一种自相关仪制造技术

本发明专利技术公开了一种自相关仪，用于测量超短激光脉冲宽度，包括：入射参考小孔、楔形分光镜、第一直角反射镜、第二直角反射镜、扫描装置平台、抛物面镜、探测器以及控制装置，所述入射参考小孔用于等高平直入射的被测激光通过以形成入射光路，所述楔形分光镜位于所述入射光路上，其与所述入射光路的夹角为45°。本发明专利技术的自相关仪由于采用楔形分光镜代替了现有技术中采用的两片两面平行的分束片，使得自相关仪的光路结构简单，且楔形分光镜的两表面的多次反射形成的干涉场信号不再与出射光路重合在一起，从而使探测器能够检测到干净的自相关信号。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种自相关仪，用于测量超短激光脉冲宽度，其特征在于，包括：用于等高平直入射的被测激光(17)通过以形成入射光路(10)的入射参考小孔(23)；楔形分光镜(20)，位于所述入射光路(10)上，所述楔形分光镜(20)与入射光路(10)的夹角为45°；第一直角反射镜(21)，包括第一平面反射镜(211)和第二平面反射镜(212)；所述第一平面反射镜(211)位于所述入射光路(10)经所述楔形分光镜(20)反射后形成的第三光路(13)上，所述第三光路(13)与第一平面反射镜(211)的夹角为45°；所述第二平面反射镜(212)与第一平面反射镜(211)垂直以将所述第三光路(13)原方向返回形成第四光路(14)；第二直角反射镜(22)，包括第三平面反射镜(221)和第四平面反射镜(222)；所述第三平面反射镜(221)位于所述入射光路(10)经所述楔形分光镜(20)透射后形成的第一光路(11)上，所述第一光路(11)与第三平面反射镜(221)的夹角为45°；所述第四平面反射镜(222)与第三平面反射镜(221)垂直以将所述第一光路(11)原方向返回形成第二光路(12)；所述第二直角反射镜(22)设于可平行于所述第一光路(11)周期往复运动的扫描装置平台(31)上；抛物面镜(25)，位于所述第二光路(12)经所述楔形分光镜(20)反射后形成的光路上；探测器(40)，位于所述出射光路(16)经所述抛物面镜(25)聚光后的光路上以采集所述出射光路(16)聚焦后的光信号并将采集到的光信号转换成电信号；控制装置(41)，分别与所述探测器(40)和扫描装置平台(31)电连接以采集所述探测器(40)生成的电信号并控制所述扫描装置平台(31)的周期往复运动。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：熊桂生，张志刚，祝传文，王树雨，
申请(专利权)人：北京量子光通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：