穿透式X光管及反射式X光管制造技术

本发明专利技术揭示一种穿透式X光管及反射式X光管，该穿透式X光管包括一靶材及一滤波材料。该靶材包括至少一元素，该元素受激发后产生的X光包括Kα及Kβ的辐射能量，可照射一物体进行造影。该滤波材料可被该X光所穿过，该滤波材料具有一k边缘吸收能量，该k边缘吸收能量高于该元素的Kα辐射能量，但低于该元素的Kβ辐射能量。该滤波材料的厚度至少为10微米且少于3毫米。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种穿透式X光管及一种反射式X光管，尤其涉及可藉由滤波材料将不必要的辐射滤除的一种穿透式X光管及一种反射式X光管。
技术介绍
在采用以铝、钥、钇及铜等材料的低Z滤波材的医学造影方法中，可以藉由所谓铝等效滤波厚度来减少低能量的射线。基本上，此一铝滤波材的等效厚度的范围是0.5-12微米，用以滤掉低能量、长波长的X光，并减少可能对医学造影有害及不必要的辐射。不幸的是，这样的滤光器也过滤掉一大部分有用的X光。非破坏性检验通常不会另加滤波材料，但是当要以特定的Ka线的射线，对进行非破坏性检验造影的物品提供高品质的影像时，移除不必要的高能量的光子也是本专利技术的目的之一。在医学造影中，化学造影元素，例如是含碘、钆、钡的化合物，会因为其密度及原子数而对周边的软组织产生高的对比度。这些元素的原子数(碘的Z = 53，钡的Z = 56，钆的Z = 64)的重要性在于，相对于传统的X光能量光谱，K吸收边缘值是位于一较佳的能带上。碘的K边缘值是33.17keV (千电子伏特)，钡的K边缘值是37.44keV,钆的K边缘值是50.24keV。当X光光子能量稍微高于化学造影剂的K边缘能量时，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种穿透式X光管，包括：一靶材，包括至少一元素，该元素受激发后产生的X光包括Kα及Kβ的辐射能量，可照射一物体进行造影；以及一滤波材料，可被该X光所穿过，该滤波材料具有一k边缘吸收能量，该k边缘吸收能量高于该元素的Kα辐射能量，但低于该元素的Kβ辐射能量；其中该滤波材料的厚度至少为10微米且少于3毫米。

【技术特征摘要】
2011.10.28 TW 1001393901.一种穿透式X光管，包括: 一靶材，包括至少一元素，该元素受激发后产生的X光包括K a及Κβ的辐射能量，可照射一物体进行造影；以及 一滤波材料，可被该X光所穿过，该滤波材料具有一 k边缘吸收能量，该k边缘吸收能量高于该元素的Ka辐射能量，但低于该元素的Kβ辐射能量； 其中该滤波材料的厚度至少为10微米且少于3毫米。2.根据权利要求1所述的穿透式X光管，其中该靶材包括钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、锗、钇、铌、钥、钌、铑、钯、银、锡、钡、镧、铈、钕、钆、铽、镝、钦、铒、铥、镱、镏、铪、钽、钨、铼、铱、钼、金、钍、铀或其组合，或由包含上述材料或其组合所形成的元素、化合物、合金、金属间化合物或复合材料。3.根据权利要求1所述的穿透式X光管，其中该滤波材料包括钛、钇、钆、钌、钒、钐、钕、钍、钦、钯、钴、铈、铌、钽、钥、铜、铬、铱、铒、铑、铕、铟、铪、铷、铥、锌、锑、铽、锆、锰、锡、铼、银、鹤、镍、镉、镓、锝、锻、镝、铁、镱或其组合,或由包含上述材料或其组合所形成的元素、化合物、合金、金属间化合物或复合材料。4.根据权利要求1所述的穿透式X光管，其中该靶材的厚度介于5至500微米之间。5.根据权利要求1所述的穿透式X光管，该穿透式X光管是用作一X光显微镜的一 X光...

【专利技术属性】
技术研发人员：布鲁斯·布莱恩特·帕森斯，郑积杰，
申请(专利权)人：和鑫生技开发股份有限公司，
类型：发明
国别省市：