【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种游标卡尺。
技术介绍
对陶瓷各部位的厚度检测，目前市面上的标准量具不能完全满足使用要求。如测量高深尺寸器皿型的陶瓷内隔的厚度，标准的游标卡尺不能测量，使用深度尺或直尺至少要测量三次。其不足之处还有不能方便地测量各种异形陶瓷的尺寸，更不能测量异形陶瓷的局部厚度。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种操作简单方便，能够测量高深尺寸陶瓷器皿局部壁厚的游标卡尺。本技术的目的通过下述技术方案予以实现包括固定测量头安装座、游标装置、尺身、活动测量头和固定测量头，固定测量头安装座固定在尺身的一端，游标装置套装在尺身上，固定测量头安装在固定测量头安装座上，活动测量头安装在游标装置上；所述活动测量头呈弧形结构。所述固定测量头呈弧形结构。所述活动测量头与游标装置之间安装铰链，所述铰链设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置上。本技术的目的还可以通过以下方式实现包括固定测量头安装座、游标装置、尺身、活动测量头和固定测量头，固定测量头安装座固定在尺身的一端，游标装置套装在尺身上，固定测量头安装在固定测量头安装座上，活动测量头安装在游标装置上；所述活动测量头呈“U”形结构。所述固定测量头呈“U”形结构。所述活动测量头与游标装置之间安装铰链，所述铰链设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置上。与现有技术相比，本技术具有以下优点结构简单合理，操作简单易行。适合于测量各种异形陶瓷的尺寸，特别适合于用来测量高深尺寸陶瓷器皿各部位的局部厚度。附图说明图1为本技术实施例1-4结构示意图。图2为本技术实施例5-8结构示意图。图3为本技术测量高深器皿陶瓷内隔厚度的示意...
【技术保护点】
一种游标卡尺，包括固定测量头安装座（1）、游标装置（2）、尺身（4）、活动测量头（5）和固定测量头（6），固定测量头安装座（1）固定在尺身（4）的一端，游标装置（2）套装在尺身（4）上，固定测量头（6）安装在固定测量头安装座（1）上，活动测量头（5）安装在游标装置（2）上；其特征在于：所述活动测量头（5）呈弧形结构；所述固定测量头（6）呈弧形结构；所述活动测量头（5）与游标装置（2）之间安装铰链（3），所述铰链（3）设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置（2）上。
【技术特征摘要】
1.一种游标卡尺，包括固定测量头安装座(I)、游标装置(2)、尺身(4)、活动测量头(5)和固定测量头(6)，固定测量头安装座(I)固定在尺身(4)的一端，游标装置(2)套装在尺身(4)上，固定测量头(6)安装在固定测量头安装座(I)上，活动测量头(5)安装在游标装置(2)上；其特征在于所述活动测量头(5)呈弧形结构；所述固定测量头(6)呈弧形结构；所述活动测量头(5)与游标装置(2)之间安装铰链(3)，所述铰链(3)设置回位限位块，回位限位块安装在游标装置(2 )上。2...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶建军，
申请(专利权)人：湖南省醴陵市兆荣瓷业有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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