一种调制精度的估计方法及装置制造方法及图纸

技术编号:8536659 阅读:191 留言:0更新日期:2013-04-04 21:28
本发明专利技术公开了一种调制精度估计方法及装置,用以实现准确且简单易行的调制精度指标估计。该方法为:确定测试信号与参考信号的同步位置,根据同步位置确定至少一路测试数据;针对任一路测试数据,利用参考信号计算频偏值和相偏值并对测试数据进行频偏和相偏补偿;使用频偏和相偏补偿后的测试数据及参考信号计算测试信号的原点偏移、幅度修正因子;对频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除;使用参考信号计算幅度修正、原点偏移消除后的测试数据的均方误差矢量幅度;确定各路测试数据对应的RMSEVM中的最小值,根据该最小值对应的一路测试数据在计算RMS?EVM过程中的各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信
,尤其涉及射频一致性测试中一种调制精度的估计方法及装置
技术介绍
随着移动通信技术的快速发展,出现了支持多种通信制式的终端产品,目前各终端生产厂商已经开发出了支持全球移动通信系统(GSM)、宽带码分复用多址(Wideband Code Division Multiple Access, WCDMA)、时分复用同步码分多址(TimeDivision-Synchronous Code Division Multiple Access, TD-SCDMA)、长期演进(LongTerm Evolution, LTE)等多种制式的终端产品。在这些终端产品入网之前,需要进行一致性测试,其中射频一致性测试是其中最基本的测试项目,也是进行其他测试的基础。 在射频一致性测试协议中,频偏和调制精度的测试是其中重要的测量项目。误差矢量幅度(Error Vector Magnitude, EVM)是调制精度测试的重要指标,在高阶调制(例如8PSK (Phase Shift Keying,相移键控)调制、16QAM (Quadrature Amplitude Modulation,正交幅度调整))时,还需要估计和消除误差矢量中的原点偏移成分,在有的制式或标准中,也将原点偏移抑制(OriginOffset Suppression, 00S)作为调制精度的测试指标。其中,原点偏移也称为IQ (In-phase/Quadrature-phase)偏移或者载波泄露,其代表了信号中的直流分量,表现在星座图上就是原点位置发生了偏移。此外,在进行调制精度测量之前,必须进行频偏测量和校正,频偏测量和校正是调制精度测量的一个前提条件。目前,一般的EVM测量是通过迭代的方法对测试信号进行频偏、相偏、原点偏移和调制幅度估计以及补偿的,但是采用迭代的方法需要的参数很多,实现复杂。也有的EVM测量是通过比较复杂的二元线性回归拟合同时估计出原点偏移和IQ不平衡(In-phase/Quadrature-phase Imbalance),并进行补偿,该方法测得的EVM值可能会偏小,从而与协议的要求不一致。由此可见,需要提出一种准确且简单易行的调制精度估计方法。
技术实现思路
本专利技术提供一种调制精度估计方法及装置,用以实现准确且简单易行的调制精度有关指标的估计。本专利技术实施例提供的具体技术方案如下一种调制精度的估计方法,包括确定测试信号与参考信号的同步位置,根据所述同步位置对所述测试信号进行采样确定至少一路测试数据;针对任一路所述测试数据,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,并采用所述频偏值和相偏值对所述测试数据进行频偏和相偏补偿,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移、幅度修正因子,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,使用所述参考信号与幅度修正、原点偏移消除后的所述测试数据计算均方误差矢量幅度RMS EVM ;确定各路所述测试数据对应的RMS EVM中的最小值,根据该最小值对应的一路测试数据在计算RMS EVM过程中得到的各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标,所述各中间计算结果至少包括频偏值、相偏值、原点偏移和误差矢量。一种调制精度的估计装置,包括确定单元,用于确定测试信号与参考信号的同步位置,根据所述同步位置对所述测试信号进行采样确定至少一路测试数据;处理单元,用于针对任一路所述测试数据,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,并采用所述频偏值和相偏值对所述测试数据进行频偏和相偏补偿,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移、幅度修正因子,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,使用所述参数信号与幅度修正、原点偏移消除后的所述测试数据计算均方误差矢量幅度RMS EVM ; 选取单元,用于确定各路所述测试数据对应的RMS EVM中的最小值,根据该最小值对应的一路测试数据在计算RMS EVM过程中得到的各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标,所述各中间计算结果至少包括频偏值、相偏值、原点偏移和误差矢量。基于上述技术方案,本专利技术实施例中,在确定测试信号与参考信号的同步位置后,根据该同步位置确定至少一路测试数据,针对任一路测试数据,利用参考信号计算测试数据的频偏值和相偏值,对测试数据进行频偏和相偏补偿后,计算测试信号的原点偏移并进一步计算幅度修正因子,对频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除后,使用参数信号与幅度修正、原点偏移消除后的测试数据计算均方误差矢量幅度RMSEVM0该方法无需复杂的迭代过程,也不需要进行复杂的二次线性回归拟合,实现简单,并且该方法在确定测试信号与参考信号的同步位置后,确定一路以上的测试数据,并分别计算每一路测试数据的RMS EVM值,再根据最小的一个RMS EVM值对应的一路测试数据在计算RMS EVM过程中得到各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标,保证了估计的准确性。附图说明图1为本专利技术实施例中调制精度估计的方法流程图;图2为本专利技术实施例提供的最优实施例的方法流程图;图3为本专利技术实施例中EGPRS系统下的8PSK调制方式下调制精度估计的方法流程图;图4为本专利技术实施例中调制精度估计装置的结构示意图。具体实施例方式为了克服现有的、对终端的射频一致性测试中的调制精度估计的方法所存在的缺陷,本专利技术实施例提供了一种调制精度的估计方法,以能够准确且简单有效地实现调制精度估计。下面结合附图对本专利技术优选的实施方式进行详细说明。如附图1所示,本专利技术实施例中提供的进行调制精度估计的详细方法流程如下步骤101 :确定测试信号与参考信号的同步位置,根据该同步位置对测试信号进行采样确定至少一路测试数据。优选地,以确定的测试信号与参考信号的同步位置为中心确定测试信号中2N+1路的测试数据,其中,N大于等于O。在一个具体实现中,确定测试信号与参考信号的同步位置的具体过程为将参考信号中的本地导频或训练序列与测试信号进行相关运算,根据相关峰值确定测试信号的同步位置。根据具体应用不同,测试信号中与相关峰值确定的位置即为同步位置,或者,测试信号中与相关峰值确定的位置相差设定值的位置为同步位置。 实际应用中,测试设备能够直接提供的为根据测试参数配置进行检测、解调得到的比特数据序列d,对该比特数据序列d进行数据恢复,得到L1倍过采样的参考信号X。其中,进行数据恢复的具体过程为首先对比特数据序列d进行调制得到调制后的符号数据序列s,对该符号数据序列进行L1倍上采样和脉冲成型滤波得到参考信号X。优选地,对测试信号和参考信号再进行L2倍上采样。其中,测试信号本身为进行L1倍上采样后的信号。实际应用中,为了保证调制精度估计的结果准确,可以对参考信号中的本地导频或训练序列以及接收到的测试信号的L1倍过采样的数据,再进行L2倍过采样和低通滤波,即得到L = L1L2倍过采样的数据,然后再进行相关运算以及相关峰值搜索。本专利技术实施例中,为了避免同步不准确对调制精度估计造成的影响,除了取测试信号中同步位置所在的一路数据外,还要取测试信号中同步位置左右各N路数据分别进行后续的调制精度估计,再确定最终本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种调制精度的估计方法,其特征在于,包括:确定测试信号与参考信号的同步位置,根据所述同步位置对所述测试信号进行采样确定至少一路测试数据;针对任一路所述测试数据,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,并采用所述频偏值和相偏值对所述测试数据进行频偏和相偏补偿,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移、幅度修正因子,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,使用所述参考信号与幅度修正、原点偏移消除后的所述测试数据计算均方误差矢量幅度RMS?EVM;确定各路所述测试数据对应的RMS?EVM中的最小值,根据该最小值对应的一路测试数据在计算RMS?EVM过程中得到的各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标,所述各中间计算结果至少包括:频偏值、相偏值、原点偏移和误差矢量。

【技术特征摘要】
1.一种调制精度的估计方法,其特征在于,包括 确定测试信号与参考信号的同步位置,根据所述同步位置对所述测试信号进行采样确定至少一路测试数据; 针对任一路所述测试数据,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,并采用所述频偏值和相偏值对所述测试数据进行频偏和相偏补偿,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移、幅度修正因子,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,使用所述参考信号与幅度修正、原点偏移消除后的所述测试数据计算均方误差矢量幅度RMS EVM ; 确定各路所述测试数据对应的RMS EVM中的最小值,根据该最小值对应的一路测试数据在计算RMS EVM过程中得到的各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标,所述各中间计算结果至少包括频偏值、相偏值、原点偏移和误差矢量。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,具体包括 计算参考信号中的数据与所述测试数据之间的相位差,对所述相位差去除由于2 周期性所导致的相位跳变,对去除相位跳变后的相位差进行一元线性回归拟合,得到截距和斜率,所述截距为初始相偏值,所述斜率为频偏值。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移,具体包括 对所述频偏和相偏补偿后的测试数据和所述参考信号中的数据分别进行实部的一元线性回归拟合和虚部的一元线性回归拟合,以实部的一元线性回归拟合得到的斜率与截距的比值作为原点偏移的实部,以虚部的一元线性回归拟合得到的斜率与截距的比值作为原点偏移的虚部。4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,计算幅度修正因子,具体包括 计算使得IIYtl,-A(X+C0) Il 2最小的幅度修正因子A,得到5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,具体包括 采用公式6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定测试信号与参考信号的同步位置,具体包括 将所述参考信号中的本地导频或训练序列与所述测试信号进行相关运算,根据相关峰值确定所述测试信号的同步位置。7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述同步位置对所述测试信号进行采样确定至少一路测试数据,具体包括 以所述同步位置为中心对所述测试信号进行采样确定所述测试信号中2N+1路...

【专利技术属性】
技术研发人员:李向宁陈艳霞
申请(专利权)人:电信科学技术研究院
类型:发明
国别省市:

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