一种宽波段可见光和近红外辐射同时测量的方法技术
【技术实现步骤摘要】
一种宽波段可见光和近红外辐射同时测量的方法
本专利技术涉及一种宽波段可见光和近红外辐射测量的方法，特别涉及一种宽波段可见光和近红外辐射同时绝对测量的方法。
技术介绍
光辐射的绝对测量在定量化遥感、气候监测、光电计量、光谱辐射计量等领域有重大意义，也是一切光电探测器件、光电测量仪器等定量化应用的基础。目前对于电信号的测量达到了很高的精度，而对于光子的测量精度远没有达到电子那么精确。光辐射的绝对测量和传递有两条途径，一是利用黑体作为标准辐射源，二是利用低温辐射计作为标准探测器。黑体的绝对辐射度可以根据普朗克辐射定律和国际温度标准来确定。低温辐射计是利用光热效应在液氦温度下利用电加热替代法实现绝对光辐射的测量。两者都需要建立一定的传递链路，从高精度的初级标准逐级传递到用户端。在当前光辐射的校准体系下，测量和传递过程的本质就是和上一级标准的比较。随着测量和传递链路的增加，其测量不确定度也会逐级累加而增大。从国外的研究成果来看，短波红外（1~2.5）μm初级光谱辐射测量精度达0.2%，而最终客户应用端的测量精度很难优于5%（参见美国NASAM.KingandR.Greens...
【技术保护点】
一种宽波段可见光和近红外辐射同时测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：A：近红外高功率脉冲激光经非线性晶体，倍频产生可见光波段的激光；B：将所述可见光波段的激光分成两路，一路提供同步信号，另一路用来产生“可见光—短波红外”非简并信号、空闲相关光子对；C：实现信号光、空闲光高效的耦合到探测器，由棱镜把泵浦激光、信号光、空闲光从空间上分开，并吸收掉泵浦光；D：信号光、空闲光分别用InGaAs?APD单光子探测器、Si?APD单光子探测器进行接收，将所述InGaAs?APD单光子探测器及所述Si?APD单光子探测器输出的电信号同时输入到双通道计数器，分别测量出两个通道的光子数；E...
【技术特征摘要】
1.一种宽波段可见光和近红外辐射同时测量的方法，利用非线性晶体的温度调谐技术产生宽光谱的相关光子对，其特征在于，包括以下步骤：A：近红外高功率脉冲激光经非线性晶体，倍频产生可见光波段的激光；B：将所述可见光波段的激光分成两路，一路提供同步信号，另一路激光作为泵浦光泵浦非线性晶体，通过参量下转换产生“可见光—短波红外”非简并的空闲光和信号光相关光子对；C：实现信号光和空闲光高效的耦合到探测器，由棱镜把泵浦光、信号光和空闲光从空间上分开，并吸收掉泵浦光；D：信号光、空闲光分别用InGaAs-APD单光子探测器、Si-APD单光子探测器进行接收，将所述InGaAs-APD单光子探测器及所述Si-APD单光子探测器输出的电信号同时输入到双通道计数器，分别测量出两个通道的光子计数；E：将InGaAs-APD单光子探测器输出的电信号一路直接进入时间幅度转换器，Si-APD单光子探测器输出电信号另一路通过精密延时模块后输入时间幅度转换器；F：时间幅度转换器把两路不同时间到达的电信号转换成幅度信号，再分别送入通道分析器和计数器，测量得到同步到达的脉冲计数；G：所述InGaAs-APD单光子探测器及所述Si-APD单光子探测器的光子计数和同步到达的脉冲计数的比值分别为所述Si-APD单光子探测器及所述InGaAs-APD单光子探测器的量子效率。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A中，由脉冲光纤激光器产生的近红外高功率脉冲激光或由窄线宽的单频激光经周期极化的非线性晶体倍频产生可见光波段...
【专利技术属性】
技术研发人员：史学舜，杨乐臣，陈坤峰，曾和平，李健军，刘玉龙，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：
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