则认定所述第二光线为第一光线的反射光线，计数加一。作为本专利技术的进一步改进，所述装置还用于:配置以一定频率周期性发射所述第一光线，其中，在一个周期内，包括发射光线的第二时段和停止发射光线的第一时段。作为本专利技术的进一步改进，所述装置还用于:获取单个物品从触及光线发射位置到脱离光线发射位置所需的第三时段；设置所述第一时段小于所述第三时段。作为本专利技术的进一步改进，所述装置还用于:自接受到所述第二光线起，定义一等于所述第三时段的第四时段；在所述第四时段内，只作一次计数。作为本专利技术的进一步改进，所述第一光线只在接收到所述第二光线后的第一时段内停止发射，其它时段均保持发射状态。根据以上技术方案可以看出，本专利技术利用方波形式的发射光源，间隙性地发射用于技术的光线，并通过识别当前被接收到光线是有效光线还是干扰光源，从而保证计数的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施例或现有技术的技术方案，下面将对本专利技术具体实施例或现有描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下述附图仅为本专利技术的一部分附图，对于本领域普通技术人员而言，在不作出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术物品光电计数的基本原理 图2是本专利技术一实施方式中物品光电计数方法的流程示意 图3是本专利技术一实施方式中用于计数的发射光线的波形 图4是本专利技术另一实施方式中用于计数的发射光线的波形 图5是本专利技术一实施方式中物品光电计数装置的模块示意图。具体实施例方式以下将结合附图所示的具体实施方式对本专利技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本专利技术，基于本专利技术的各实施例，本领域的普通技术人员在未作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，均应包含在本专利技术的保护范围内。参图1所示，本专利技术的光电计数装置10应用于生产线、物品传输带等场合，对以一定速度流动的物品(A、B、C、D、E、F)进行计数。光电计数装置包括MCU、发射管、接收管、以及一些外围电路组成，其中，光电计数装置10的发射管发射出的发射光线2 (可为红外线)在被物品遮挡住后，会反射回来一支反射光线3，并被光电计数装置10内部的接收管(光感应器)所感知，此后计数器加一，从而实现物品计数功能。参图2所示，在本专利技术一具体实施方式中，所述物品光电计数方法，包括如下步骤: S1、发射用于计数的第一光线(可为红外线)； S2、接受第二光线，并在接受到所述第二光线后，停止发射所述第一光线； 本专利技术中，第二光线有两种可能性:一是上述第一光线被待计数的物品遮挡后反射形成的反射光线，另一种可能性即是干扰光源，包括室内灯泡、太阳光等。若将此干扰光源误当作反射光，那实际物品数量就会偏大。S3、判断在停止发射所述第一光线的第一时段内，是否可接受到光线，若是，则认定所述第二光线为干扰光线，不作计数；若否，则认定所述第二光线为第一光线的反射光线，计数加一。参图3所示，在本专利技术第一实施方式中，上述第一光线被配置为以一定频率周期性发射(方波形式)，其中，在一个周期t内，包括发射第一光线的tl时段和停止发射光线的t2时段。本专利技术中光线的发射频率必须设置的足够快，以避免在停止发射光线的t2时段内，有一个或者多个物品已经从光线发射位置处“溜走”，导致计数不准确(遗漏计数)。于是，本实施方式中，该方法具体还包括如下步骤: S4、获取单个物品从触及光线发射位置到脱离光线发射位置所需的时间(记为t4);此步骤的t4可通过测试传送带的运行速度和物品的尺寸来计算。S5、设置所述t2时段小于所述t4时段，以避免遗漏计数的情况。此外，于本专利技术中，假设待计数的物品的流动速度不是很快，或者待计数的物品的尺寸足够大，那么在第一光线的发射频率足够快的情况下，可能导致同一个物品上，出现多次反射光被接收的状况。例如，某周期的发射时段tl内，刚好接收到一支由物品C遮挡发射的第二光线，此后，进入该周期的停止时段t2，之后便是进入下一个发射周期的发射时段tl，此时，若在本tl时段内，物品C仍然可以遮挡到发射的第一光线，那么接收管便会相应地接收到同一物品发射回来的第二次光线，那么若按照一次有效的反射光计数一次的原贝U，假如两次或者两次以上的同一物体的反射光均有效的话，那势必需要对同一物体进行多次计数，这样也导致计数不准确。于是，在本专利技术具体实施方式中，上述方法还具体包括如下步骤: S6、在自接受到所述第二光线起算的一段t5时间内，只作一次计数，其中，t5=t4o优选地，上述的“接受到所述第二光线”必须是被判定为有效光线，即第一光线的发射光线，且必须是首次由当前物品反射回来的。值得一提的是，在本专利技术其他实施例中，上述以一定频率发射的第一光线并不一定为方波形式，其也可包括其他的波形，重要的是第一光线必须为间隙性发射的。接下来，请参图4所示，介绍本专利技术的发射光线的第二种实施方式。在本实施方式中，第一光线的发射不是以一固定频率进行发射，其也本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种物品光电计数方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1、发射第一光线；S2、接受第二光线，并在接受到所述第二光线后，停止发射所述第一光线；S3、判断在停止发射所述第一光线的第一时段内，是否可接受到光线，若是，则认定所述第二光线为干扰光线，不作计数；若否，则认定所述第二光线为第一光线的反射光线，计数加一。

【技术特征摘要】
1.一种物品光电计数方法，其特征在于，其包括如下步骤: 51、发射第一光线； 52、接受第二光线，并在接受到所述第二光线后，停止发射所述第一光线； 53、判断在停止发射所述第一光线的第一时段内，是否可接受到光线，若是，则认定所述第二光线为干扰光线，不作计数；若否，则认定所述第二光线为第一光线的反射光线，计数加一。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法具体包括: 配置以一定频率周期性发射所述第一光线，其中，在一个周期内，包括发射光线的第二时段和停止发射光线的第一时段。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还具体包括: 获取单个物品从触及光线发射位置到脱离光线发射位置所需的第三时段； 设置所述第一时段小于所述第三时段。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还具体包括: 自接受到所述第二光线起，定义一等于所述第三时段的第四时段； 在所述第四时段内，只作一次计数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一光线只在接收到所述第二光线后的第一时段内停止发射，其它时段均保持发射状态。6.一种物品光电计数装...

【专利技术属性】
技术研发人员：李照，
申请(专利权)人：苏州艾隆科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：