配件、成像装置和检测方法制造方法及图纸

本公开涉及配件、成像装置和检测方法。所述配件相对于具有多个触点端子的装置本体是可附接或者可卸下的，所述配件包括：多个连接端子，在附接至所述装置本体时，分别连接至所述多个触点端子，并与所述装置本体交换信号；锁定杆，在锁定位置与非锁定位置之间被操作，并在被操作至所述锁定位置时，相对于所述装置本体进行锁定；和检测启动部，在所述锁定杆被操作至所述锁定位置时，开始所述多个触点端子与所述多个连接端子的连接状态的检测操作。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及。更具体地说，本公开涉及用于在锁定杆被 操作并且完成锁定时允许多个触点端子与多个连接端子的连接状态的检测操作，并确保触 点端子与连接端子的连接状态的精确检测操作的技术。
技术介绍
在比如数码静物相机等成像装置中，可以相对于装置本体的前表面附接或者卸下 可换镜头，并通过附接可换镜头使其功能得到改善。可换镜头可以通过适配器附接至装置 本体，并且可换镜头或者适配器被用作成像装置中的配件。作为在可附接或者可卸下配件的成像装置中向装置本体附接配件的方法，已知有 所谓的卡接方法(bayonet method)和所谓的插接方法(spigot method),所述卡接方法 是围绕装置本体旋转整个配件并使配件的接合部与装置本体的接合部接合，所述插接方法 是操作设置于配件或者装置本体中的锁定杆并使配件的接合部与装置本体的接合部接合 (例如，参考日本专利申请06-51386号公报)。在卡接方法中，在从前侧将配件推压至装置本体的前表面的状态下，通过使整个 配件旋转一定角度来将配件附接至装置本体。在卡接方法中，因为不存在锁定杆，所以配件的结构简单。然而，因为是整个配件 围绕装置本体旋转，所以考虑到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种配件，相对于具有多个触点端子的装置本体是可附接或者可卸下的，所述配件包括：多个连接端子，在附接至所述装置本体时，分别连接至所述多个触点端子，并与所述装置本体交换信号；锁定杆，在锁定位置与非锁定位置之间被操作，并在被操作至所述锁定位置时，相对于所述装置本体进行锁定；和检测启动部，在所述锁定杆被操作至所述锁定位置时，开始所述多个触点端子与所述多个连接端子的连接状态的检测操作。

【技术特征摘要】
2011.09.22 JP 2011-2079131.一种配件，相对于具有多个触点端子的装置本体是可附接或者可卸下的，所述配件包括 多个连接端子，在附接至所述装置本体时，分别连接至所述多个触点端子，并与所述装置本体交换信号； 锁定杆，在锁定位置与非锁定位置之间被操作，并在被操作至所述锁定位置时，相对于所述装置本体进行锁定；和 检测启动部，在所述锁定杆被操作至所述锁定位置时，开始所述多个触点端子与所述多个连接端子的连接状态的检测操作。2.如权利要求1所述的配件，其中， 所述检测启动部包括检测开关和操作部，所述操作部操作所述检测开关并使所述检测开关操作，并且 所述检测开关和所述操作部中的一者配置成固定状态，而所述检测开关和所述操作部中的另一者随所述锁定杆移动。3.如权利要求2所述的配件，其中， 所述检测开关配置成固定状态，并且 所述操作部随所述锁定杆移动。4.如权利要求3所述的配件，其中， 所述操作部附接至所述锁定杆。5.如权利要求2所述的配件，其中， 作为所述检测开关使用的是通过所述操作部的接触受到操作的接触型开关，并且 所述操作部的与所述检测开关发生接触的部分的外表面形成为外凸曲面形状。6.如权利要求2所述的配件，其中， 作为所述检测开关使用的是基于磁场的变化受到操作的非接触型开关。7.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：规矩地和人，加藤正大，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：