具有自动校正功能的X-射线成像方法技术

本发明专利技术公开了一种具有自动校正功能的X-射线成像方法，首先，X-射线源将点光源直接照射到平板探测器，平板探测器接受到图像信号；其次，图像信号经信号放大器放大后进入自动校正单元进行校正，自动校正单元输出信号I（x，y）和输入信号I0（x，y）的关系是I(x，y)=G0(x，y)×S(x，y)×I0(x，y)，这里（x，y）是图像空间坐标，G0(x，y)是探测器灵敏度校正函数，S(x，y)是系统自动校正函数；最后，校正后图像在经过数字图像处理单元处理后输出。本发明专利技术的方法使得成像系统在变化条件下，不需要重复校正，仍然可以成一个最佳的图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及X-射线成像方法。
技术介绍
通常我们的数字X-射线成像系统是用X-射线平板探测器(Flat Panel)接受直接投影的X-射线而成像。如果不考虑量子噪声，理想状态是当一个X-射线点光源直接照射到平板探测器时，理想平板探测器接受的信号强度所成的像是一个空间分布均匀的图像(通常可以采用简单的中值或低通滤波的方法方法来降低量子噪声)。由于实际的平板探测器上的每一个像素单元接受信号的灵敏度是不一样的，因此所成像的亮度是不均匀的。为此需要对每一个像素单元的灵敏度进行矫正。通常的方法是:将已知的不同入射辐射强度信号和输出电信号的关系采用线性拟合的方法、或非线性拟合的方法来进行校正。然而所有这些校正方法，都是成像系统在特定条件下面实现的，例如在特定的X-光源到探测器距离(SID)条件下等等。如果成像系统条件发生变化，该系统可能就需要做重新矫正，这样对我们实际的使用带来不方便。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题就是提供一种具有自动校正功能的X-射线成像方法，从而使得成像系统在不同的条件下避免了进行重复校正的工作，使得成像系统在变化条件下，不需要重复校正，仍然可以成一个最佳的图本文档来自技高网...

【技术保护点】
具有自动校正功能的X?射线成像方法，其特征在于：首先，X?射线源将点光源直接照射到平板探测器，平板探测器接受到图像信号；其次，图像信号经信号放大器放大后进入自动校正单元进行校正，自动校正单元输出信号I（x，y）和输入信号I0（x，y）的关系是I(x，y)=G0(x，y)×S(x，y)×I0(x，y)，这里（x，y）是图像空间坐标，G0(x，y)是探测器灵敏度校正函数，S(x，y)是系统自动校正函数；最后，校正后图像在经过数字图像处理单元处理后输出。

【技术特征摘要】
1.有自动校正功能的X-射线成像方法，其特征在于:首先，X-射线源将点光源直接照射到平板探测器，平板探测器接受到图像信号；其次，图像信号经信号放大器放大后进入自动校正单元进行校正，自动校正单元输出信号I (X，y)和输入信号Itl (X，y)的关系是I(X，y) =G0(x, y) XS(x, y) X 10 (x, y),这里(x, y)是图像空间坐标，G0 (x, y)是探测器灵敏度校正函数，S(x, y)是系统自动校正函数；最后，校正...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建锋，
申请(专利权)人：浙江康源医疗器械有限公司，
类型：发明
国别省市：