采样制造技术

本发明专利技术公开了采样。公开了被配置为由基本为正弦型的时钟信号驱动的电流模式时间交织采样电路。这种电路可被结合在ADC电路中，例如被结合作为IC芯片上的集成电路。所公开的电路无需离线就能够校准自身。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于对输入信号进行采样的电路和方法，例如用于对输入模拟信号进行采样的电路和方法。尤其但非唯一地，本专利技术涉及模拟到数字电路和方法。
技术介绍
用于实现模拟到数字转换器(ADC)的体系结构一般属于三种类别中的一种，即低到中速(例如，积分和过采样ADC)、中速(例如，算术ADC)、以及高速(例如，时间交织(time-1nterleaved) ADC)。通常，随着ADC的速度提高,会发现其精度下降。时间交织ADC所基于的主要思想是通过并行操作许多子ADC来获得甚高速模拟到数字转换。已知的时间交织ADC的示例在W. C. Black, Jr.和D. A. Hodges所著的“Time-1nterleaved Converter Arrays，，，IEEE Journalof Solid-State Circuits,第 15卷，第 1022 至 1029 页，1980 年 12 月和 K. Poulton, J. J. Corcoran 和 T. Hornak 所著的 “A1-GHz 6-bit ADC System”，IEEE Journal of Solid-State本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于对电流信号进行采样的电流模式电路，该电路包括：第一节点，被配置为接收电流信号；多个第二节点，能够沿着相应的路径导通性地连接到所述第一节点；导引电路，被配置为控制第一节点和第二节点之间的连接，从而随着时间的流逝，沿着所述路径中的不同路径来导引构成所述电流信号的不同电荷包；生成电路，被配置为对于通过所述第二节点的电荷包中的每个电荷包基于该电荷包的特性来生成样本值，每个样本值指示出与其电荷包相对应的电流信号的值；以及校准电路，被配置为组合来自所述第二节点中的一个或多个的样本值以提供一个或多个组合样本值，并且基于所述一个或多个组合样本值来校准电路的操作。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：伊恩·朱斯欧·代迪克，加文·朗伯斯·艾伦，
申请(专利权)人：富士通半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：