【技术实现步骤摘要】
本技术涉及LED参数测试领域,尤其涉及一种LED测试装置及系统。
技术介绍
为了考察LED在实际使用过程中,环境因素(比如振动)对其性能的影响,需要有相关试验设备来模拟实际使用环境,对LED进行振动可靠性测试,通过分析受试样品的故障原因与失效模式,指导产品的后续设计。目前通行的LED振动可靠性测试方法是:在同型号、同批次的LED产品中,抽取一定数量的样品,在试验前以及试验过程中测量其性能参数,根据相应的算法推算出该型号、该批次的LED预期性能。在振动可靠性测试过程中,当需要测量LED的性能参数时,则停止振动,并将支架上的LED样品依次拆下,逐个放置于积分球内进行测量,测量完毕后再将LED样品重新安装到支架上,继续后续试验。其存在的问题是:I)在整个可靠性测试过程中,需要反复安装、拆卸LED样品,增加了大量的人力和时间成本;2)在反复安装与拆卸的过程中,存在造成LED样品性能改变的不稳定因素而影响最终测试结果;3)在整个试验过程中,当需要测量LED样品的性能参数时,需要中断振动应力,这种发生在试验过程中的应力条件改变对整个试验结果的影响不可预知。
技术实现思路
本技术实 ...
【技术保护点】
一种LED测试装置,包括连接并为待测LED试件供电的供电单元,其特征在于,LED测试装置还包括:用于承载LED试件的承载体;用于带动承载体及其上的LED试件振动的振动发生器;底面设有通孔的遮光罩,所述承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件;以及安装于遮光罩上并采集遮光罩内的漫反射光线以对LED试件的光学参数进行测量的测光仪。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘岩,李永光,胡益民,曹广忠,敬刚,杨永刚,刘文斌,汤皎宁,张志甜,高文杰,袁文龙,张超,朱惠忠,梁荣,陆兆隆,
申请(专利权)人:深圳清华大学研究院,
类型:新型
国别省市:广东;44
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