光学式测距装置及搭载该装置的电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学式测距装置及搭载该装置的电子设备。该光学式测距装置具有：发光元件（32）、受光元件（33）、发光透镜（39）、受光透镜（40），在所述受光透镜（40）与所述受光元件（33）之间设有将通过所述受光透镜（40）会聚的光束的光轴方向改变而向所述受光元件（33）引导的第一反射面（43a）及第二反射面（41a），在所述第一反射面（43a）与所述第二反射面（41a）之间存在单一的介质。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光学式测距装置，其特征在于，具有：发光元件；检测由从所述发光元件射出、由测量对象物反射的光形成的光点位置的受光元件；对从所述受光元件输出的信号进行处理的信号处理部；由透光性树脂密封所述发光元件而形成的发光侧一次模制件部；由遮光性树脂一体地密封所述发光侧一次模制件部、所述受光元件及所述信号处理部而形成的二次模制件部；将从所述发光元件射出的光向所述测量对象物投射的发光透镜；将由所述测量对象物反射的光会聚的受光透镜；在包括所述发光透镜的发光侧光学系统与包括所述受光透镜的受光侧光学系统之间进行遮光的遮光壁；配置于所述受光透镜与所述受光元件之间、且将通过所述受光透镜会聚的光束的光轴方向改变而向所述受光元件引导的第一反射面及第二反射面，在所述第一反射面与所述第二反射面之间存在单一的介质。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：和田秀夫，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：