【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及精密仪器
，特别是涉及一种基于嵌入式图像信息处理技术的 测角装置和方法。
技术介绍
自准是一种高精度的角度测量方法，它将光学自准直成像技术和图像处理技术相 结合，实现一定范围内平面角度的微量变化的精密测量。在实现小角度的多维、非接触测量 中具有独特的优点，被广泛应用于导轨平台的直线度、精密平台的平面度等测量领域，是机 械、计量、科学研究等部门必备的常规测量仪器，在精密、超精密测量方面有极为重大的作 用。精密光机工程的发展对测角精度、便捷性和移动性要求越来越高，因此对光电自 准直仪准的要求也越来越高。而与此同时，国内、外的相关产品在移动性或精确程度上都有 或多或少的不足之处，特别是应用于航空航天、船舶、军工等要求精密度极高、应用环境特 殊的行业，例如超精密机械加工工业的质量保证(平直度、平面度、垂直度、平行度等)、计量 检定行业中，角度测试标准、棱镜角度定位及监控、光学元件的测试及安装精度控制等等。 光学自准直方式直接或利用测微装置或可动分划板从分划板或读数鼓轮上读出角度的分 值和秒值。采用这种方式，仪器精度显然难于满足很多应用场合的要求。而光...
【技术保护点】
一种基于嵌入式图像信息处理技术的测角装置，包括光源（1）、平行光管、物镜（3）和分光棱镜（5），所述光源（1）发出的光通过平行光管上方的小孔（2）射入平行光管经过分光棱镜（5），再通过物镜（3）射到需要测量的反射面（6），其特征在于，所述反射面（6）反射后的光线经过分光棱镜（5）射到CMOS成像模组（4），所述CMOS成像模组（4）将收到的反射光点图像通过外围接口电路（9）传输到的嵌入式中央处理器（10）和光电触摸显示器（11），所述嵌入式中央处理器（10）对采集到的两个检测面的反射光点图像进行预处理，利用光点的强度和形状特征，搜索图像中的光点，并对检测出的目标区域进行锁定...
【技术特征摘要】
1.一种基于嵌入式图像信息处理技术的测角装置，包括光源(I)、平行光管、物镜(3)和分光棱镜(5 )，所述光源(I)发出的光通过平行光管上方的小孔(2 )射入平行光管经过分光棱镜(5)，再通过物镜(3)射到需要测量的反射面(6)，其特征在于，所述反射面(6)反射后的光线经过分光棱镜(5)射到CMOS成像模组(4)，所述CMOS成像模组(4)将收到的反射光点图像通过外围接口电路(9)传输到的嵌入式中央处理器(10)和光电触摸显示器(11)，所述嵌入式中央处理器(10)对采集到的两个检测面的反射光点图像进行预处理，利用光点的强度和形状特征，搜索图像中的光点，并对检测出的目标区域进行锁定，再对光点进行精确定位，根据两帧反射光点图像计算出光点的相对位置关系，得到两个检测面的偏移角度。2.根据权利要求1所述的基于嵌入式图像信息处理技术的测角装置，其特征在于，所述嵌入式中央处理器(10)为由cortex-A8架构的嵌入式ARM中央处理器；嵌入式ARM中央处理器采用Android操作系统，应用开发是基于Android操作系统提供的JAVA虚拟机环境，并统一使用应用程序接口实现图像的采集控制、滤波、光点定位、角度计算及显示控制。3.根据权利要求1所述的基于嵌入式图像信息处理技术的测角装置，其特征在于，所述平行光管放置在多向可调节底座(8 )上。4.根据权利要求1所述的基于嵌入式图像信息处理技...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟平，胡睿，张康，谭庆新，叶韬，杨晓冬，张常鹏，
申请(专利权)人：东华大学，
类型：发明
国别省市：
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