一种双屏兼多频投影条纹的三维形貌测量仪及测量方法技术

一种双屏兼多频投影条纹三维形貌测量仪及测量方法，包括显卡DVI和显卡VGA连在计算机的主板上，投影仪经转换接头与显卡DVI插槽连接；主监视器与显卡VGA连接，CCD摄像机通过图像采集卡连接到计算机的主板；主监视器与计算机显卡VGA插槽连接并且将Windows桌面扩展到该监视器上产生副监视器（虚拟屏幕），虚拟屏幕作为副显示器，主屏幕和虚拟屏幕组成双屏显示系统。计算机在虚拟屏幕上产生多频相移正弦条纹，经投影仪投射到物体表面，同时在虚拟屏幕内同步触发CCD摄像机采集图像，投影条纹依次循环产生相移。在经过多频条纹图像处理计算得到不连续物体表面的三维形貌，通用性和可靠性好，可实现动态、自动化测量要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电无损检测仪器与技术，涉及一种双屏&多频投影条纹的三维形貌测量仪及其测量方法。
技术介绍
三维形貌光学测量技术发展从早期的影栅云纹法发展到投影栅线法，直到现在流行的投影条纹法。与机械形貌计相比，这些光学测量方法具有非接触、无损、精度高的特点，已经开始应用于人体医学、汽车工业和显微器件等形貌测量领域。特别是投影条纹法还具有以下明显优势由计算机产生栅线来替代物理光栅，可实现栅线频率和相移量的任意可变，一般采用三步或四步相移法可实现高精度的三维形貌测量。现今的投影栅线三维形貌测量仪由两部分组成，一是投影仪将计算机产生的光栅投影到物体表面，二是CCD摄像机将经物体高度调制后的变形栅线采回到计算机中，进行相移、去包裹等图像处理算法后，得到物体的三维形貌。这类相移投影栅线形貌测量仪普遍存在以下缺点1.将计算机生成的栅线画在监视器屏幕上，由投影仪将监视器屏幕投射出去。在整个栅线投射过程中，监视器屏幕被占用、不能执行任何鼠标操作，无法实时调整投影仪和CCD摄像机上的变焦镜头，也无法实时检查采集回来的图像质量是否满足相移法的要求。2.投影仪投射栅线和C⑶摄像机采集图像不同步，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双屏兼多频投影条纹的三维形貌测量仪，其特征在于，该三维形貌测量仪包括计算机（1）、显卡DVI（2）、投影仪（3）、显卡VGA（4）、监视器（5）、图像采集卡（6）、CCD摄像机（7）和副监视器（8），显卡DVI（2）和显卡VGA（4）连在计算机（1）的主板上，投影仪（3）经转换接头与显卡DVI（2）插槽连接；主监视器（5）与显卡VGA（4）连接，CCD摄像机（7）通过图像采集卡（6）连接到计算机（1）的主板；主监视器（5）与计算机显卡VGA插槽连接并且将Windows桌面扩展到该监视器上产生副监视器（虚拟屏幕），虚拟屏幕作为副显示器（8），由主监视器（主屏幕）和副显示器（虚拟屏幕）组成双屏...

【技术特征摘要】
1.一种双屏兼多频投影条纹的三维形貌测量仪，其特征在于，该三维形貌测量仪包括计算机(I)、显卡DVI (2)、投影仪(3)、显卡VGA (4)、监视器(5)、图像采集卡(6)、C⑶摄像机(7)和副监视器(8)，显卡DVI (2)和显卡VGA (4)连在计算机(I)的主板上，投影仪(3) 经转换接头与显卡DVI (2)插槽连接；主监视器(5)与显卡VGA (4)连接，CXD摄像机(7) 通过图像采集卡(6)连接到计算机(I)的主板；主监视器(5)与计算机显卡VGA插槽连接并且将Windows桌面扩展到该监视器上产生副监视器(虚拟屏幕)，虚拟屏幕作为副显示器(8)，由主监视器(主屏幕)和副显示器(虚拟屏幕)组成双屏显示系统。2.根据权利要求1所述的三维形貌测量仪的测量方法，其特征包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷振坤，付敏瑞，王春莉，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：