一种冰箱的温度控制稳定性测试方法技术

技术编号:8531421 阅读:187 留言:0更新日期:2013-04-04 13:30
本发明专利技术提出一种冰箱的温度控制稳定性测试方法,包括以下步骤:计算每个电控器件的工作次数;对冰箱进行老化测试;在对冰箱进行老化测试的同时,对冰箱中的多个器件进行开关测试;以及根据老化测试结果和开关测试结果生成冰箱的寿命测试结果。根据本发明专利技术实施例的冰箱的温度控制稳定性测试方法,通过模拟冰箱的外部环境、例如模拟高温高湿等外部环境加速冰箱老化进而对冰箱进行老化测试,并通过加速冰箱的电路板上电控元件的开停来进行开关测试,真实模拟冰箱的运行,从而可以准确的测试出冰箱的使用寿命,该方法具有测试冰箱生命周期准确的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及制冷设备
,特别涉及。
技术介绍
在制造行业,产品的质量决定了一个企业的生命。因此,测试产品的生命周期是产品开发过程中一个不可缺少的环节。准确的预测出产品的生命周期,是判定产品是否需要改进的重要依据。在传统的测试方法中,测试冰箱产品的生命周期就是通过改变冰箱的外部环境,例如通过外加高温高湿等条件加速冰箱老化。这在一定程度上能够实现冰箱的加速老化,测试出冰箱的生命周期。但是该方法只是模拟了外部的环境变化,而对冰箱内部的电控控制部分并没有做到很好的老化测试。因此,该方法对冰箱生命周期的测试结果不够准确,测试结果可信度低。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决上述技术问题之一或至少提供一种有用的商业选择。为此,本专利技术的一个目的在于提出,该方法具有冰箱的生命周期测试准确的优点,可信度高,为后续的开发提供可靠参考,且该方法实施简单易行。为了实现上述目的,本专利技术的实施例提供了包括计算每个电控器件的工作次数;对冰箱进行老化测试;在对所述冰箱进行老化测试的同时,对所述冰箱中的多个器件进行开关测试;以及根据老化测试结果和开关测试结果生成所述冰箱的寿命测试结果。根据本专利技术实施例的冰箱的温度控制稳定性测试方法,通过模拟冰箱的外部环境、例如模拟高温高湿等外部环境加速冰箱老化进而对冰箱进行老化测试,并通过加速冰箱的电路板上电控元件的开停来进行开关测试,真实模拟冰箱的运行,从而可以准确的测试出冰箱的使用寿命,具有测试冰箱生命周期准确的优点,测试结果可信度高,进而为后续的开发提供可靠参考,且该方法实施简单易行。在本专利技术的一个实施例中,在所述冰箱的老化测试和开关测试的过程中,对所述冰箱的负载进行调整。在本专利技术的一个实施例中,所述多个电控器件包括压缩机、风机、灯和风门电机。在本专利技术的一个实施例中,所述开关测试的开关周期为l_3s。在本专利技术的一个实施例中,以预设顺序对所述多个电控器件进行开关测试。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中图1是根据本专利技术实施例的的流程图;以及图2是根据本专利技术实施例的的以多个电控件依次以每2S开停为例进行测试的流程图。具体实施例方式下面详细描述本专利技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本专利技术,而不能理解为对本专利技术的限制。相反,本专利技术的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。此外,在本专利技术的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。参阅图1所示为根据本专利技术实施例的的流程图,该方法包括下述步骤步骤S101,计算每个电控器件的工作次数。其中,电控器件包括但不限于压缩机、风机、灯和风门电机。具体而言,首先计算出每个电控器件(元器件)大概需要的工作次数。根据工作次数计算出大概需要多少秒开停一次,也就是说,在知道整个测试周期的时间后,根据测试周期的时间计算出每个电控器件大概在该测试周期中的工作次数,然后根据工作次数计算出大概需要多少面开停一次。步骤S102,对冰箱进行老化测试。即改变冰箱的外部环境,例如通过外加高温高湿等条件加速冰箱老化,测试冰箱产品的生命周期。步骤S103,在对冰箱进行老化测试的同时,对冰箱中的多个器件进行开关测试。其中,开关测试的开关周期为l_3s。参见图2所示,在本专利技术实施例中,以负载每2S开停为例进行测试。以预设顺序对多个电控器件进行开关测试,如图2所示,在本专利技术的一个实施例中,按照压缩机开、压缩机关、风机开、风机关、风门电机开、风门电机关、冷冻门灯开、冷冻门灯关的顺序对多个电控器件进行开关测试。在改变外部环境对冰箱进行老化测试的同时,通过加速电路板上电控器件的开停,来真实的模拟冰箱的运行过程,从而可以准确地测试出冰箱的使用寿命,其测试结果更加真实可靠,能够客观地反应出冰箱的使用寿命。进一步地,在冰箱的老化测试和开关测试的过程中,可对冰箱的负载进行调整,即根据冰箱负载不同可以添加负载,也就是说,在本专利技术的其他示例中,也可对其他电控器件进行测试。步骤S104,根据老化测试结果和开关测试结果生成冰箱的寿命测试结果。在本专利技术的实施例中,通过控制电控器件的开停,加速电控器件的老化,加速模拟冰箱的实际运行状态,更准确的模拟冰箱的实际运行,更准确的测试冰箱的生命周期。最后,根据老化测试结果和开关测试结果生成冰箱的寿命测试结果。根据本专利技术实施例的冰箱的温度控制稳定性测试方法,通过模拟冰箱的外部环境、例如模拟高温高湿等外部环境加速冰箱老化进而对冰箱进行老化测试,并通过加速冰箱的电路板上电控元件的开停来进行开关测试,真实模拟冰箱的运行,从而可以准确的测试出冰箱的使用寿命,具有测试冰箱生命周期准确的优点,测试结果可信度高,进而为后续的开发提供可靠参考,且该方法实施简单易行。应当理解,本专利技术的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。本
的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。此外,在本专利技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例,本领域的普通本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种冰箱的温度控制稳定性测试方法,其特征在于,其中,所述冰箱中包括多个电控器件,包括以下步骤:计算每个电控器件的工作次数;对冰箱进行老化测试;在对所述冰箱进行老化测试的同时,对所述冰箱中的多个器件进行开关测试;以及根据老化测试结果和开关测试结果生成所述冰箱的寿命测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种冰箱的温度控制稳定性测试方法,其特征在于,其中,所述冰箱中包括多个电控器件,包括以下步骤 计算每个电控器件的工作次数; 对冰箱进行老化测试; 在对所述冰箱进行老化测试的同时,对所述冰箱中的多个器件进行开关测试;以及 根据老化测试结果和开关测试结果生成所述冰箱的寿命测试结果。2.如权利要求1所述的冰箱的温度控制稳定性测试方法,其特征在于,其中,在所述冰箱的老化测试和...

【专利技术属性】
技术研发人员:韦文波申在成刘富明孙超付秀亮祝云飞
申请(专利权)人:合肥美的荣事达电冰箱有限公司
类型:发明
国别省市:

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