一种均匀圆阵测向天线接收互阻抗测试及互耦补偿系统技术方案

技术编号:8491178 阅读:292 留言:0更新日期:2013-03-28 18:49
本发明专利技术公开了一种均匀圆阵测向天线接收互阻抗测试及互耦补偿系统,该系统包括有接收互阻抗模型建立单元、获取阵元互耦下的天线端口电压单元、获取无阵元互耦下的天线端口电压单元、构建互耦电压矩阵单元、构建互耦电流矩阵单元、构建均匀圆阵接收互阻抗矩阵单元。所述均匀圆阵测向天线接收互阻抗测试通过设置一个任意水平来波方向,测试得到的所有阵元互耦效应作用下的天线端口电压和去除互耦效应作用下的天线端口电压,根据接收互阻抗理论建立均匀圆阵接收互阻抗矩阵;然后利用均匀圆阵接收互阻抗矩阵在测向设备工作时,在测向终端处理机上在满足工作频点下进行互耦补偿,从而使得测向设备输出的示向度更精确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测向天线的电磁干扰的测试方法,更特别地说,是指一种对测向设备中的均匀圆阵测向天线进行接收互阻抗测试、以及对测向设备中的均匀圆阵测向天线的互耦进行补偿的系统。
技术介绍
无线电测向是利用无线电定向设备确定正在工作的无线电辐射源方位的过程,是电磁频谱管理的重要内容,是对无线电信号进行分选、识别的重要依据。阵列天线尤其是均匀圆阵测向天线在无线电测向中具有广泛的应用,包括比幅、比相、相关干涉仪、空间谱估计等测向体制都是利用不同阵元之间的幅度、相位等信息估计来波方向。在这些测向体制中,通常都认为阵中各阵元是理想工作而互不干扰的。实际上,在阵列天线中,每一个阵元都是开放型电路,各阵元之间并不是完全隔离的,而是存在着相互影响,即互耦效应。互耦·效应是天线阵,尤其是小间距天线阵一个关键性问题,对测向设备的系统性的优劣具有决定性作用。由于互耦效应,当均匀圆阵测向天线处于接收时,每个阵元的接收信号不仅是对入射平面波的响应,而且包括对周围阵元引起散射场的响应,因此互耦效应的存在将增大测向设备的测向误差,降低测向精度,必须考虑采取相应的补偿措施来提高测向设备的测向精度。经对现有技术的文献本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种均匀圆阵测向天线接收互阻抗测试及互耦补偿系统,该系统中的发射天线通过射频电缆与网络分析仪的输出端口连接,均匀圆阵测向天线中的任意一个阵元通过射频电缆与网络分析仪的输入端口连接,网络分析仪与计算机数据线连接,其特征在于:为了解决测向设备中均匀圆阵测向天线的各个阵元的互耦效应对测向设备的测向精度造成的影响,所述计算机内安装有能够对网络分析仪测试得到的S21参数进行计算处理的互阻抗测试及互耦补偿系统;所述互阻抗测试及互耦补偿系统包括有接收互阻抗模型建立单元、获取阵元互耦下的天线端口电压单元、获取无阵元互耦下的天线端口电压单元、构建互耦电压矩阵单元、构建互耦电流矩阵单元、构建均匀圆阵接收互阻抗矩阵...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:谢树果杜威李圆圆苏东林刘亚奇武明川陈少刚叶知秋
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

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