电接触件和测试平台制造技术

根据本发明专利技术，提供了一种电接触件，其包括三个或更多个叶片从而促进通过部件的电接触件建立所述三个或更多个叶片的至少两个之间的电连接。还提供了一种适合于接收待测试电气部件的测试平台，其中测试平台包括一个或多个前述电接触件。还提供了一种测试机器部件，其包括保持器构件，该保持器构件包括任何一种前述电接触件，其中测试机器部件配置成使得它能够与该测试机器协作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电接触件和测试平台，具体地但不排他地涉及用于测试电气部件的电接触件和测试平台。
技术介绍
现有的测试电气部件的方法涉及将待测试部件定位在测试平台上。测试平台包括用于对电气部件供电的电接触件。一旦被供电，电气部件的性能被监测。基于电气部件的性能，可以确定电气部件是否有故障。 为了确保成功测试电气部件，要求部件的电接触件与测试平台上的电接触件电连接。因此该电气部件必须以特定的预定义取向定位在非常特定的预定义位置。以所述特定的预定义取向在测试平台上将电气部件地位在这种特定的预定义位置，这非常难以实现，特别是在其中测试操作高速实施并且存在许多运动中的机器零件的工业环境中。由于电气部件之间的物理变化，定位电气部件变得更加困难，例如由于制造阶段的模具偏移的原因而会发生电气部件之间的物理变化。图la-f说明实现为了确保电气部件7的电接触件与测试平台I上的电接触件电连接所要求的电气部件7的特定定位会有多么困难。图1所示测试平台I包括六个电学开尔文(Kelvin)接触件3a_3f。每个电学开尔文接触件3a_3f包括“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b。在电气部件7的测试期间，“I”叶片5a形成信号供应端子并且相对的“L”叶片5b形成信号感测端子(或者反之亦然)。待测试电气部件7包括销9a_f形式的六个电接触件。为了使能实现电气部件7的测试，电气部件7必须定位在平台I上，使得每个销9a-f建立测试平台I上的每个相应电接触件3a-3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。在电气部件7的测试期间，在每个电接触件3a_3f处，测试信号由“I”叶片5a(即形成信号供应端子的叶片)传输，通过销9a_f，并且被传输到相对的“L”叶片5b (即形成信号感测端子的叶片)中。在每个信号感测端子处，测试信号被感测以确定销9a_f是否按预期传输和/或改变测试信号。在每个所述六个销9a_f处电气部件7的性能因此可以被确定。图1(a)示出当位于用于测试所要求的特定的预定义位置和取向时的电气部件7。在此位置，每个销9a_f建立测试平台I上的每个相应电接触件3a_3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。在该位置，电气部件7可以如前所述被测试。图1(b)示出沿着Y轴在第一方向被偏移的电气部件7。在此位置，每个所述销9a-f未能建立测试平台I上的每个电接触件3a_3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。图1(c)示出沿着Y轴在第二方向被偏移的电气部件7。在此位置，销9a_f未能建立测试平台I上的每个相应电接触件3a-3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。图1(d)示出沿着X轴在第一方向被偏移的电气部件7。在该位置，销9a、9b和9c未能建立测试平台I上的电接触件3a,3b和3c中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。图1(e)示出沿着X轴在第二方向被偏移的电气部件7。在该位置，销9c、9d和9f未能建立测试平台I上的电接触件3d、3e和3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。图1(f)示出电气部件7，该电气部件7未以正确取向定位在平台I上；电气部件7相对于平台I被旋转。在此位置，销9c和9d未能建立测试平台I上的电接触件3c和3d中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。已经采取许多措施，通过电气部件7的电接触件，促进测试平台I上的电接触件3a-f中的叶片5a、5b之间的电连接的建立。在图2(a)_2(f)中说明一种这样的措施。不同于图l(a)-l(f)中说明的平台1，图2中说明的平台10包括六个电接触件30a-30f，其中·每个电接触件30a-30f包括两个平行的“I”叶片50a、50b。每个叶片50a、50b具有纵向配置，并且包括平面的表面51，当芯片7定位在平台10上用于测试时，该平面的表面51平行于芯片7的平面52。用于测试电气部件7的原理与针对图1所示平台I描述的原理相同。因而，要求待测试电气部件7被定位，使得每个销9a-f建立测试平台10上的每个相应电接触件30a-30f中的所述两个“I”叶片50a、50b之间的电连接。在电气部件7的测试期间，在每个电接触件30a-30f处，信号从第一“I”叶片50a(其推动所述电信号)被传递通过销9a_f，并且被第二“I”叶片50b测量(该第二“I”叶片50b感测该电信号，或者反之亦然)。在每个所述六个销9a-f处电气部件7的性能因而可以被确定。图2(a)示出当在平台10上位于理想测试位置时的电气部件7。在此位置，每个销9a-f建立测试平台10上的每个相应电接触件30a-30f中的两个平行“I”叶片50a、50b之间的电连接。在此位置，电气部件7可以如前所述被测试。从图2(d)_(f)明显的是，由于每个电接触件30a_30f中的两个“I”叶片50a、50b的配置，电气部件7的销9a-f可以成功建立每个电接触件30a-30f中两个平行“I”叶片50a、50b之间的电连接，即使当电气部件7沿着X轴偏移(见图2(d)和2(e))或相对于平台10旋转(见图2(f))时。特别地，当电气部件7沿着X轴偏移(见图2(d)和2(e))或相对于平台10旋转(见图2(f))时，两个“I”叶片50a、50b的平行配置和每个“I”叶片50a、50b的纵向配置均促进通过销9a-f建立每个电接触件30a-30f中两个平行“I”叶片50a、50b之间的电连接。每个叶片50a、50b的平面的表面51也促进电连接的建立，因为平面的表面51增大了每个叶片50a、50b中可用的可以用于与该叶片50a、50b建立电接触的接触面积。因而，即使当电气部件7从理想测试位置偏移时，该电气部件7仍然可以被测试。然而，即使图2(a)_(f)中说明的措施通过电气部件7的销9a_f来促进建立测试平台I上的电接触件3a_f的叶片5a、5b之间的电连接，该措施仍然不是令人满意的，因为当电气部件7沿着Y轴偏移时，销9a-f仍未能成功地建立每个电接触件30a-30f中的两个平行“I”叶片50a、50b之间的电连接。图2(b)和2 (c)说明当电气部件7沿着Y轴偏移时的情形。因而，提供包括两个平行“I”叶片50a、50b的电接触件30a_f，并且每个所述叶片包括平面的表面，当电气部件7沿着X轴偏移或者相对于平台10旋转时，这在促进建立用于部件7的测试所需的电连接中是有效的。然而，当电气部件7沿着Y轴偏移时，这种电接触件30a_f并不促进通过销9a_f建立测试平台I上电接触件3a_f的叶片5a、5b之间的电连接。本专利技术的目的是克服或减轻一个或多个前述缺点。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面，提供了一种电接触件，其包括三个或更多个叶片，从而通过部件的电接触而促进建立所述叶片的至少两个之间的电连接。根据本专利技术的另一方面，提供了一种适合于接收待测试部件的测试平台，其中该测试平台包括一个或多个电接触件，每个所述电接触件包括三个或更多个叶片，从而通过部件的电接触而促进建立所述三个或更多个叶片的至少两个之间的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.30 MY PI20100045831.一种电接触件，其包括三个或更多个叶片从而促进通过部件的电接触件建立所述三个或更多个叶片的至少两个之间的电连接。2.根据权利要求1的电接触件，其中所述三个或更多个叶片纵向地延伸。3.根据权利要求1或2的电接触件，其中所述三个或更多个叶片平行布置。4.根据任一前述权利要求的电接触件，其中所述三个或更多个叶片的一些或全部包括平面的表面。5.根据权利要求4的电接触件，其中该平面的表面配置成使得它平行于电气部件的平面，该电气部件能与电接触件协作操作。6.根据任一前述权利要求的电接触件，其中所述三个或更多个叶片布置成定义两个或更多个隔离沟道，所述沟道配置成使每个所述三个或更多个叶片彼此电隔离。7.根据权利要求6的电接触件，其中每个所述三个或更多个叶片的宽度为使得所述两个或更多个隔离沟道中的两个的组合宽度加上单个叶片的宽度小于电气部件的电接触件的宽度。8.根据任一前述权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄建益，张锡海，
申请(专利权)人：伊斯梅卡半导体控股公司，
类型：
国别省市：