一种镜头精密度检测系统,运行于数据处理设备中,该数据处理设备与镜头及成像系统相连接,该镜头精密度检测系统包括:影像获取模块,用于控制成像系统将镜头收集的从被摄体反射回来的光线还原为影像,并从成像系统获取该被摄体的影像;影像量测模块,用于量测该被摄体影像的尺寸;数据处理模块,用于确定多次量测的影像尺寸中的最大值与最小值,计算该最大值与最小值的差值,并判断所述差值是否在允许偏差范围内,以确定镜头是否满足精密度要求;及输出模块,用于输出镜头的精密度检测结果。本发明专利技术还提供一种镜头精密度检测方法。本发明专利技术能够快速对镜头的精密度实施检测。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种镜头检测系统及方法,特别是关于一种镜头精密度检测系统及方 法。
技术介绍
在进行影像量测时,需要利用包括镜头的影像撷取装置获取待测物的影像。镜头 的精密度影响影像的精确性,进而对量测结果产生影响。为了保证影像量测结果的精确度, 需要对镜头的精密度进行检测。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种镜头精密度检测系统,能够快速地对镜头的精密 度实施检测。此外,还有必要提供一种镜头精密度检测方法,能够快速地对镜头的精密度实施 检测。一种镜头精密度检测系统,运行于数据处理设备中,该数据处理设备与镜头及成 像系统相连接,该镜头精密度检测系统包括影像获取模块,用于控制成像系统将镜头收集 的从被摄体反射回来的光线还原为影像,并从成像系统获取该被摄体的影像;影像量测模 块,用于量测该被摄体影像的尺寸;数据处理模块,用于确定多次量测的影像尺寸中的最大 值与最小值,计算该最大值与最小值的差值,并判断所述差值是否在允许偏差范围内,以确 定镜头是否满足精密度要求;及输出模块,用于输出镜头的精密度检测结果。一种镜头精密度检测方法,应用于数据处理设备中,该数据处理设备与镜头及成 像系统相连接,该方法包括影像获取步骤控制成像系统将镜头收集的从被摄体反射回 来的光线还原为影像,并从成像系统获取该被摄体的影像;量测步骤量测被摄体影像的 尺寸;第一判断步骤判断量测次数是否达到预定次数,若量测次数未达到预定次数,则返 回影像获取步骤;差值计算步骤若量测次数达到预定次数,确定量测的影像尺寸中的最 大值及最小值,并计算该最大值与最小值的差值;第二判断步骤判断所述差值是否在允 许偏差范围内,以确定镜头是否满足精密度要求;及输出步骤输出镜头的精密度检测结 果O本专利技术,对被摄体多次成像并量测各次成像的影像尺 寸,从而快速准确地检测镜头的精密度。附图说明图1为本专利技术镜头精密度检测系统较佳实施例的运行环境示意图。图2为图1中镜头精密度检测系统的功能模块图。图3为本专利技术镜头精密度检测方法较佳实施例的流程图。主要元件符号说明镜头精密度检测系统10数据处理设备11光源设备12镜头13成像系统14显示设备15光源调节模块210镜头设置模块220影像获取模块230影像量测模块240数据处理模块250输出模块260如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式参阅图1所示,是本专利技术镜头精密度检测系统较佳实施例的运行环境示意图。所 述镜头精密度检测系统10运行于数据处理设备11中。所述数据处理设备11与光源设备 12、镜头13、成像系统14及显示设备15相连接。所述光源设备12用于提供拍摄所需的 光线,该光源设备12可以提供不同种类的光线,例如同轴光、环形光或轮廓光。所述镜头 13用于收集被摄体反射回来的光线,该镜头13可以是定焦镜头或变焦镜头。在本实施例 中,所述镜头13为变焦镜头,该变焦镜头可以在马达的驱动下改变焦距,从而实现影像的 放大与缩小。所述成像系统14用于将镜头13收集的光线还原为影像,该成像系统14采用 的感光兀件可以是CCD (Charge Couple Device,电荷稱合器件)或CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)。所述显示设备15用于显示镜头 13的精密度检测结果。所述数据处理设备11可以是计算机或服务器。参阅图2所示,是图1中镜头精密度检测系统的功能模块图。所述镜头精密度检测 系统10包括光源调节模块210、镜头设置模块220、影像获取模块230、影像量测模块240、 数据处理模块250及输出模块260。所述光源调节模块210用于调节光源设备12的灯光亮度,以提供适合拍摄的光线。所述镜头设置模块220用于设置镜头13的焦距。在本实施例中,所述数据处理设备11与光源设备12及镜头13通过串口相连,在 调节光源设备12的灯光亮度之前,光源调节模块210要设置光源设备12的串口参数。类 似地,在设置镜头13的焦距之前,镜头设置模块220要设置镜头13的串口参数。所述串口 参数包括波特率、数据位、停止位和校验位等。所述影像获取模块230用于控制成像系统14将镜头13收集的从被摄体反射回来 的光线还原为影像,并从成像系统14获取该被摄体的影像。在本实施例中,所述被摄体是 圆,例如直径为2. 54毫米的圆。所述被摄体还可以是其他的图形,例如是正方形。所述圆 或正方形可以是通过激光刻到玻璃上的,在对该圆或正方形成像时使其正对镜头13。所述影像量测模块240用于量测该被摄体的影像的尺寸(如直径等),并判断量测 次数是否达到预定次数。在本实施例中,影像量测模块240量测圆的直径,所述预定次数为 6。若被摄体是正方形,影像量测模块240可以量测正方形的边长。所述数据处理模块250用于确定量测的影像尺寸中的最大值及最小值,并计算最 大值与最小值的差值。所述数据处理模块250还用于判断所述差值是否在允许偏差范围 内,以确定镜头13是否满足精密度要求。若所述差值在允许偏差范围内,则镜头13满足精 密度要求;若所述差值超出允许偏差范围,则镜头13不满足精密度要求。在本实施例中,差 值的允许偏差范围是小于等于2微米。所述输出模块260用于输出镜头13的精密度检测结果。在本实施例中,输出模块 260将镜头13的精密度检测结果显示在显示设备15上。参阅图3所示,是本专利技术镜头精密度检测方法较佳实施例的流程图。步骤S301,光源调节模块210调节光源设备12的灯光亮度,以提供适合拍摄的光 线。步骤S302,镜头设置模块220设置镜头13的焦距。例如,将镜头13设置为最小焦距。步骤S303,影像获取模块230控制成像系统14将镜头13收集的从被摄体反射回 来的光线还原为影像,并从成像系统14获取该被摄体的影像。在本实施例中,所述被摄体 是圆,例如直径为2. 54毫米的圆。步骤S304,影像量测模块240量测该被摄体影像的尺寸。在本实施例中,影像量测 模块240量测圆的直径。步骤S305,影像量测模块240判断量测次数是否达到预定次数,若量测次数未达 到预定次数,则返回步骤S303。在本实施例中,所述预定次数为6。若量测次数达到预定次数,步骤S306,数据处理模块250确定量测的影像尺寸中 的最大值及最小值,并计算最大值与最小值的差值。步骤S307,数据处理模块250判断所述差值是否在允许偏差范围内,以确定镜头 13是否满足精密度要求。若所述差值在允许偏差范围内,则镜头13满足精密度要求;若所 述差值超出允许偏差范围,则镜头13不满足精密度要求。在本实施例中,差值的允许偏差 范围是小于等于2微米。步骤S308,输出模块260输出镜头13的精密度检测结果。在本实施例中,输出模 块260将镜头13的精密度检测结果显示在显示设备15上。若要检测镜头13在其他焦距下的精密度,则返回步骤S302,镜头设置模块220改变镜头13的焦距,并执行步骤S303-S308。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种镜头精密度检测系统,运行于数据处理设备中,该数据处理设备与镜头及成像系统相连接,其特征在于,该镜头精密度检测系统包括:影像获取模块,用于控制成像系统将镜头收集的从被摄体反射回来的光线还原为影像,并从成像系统获取该被摄体的影像;影像量测模块,用于量测该被摄体影像的尺寸;数据处理模块,用于确定多次量测的影像尺寸中的最大值与最小值,计算该最大值与最小值的差值,并判断所述差值是否在允许偏差范围内,以确定镜头是否满足精密度要求;及输出模块,用于输出镜头的精密度检测结果。
【技术特征摘要】
1.一种镜头精密度检测系统,运行于数据处理设备中,该数据处理设备与镜头及成像系统相连接,其特征在于,该镜头精密度检测系统包括影像获取模块,用于控制成像系统将镜头收集的从被摄体反射回来的光线还原为影像,并从成像系统获取该被摄体的影像;影像量测模块,用于量测该被摄体影像的尺寸;数据处理模块,用于确定多次量测的影像尺寸中的最大值与最小值,计算该最大值与最小值的差值,并判断所述差值是否在允许偏差范围内,以确定镜头是否满足精密度要求; 及输出模块,用于输出镜头的精密度检测结果。2.如权利要求1所述的镜头精密度检测系统,其特征在于,该系统还包括光源调节模块,用于调节与所述数据处理设备相连接的光源系统的灯光亮度,以获得适合拍摄的光线。3.如权利要求1所述的镜头精密度检测系统,其特征在于,所述镜头是变焦镜头。4.如权利要求3所述的镜头精密度检测系统,其特征在于,该系统还包括镜头设置模块,用于设置镜头的焦距。5.如权利要求1所述的镜头精密度检测系统,其特征在于,所述被摄体是圆,所述影像尺寸为该圆的直径。6.一种镜头精密度检测方法,应用于数据处理设...
【专利技术属性】
技术研发人员:张旨光,袁忠奎,刘建华,薛晓光,李东海,
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司,鸿海精密工业股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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