基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法。包括以下步骤：S1：获取待测土壤显微图像，并记录光照入射角度；S2：从所述待测土壤显微图像中选取M行N列个采样像素点，其中，M、N均为大于1的整数，根据所述光照入射角度，利用SFS算法得到各采样像素点高度值;S3：对所述各采样像素点高度值进行平滑处理；S4：对所述各采样像素点高度值进行高度校正；S5：计算得出待测土壤的孔隙度。本发明专利技术的土壤孔隙度的检测方法，通过恢复土壤表面三维结构来计算土壤孔隙度，比其他方法更加快速而准确。而且可以大幅缩短相关研究的试验周期，提高相关研究结果的准确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及土壤检测
，尤其涉及一种基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法。
技术介绍
土壤孔隙度及颗粒组成是土壤重要的物理性质参数，是研究土壤最基础的数据资料，尤其是在土壤模型研究和土工试验方面。其中颗粒分布与土壤结构、土壤质地有密切关系，孔隙度直接影响水气二相在土体中的迁移与根系在土壤中的生长。目前，测量土壤孔隙度的方法主要分为两种，一种是传统的实验法；一种是计算机图形学方法。传统的实验法以烘干法为代表，实验步骤为首先用环刀取所需土样并称重，然后放入烘箱中于105°C下烘干24小时，取出后称重。计算过程如下1、土壤容重的计算

【技术保护点】
一种基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取待测土壤显微图像，并记录光照入射角度；S2：从所述待测土壤显微图像中选取M行N列个采样像素点，其中，M、N均为大于1的整数，根据所述光照入射角度，利用SFS算法得到各采样像素点高度值;S3：对所述各采样像素点高度值进行平滑处理；S4：对所述各采样像素点高度值进行高度校正；S5：计算得出待测土壤的孔隙度。

【技术特征摘要】
1.一种基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，包括以下步骤S1:获取待测土壤显微图像，并记录光照入射角度；52:从所述待测土壤显微图像中选取M行N列个采样像素点，其中，M、N均为大于I的整数，根据所述光照入射角度，利用SFS算法得到各采样像素点高度值；53:对所述各采样像素点高度值进行平滑处理；54:对所述各采样像素点高度值进行高度校正；55:计算得出待测土壤的孔隙度。2.如权利要求1所述的基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，所述步骤 SI在获取待测土壤显微图像时，光源采用矩阵LED光源。3.如权利要求1所述的基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，所述步骤 S2在计算各采样像素点高度值时，采用雅克比迭代法进行计算。4.如权利要求1所述的基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，所述步骤 S2选取采样像素点时，选取所述待测土壤显微图像的全部像素点作为采样像素点。5.如权利要求1所述的基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，所述步骤 S2选取采样像素点时，所述M行N列采样像素点的行距与列距相等。6.如权利要求1所述的基于SFS算法的土壤孔隙度检测方法，其特征在于，所述步骤 S...

【专利技术属性】
技术研发人员：温维亮，郭新宇，王虓，王传宇，吴升，
申请(专利权)人：北京农业信息技术研究中心，
类型：发明
国别省市：