使用S‑参数的增强的任意波形发生器波形校准制造技术

技术编号:8531532 阅读:198 留言:0更新日期:2013-04-04 13:38
本发明专利技术的实施例提供了利用S‑参数来校准任意波形发生器的增强的方法以及根据这些方法校准的任意波形发生器。提供所述方法用于校准任意波形发生器的单个、非交错信道,校准多个交错信道,以及校准交错的和非交错的多对信道,以生成差分信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试和测量仪器,并且更具体地,本专利技术涉及任意波形发生器的校准。
技术介绍
任意波形发生器(AWG)是用来生成具有实际上任何波形的模拟信号的测试和测量仪器。操作中,用户将期望的模拟信号逐点地限定为ー系列的数字值。AWG然后使用精度数字模拟转换器来“播放”数字值以提供模拟信号。诸如可从Oregon的Beaverton的Tektronix公司获得的AWG7000任意波形发生器系列之类的AWG用于宽带信号发生应用、高速串行数据的接收器压力测试、以及需要复杂信号创建的其他应用。由于各种原因,由AWG产生的信号的测量频率特性有时候不同于其输入波形数据的频率特性。已经提出了校准技术以校正AWG的输出响应,然而,这些技术中没有一种被证明是完全令人满意的。因此,存在对于增强的校准AWG的方法的需要。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了利用S-參数来校准任意波形发生器的增强的方法,以及根据这些方法校准的任意波形发生器。提供这些方法用于校准任意波形发生器的单个、非交错信道,校准多个交错信道,以及校准交错和非交错两者的多对信道,以生成差分信号。本专利技术的目的、优点和其他新颖的特征将在结本文档来自技高网...
<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/52/201210371162.html" title="使用S‑参数的增强的任意波形发生器波形校准原文来自X技术">使用S‑参数的增强的任意波形发生器波形校准</a>

【技术保护点】
一种校准任意波形发生器的信道的方法,包括以下步骤:测量所述信道的输出响应(τ);测量所述信道的源匹配(Γs);确定被测试装置的输入反射系数(ΓL);以及基于τ、Γs和ΓL计算用于所述信道的校正滤波器(g)。

【技术特征摘要】
2011.09.23 US 13/243,0241.一种校准任意波形发生器的信道的方法,包括以下步骤测量所述信道的输出响应(τ);测量所述信道的源匹配(rs);确定被测试装置的输入反射系数(Γ\);以及基于τ、^和Γ\计算用于所述信道的校正滤波器(g)。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述信道是单个、非交错信道。3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述信道包括多个交错...

【专利技术属性】
技术研发人员:J·E·卡尔森
申请(专利权)人:特克特朗尼克公司
类型:发明
国别省市:

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