【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电阻测定装置，尤其涉及一种电流校准电阻的测定装置及系统。
技术介绍
在利用数字电源控制芯片为中央处理器(Central Processing Unit,CPU)提供工作电压时，常需要校准数字电源控制芯片的内部电流。现有的方法是通过安装于电脑内的第一测试软件获取数字电源控制芯片的负载电流，并以该负载电流为基准；再通过安装于电脑内的第二测试软件获取数字电源控制芯片的内部电流，并通过人工的方法为数字电源控制芯片不断更换不同阻值的校准电阻进行调试，以使内部电流与负载电流保持一致。然而，该方法需要在测试过程中不断的更换校准电阻方可确定其精确的电阻值，需要花费较多的测试时间及成本。
技术实现思路
鉴于以上情况，有必要提供一种测试便捷的电流校准电阻的测定装置。另，还有必要提供一种电流校准电阻的测定系统。一种电流校准电阻的测定装置，用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值，所述电流校准电阻的测定装置包括控制器及与该控制器电性连接的数字电位器，控制该控制器用于获取数字电源控制芯片的负载电流与内部电流，该控制器用于比对所述负载电流及内部电流，并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值，数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流，以使所述内部电流与负载电流保持一致。一种电流校准电阻的测定系统，用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值，所述电流校准电阻的测定系统包括控制器、同时与该控制器电性连接的测试机及数字电位器，该测试机用于测得 数字电源控制芯片的负载电流与内部电流，该控制器与测试机通信以获取所述负载电流与内部电流，该控制器用于比对所述负载电流及...
【技术保护点】
一种电流校准电阻的测定装置，用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值，其特征在于：所述电流校准电阻的测定装置包括控制器及与该控制器电性连接的数字电位器，该控制器用于获取数字电源控制芯片的负载电流与内部电流，该控制器用于比对所述负载电流及内部电流，并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值，数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流，以使所述内部电流与负载电流保持一致。
【技术特征摘要】
1.一种电流校准电阻的测定装置，用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值，其特征在于所述电流校准电阻的测定装置包括控制器及与该控制器电性连接的数字电位器，该控制器用于获取数字电源控制芯片的负载电流与内部电流，该控制器用于比对所述负载电流及内部电流，并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值，数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流，以使所述内部电流与负载电流保持一致。2.如权利要求1所述的电流校准电阻的测定装置，其特征在于当数字电源控制芯片的内部电流与负载电流一致时，数字电位器的实时电阻值即为数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值。3.如权利要求1所述的电流校准电阻的测定装置，其特征在于所述控制器包括初始化引脚，所述数字电位器包括地址端子，所述初始化引脚与地址端子电性连接，以初始化所述数字电位器。4.如权利要求1所述的电流校准电阻的测定装置，其特征在于所述控制器依据数字电源控制芯片的负载电流与内部电流之间的电流差值，向数字电位器传送一电阻值调整数据，以改变该数字电位器的电阻值。5.如权利要求4所述的电流校准电阻的测定装置，其特征在于所述控制器包括数据引脚，所述数字电位器包括数据端子，所述数据引...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗奇艳，童松林，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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