一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法技术

本发明专利技术公开了一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法，实验测定的结果可用于指导崩落法采矿生产，减少损失与贫化率。本发明专利技术采用的设备和材料为：便携式X射线发射机一台；有机玻璃材质放矿箱一个；X射线呈像胶片；坐标纸和X射线防护铅房；选用吸收系数不同的白云石颗粒、磁铁矿石颗粒分别做为岩石颗粒与矿石颗粒。经过放矿呈像过程及呈像时出现的黑度差后处理过程，确定黑度差所在位置的移动就代表了白云石散体内磁铁矿石颗粒的移动过程，从而完成测定松散矿岩内颗粒的移动过程。本发明专利技术通过实验室测定松散矿岩移动过程，找到松散矿岩颗粒的移动规律，进而优化采矿结构参数，充分回收矿产资源，提高矿山经济效益。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及崩落采矿测定松散矿岩颗粒移动过程的方法，特别是。
技术介绍
崩落采矿法特点是在松散岩石颗粒的覆盖下，对由爆破崩落的矿石进行采出。矿石与岩石直接接触，导致该方法在回采的过程中产生贫化与损失。因此，对松散矿岩颗粒移动过程的测定，是从根本上理解岩石颗粒向矿石混入过程与发生机理的重要内容。为了降低损失、贫化率，充分回收地下矿产资源，就必须搞清楚松散矿岩内颗粒的移动过程。到目前为止，还没有发现测定松散矿岩内颗粒移动过程的相关报道。
技术实现思路
本专利技术提供了，实验测定的结果可用于指导崩落法采矿生产，减少损失与贫化率。一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法，根据两种吸收系数不同的矿岩颗粒对X射线的衰减程度不同，造成呈像时的黑度值不同，以黑度值的不同，对两种矿岩颗粒进行识别与呈像，并凭借一系列黑度差所在位置发生移动的图片来测定松散矿岩颗粒的移动过程。本专利技术提供的一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法包括以下内容:a.测定设备及材料采用便携式X射线发射机一台，管电压可调范围50Kv至300Kv，管电流可调范围0.5mA至5mA，焦点尺寸1.5mmX 3.0mm,辐射角40° ;有机玻本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法，其特征在于该方法包括以下内容：a.测定设备及材料采用便携式X射线发射机一台，管电压可调范围50Kv至300Kv，管电流可调范围0.5mA至5mA，焦点尺寸1.5mm×3.0mm，辐射角40°；有机玻璃材质放矿箱一个，放矿箱底部开一个出矿口，顶部开放，用来装卸矿岩颗粒；X射线呈像胶片；坐标纸；X射线防护铅房，整个实验室测定过程都在防护铅房内进行，人员在X射线透照时位于防护铅房外；b.透照矿岩颗粒选取选用白云石与磁铁矿石两种吸收系数不同的矿岩颗粒，以白云石做为岩石颗粒，磁铁矿石做为矿石颗粒，将白云石散体颗粒装满放矿箱，在白云石散体内放入一个磁铁矿石颗粒；c.放...

【技术特征摘要】
1.一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法，其特征在于该方法包括以下内容: a.测定设备及材料 采用便携式X射线发射机一台，管电压可调范围50Kv至300Kv，管电流可调范围0.5mA至5mA,焦点尺寸1.5mmX3.0mm,福射角40° ;有机玻璃材质放矿箱一个，放矿箱底部开一个出矿口，顶部开放，用来装卸矿岩颗粒；X射线呈像胶片；坐标纸；X射线防护铅房，整个实验室测定过程都在防护铅房内进行，人员在X射线透照时位于防护铅房外； b.透照矿岩颗粒选取 选用白云石与磁铁矿石两种吸收系数不同的矿岩颗粒，以白云石做为岩石颗粒，磁铁矿石做为矿石颗粒，将白云石散体颗粒装满放矿箱，在白云石散体内放入一个磁铁矿石颗粒; c.放矿呈像过程 在防护铅房内，放置便携式X射线发射机，并接通射线机控制台，放置放矿箱、装入松散矿岩颗粒，再将裁剪到适当尺寸的X射线呈像胶片装入增感屏并紧贴在放矿箱背侧面，放矿箱正侧面对准X射线发射窗口，将X射线发射窗口对准放矿箱中心位置，使X射线穿透放矿箱内松散矿岩后能垂直透照在X射线呈像胶片上，X射线发射窗口至放矿箱距离在20cm至40cm之间，布设测定设备完成后，关闭防护铅房，测试人员在铅房外操控X射线控制台，调整X射线机管电压为150Kv、管电流为5mA、曝光时间1.5分钟，按下控制开关等待曝光倒计时结束，该次曝光结束后，打开防护铅房，取出增感屏内X射线呈像胶片并记为胶片1，放入显影液中进行15分钟的显影，显影后取出、风干定影，到此，该次透照呈像结束，打开出矿口放出100-500cm3的矿岩颗粒，将记为胶片2的X射线呈像胶片放入增感屏，关闭防护铅房，测试人员在铅房外操控X射线控制台，调整X射线机管电压为150Kv、管电流为5mA、曝光时间1.5分钟，按下控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：张国建，由希，
申请(专利权)人：辽宁科技大学，
类型：发明
国别省市：