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一种石英晶体微天平检测装置制造方法及图纸

技术编号:8592714 阅读:282 留言:0更新日期:2013-04-18 05:48
本发明专利技术公开了一种石英晶体微天平检测装置,包括底座、封盖、硅胶垫片和石英晶片;石英晶片位于底座凹槽内,其底端中心加工有上下两面分别设有上电极和下电极的石英晶片凹槽;硅胶垫片上下两面分别与封盖和底座相连,且石英晶片凹槽左右两端与硅胶垫片相连;进样口和出样口均与中心长通孔相连通;上电极由上弹簧针探头依次穿过第三硅胶通孔和上探头通孔引出,下电极由下弹簧针探头穿过下探头通孔引出。本发明专利技术提供了一种石英晶体微天平检测装置,该装置中的流通池可以重复利用,结构简单,且性能稳定,还实现了对石英晶体微天平的高频小型化,提高了其质量-频率灵敏度,可以完成对小分子或痕量物质的检测,且所需待检测物的最小样品量小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及传感检测
,尤其涉及一种石英晶体微天平检测装置
技术介绍
石英晶体微天平(Quartz Crystal Microbalance, QCM)是一种基于晶片表面附着质量变化导致谐振频率的变化而检测微量物质的传感器,具有灵敏度高、结构简单、成本低,特别是不需要样品标记等优点,在生物、化学等领域作为检测、分析的工具得到了广泛的应用。石英晶体微天平是由AT切的石英晶片以及固定在晶片两面的金属激励电极组成的。激励电极一般由两个分别焊接在晶片两面的管座引脚导出,连接到测试仪器或谐振电路上。把石英晶体微天平与流动注射分析技术相结合能够实现实时、快速的检测、分析,并且节省被测样品量。其技术关键为流通池的设计、制作,要求即能固定、密封石英晶片,又能导出固定在石英晶片两面的金属激励电极,同时又不能损害石英晶片的谐振特性。目前,市场常用的微天平基本频率为5MHz或10MHz,其晶片厚度为O.33mm或O. 17mm,直径为15mm左右。石英晶体微天平作为质量传感器使用,是基于公知的Sauerbery方程,对于相同单位面积的质量变化,其频率变化与基本频率的平方成正比。因此,提高石英晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种石英晶体微天平检测装置,其特征在于,包括底座(1)、封盖(4)、硅胶垫片(8)和石英晶片(12);所述底座(1)中心设有底座凹槽(2),所述底座凹槽(2)底端设有下探头通孔(3);所述封盖(4)上设有进样口(5)、出样口(6)和上探头通孔(7);所述硅胶垫片(8)上设有中心长通孔(9)和第三硅胶通孔(19);所述石英晶片(12)位于所述底座凹槽(2)内,且在石英晶片(12)底端中心设有开口向下的石英晶片凹槽;所述石英晶片凹槽上下两面分别设有上电极(15)和下电极(16);所述硅胶垫片(8)上下两面分别与封盖(4)和底座(1)相连,且石英晶片凹槽左右两端均与硅胶垫片(8)相连;所述进样口(5...

【技术特征摘要】
1.ー种石英晶体微天平检测装置,其特征在于,包括底座(I)、封盖(4)、硅胶垫片(8)和石英晶片(12); 所述底座(I)中心设有底座凹槽(2),所述底座凹槽(2)底端设有下探头通孔(3); 所述封盖(4)上设有进样ロ(5)、出样ロ(6)和上探头通孔(7); 所述硅胶垫片(8)上设有中心长通孔(9)和第三硅胶通孔(19); 所述石英晶片(12)位于所述底座凹槽(2)内,且在石英晶片(12)底端中心设有开ロ向下的石英晶片凹槽;所述石英晶片凹槽上下两面分别设有上电极(15)和下电极(16); 所述硅胶垫片(8)上下两面分别与封盖(4)和底座(I)相连,且石英晶片凹槽左右两端均与硅胶垫片(8)相连;所述进样ロ(5)和出样ロ(6)均与中心长通孔(9)相连通;所述上电极(15)由上弹簧针探头(13)依次穿过第三硅胶通孔(19)和上探头通孔(7)引出,下电极(16)由下弹簧针探头(14)穿过下探头通孔(3)引出; 所述中心长通孔(9)的横截面积大于石英晶片凹槽的横截面积,且小于石英晶片(12)顶端的表面积。2.根据权利要求1所述的石英晶体微天平检测装置,其特征在于,所述石英晶片(12)的厚度大于底座凹槽(2)的深度,且其顶端表面积比底座凹槽(2)的横截面积小。3.根据权利要求1所述的石英晶体微...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁金星黄佳张天
申请(专利权)人:东南大学
类型:发明
国别省市:

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