本发明专利技术提供一种用于检测地下设施的位置的设备和方法,其计算磁性标记在每一深度处的高斯值,根据所述计算的高斯值,通过每一个传感器测量每一个深度处的磁场,通过对所述测量的磁场进行因子分析来提取因子,通过对所述提取的因子进行回归分析获得提取变量值,将所述提取变量值存储在数据库中,并且根据所述存储的提取变量值和由所述传感器实时测量的值,确定所述磁性标记的位置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及,其可通过由因子分析和回归分 析将每一个传感器的高斯值作为变量量化,并且利用所述量化数据准确检测磁性标记的位置。
技术介绍
随着快速的城市化和工业化,例如自来水和污水管、天然气管、通讯线路等基础设 施的建设急剧增加。大部分这些设施由于美观、设施的保护等原因掩埋在地下。但是,关于 这些地下设施的位置和深度的详细信息没有公开,并且因而很难确定其位置或状态,由此 使得很难维修和管理这些设施。而且,当安装新的地下设施或构建建筑物时,准确确定现有 地下设施的位置所需的时间和成本增加,并且当其位置没有准确确定时,地下设施可能被 损坏,因而威胁工人的安全。为了防止这些事故,使用多种用于准确检测地下设施的检测技 术。但是,通常用于确定地下设施位置的设备可检测到与软性铁氧体不同的铁磁性标记,但 是不能检测地下设施的深度。本专利技术的申请人已经在2010年3月8日授权的韩国专利No. 10-0947659公开了 一种“用于检测地下设施的设备和利用所述设备检测地下设施的方法”。上述专利提供了用 于检测地下设施的设备,所述设备可通过将由附着到地下设施的磁性标记产生的磁感应强 度测量值与预存储在所述设备中的参考值相比较,准确地计算磁性标记的深度。但是,根据通常的设备,从每一个传感器读取的值应通过连续测试一个接一个地 进行比较,以检测磁性标记的存在,由此对使用者造成不便。
技术实现思路
在努力解决上述与现有技术相关的难题中专利技术了本专利技术,本专利技术的目的是提供一 种,其中,通过因子分析和回归分析,将每一个传感器 的高斯值作为变量量化并且存储,以根据所述量化数据准确检测磁性标记的存在和磁性标 记的深度。根据本专利技术的用于实现上述目的的一方面,提供一种用于检测地下设施的位置的 方法,所述方法包括以下步骤计算磁性标记每一个深度处的高斯值;根据所述计算的高 斯值,使用每一个深度处的每一个传感器测量磁场;通过关于所述测得的磁场进行因子分 析来提取因子;通过关于所述提取因子进行回归分析获得并且存储提取的变量值;和根据 所述存储的提取变量值和由所述传感器实时测量的值确定所述磁性标记的位置。附图说明 本专利技术的上述和其他目的、特征和优点将通过参照附图详细描述其示例性实施例而对本领域技术人员变得显而易见,附图中图1是显示根据本专利技术优选实施例的用于检测地下设施的方法的示意图2是根据本专利技术优选实施例的用于检测地下设施的设备的框图3是显示图2中检测器结构的电路图4是显示根据本专利技术优选实施例的用于检测地下设施的位置的方法的流程图图5是显示根据本专利技术优选实施例的回归公式的曲线;图6是显示表2中的磁场传感器的视图。附图标记说明1:磁性标记10 :检测器11 :支撑杆12a,12b&12c :检测传感器13 :微处理器20 =DGPS接收器30 :水平传感器40 :外部连接装置50 :显示装置60 :音频输出装置70 :主处理器100 :检测设备具体实施方式以下将在下文参照附图详细描述本专利技术的示例性实施例,以使本专利技术所属领域中的技术人员可容易地实践本专利技术。图1是显示根据本专利技术优选实施例的用于检测地下设施的方法的示意图。如图1的(a)中所示,磁性标记I附着到地下设施18,地下设施18为例如自来水管和污水管、天然气管、通讯线路等。磁性标记I通过在具有预定磁力的永久磁体,例如铁氧体上涂覆防水涂层、防潮涂层、镀镍或聚氨酯薄膜制备。磁性标记I以N极位于顶部的方式安装,根据情况,S极可设置在顶部。当安装磁性标记I时,根据安装标准,需要选择磁性标记I的类型。磁性标记I的安装标准如下面表I中所示。表I权利要求1.一种用于检测地下设施的位置的方法,所述方法包括以下步骤计算磁性标记的每一个深度处的高斯值;根据计算的高斯值,使用每一个深度处的每一个传感器测量磁场;通过对测量的磁场进行因子分析来提取因子;通过对提取的因子进行回归分析获得并且存储提取的变量值;和根据存储的提取变量值和由所述传感器实时测量的值确定所述磁性标记的位置。2.根据权利要求1所述的方法,其中,每一深度处的所述高斯值通过以下公式计算3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述提取因子的步骤包括以下步骤根据所述传感器测量的磁场,通过进行主成分分析来提取第一因子;和通过因子旋转,从所述提取的因子中提取第二因子,所述第二因子将用于所述因子分析中。4.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述确定所述磁性标记的位置的步骤中,如果由所述传感器实时测量的值符合以下回归公式,则确定所述磁性标记存在回归公式Y2 = a+bX2+c (a+bX^cXg)。5.根据权利要求4所述的方法,其中,在所述确定所述磁性标记的位置的步骤中,当符合上面的回归公式时,对应于所述提取的变量值的所述深度确定为所述磁性标记的位置。6.一种用于检测地下设施的位置的设备,所述设备包括检测器,其包括至少三个用于检测从磁性标记产生的磁场的磁场传感器;和主处理器,其用于通过进行因子分析和回归分析,将所述磁性标记的每一个深度处的每一个传感器的高斯值量化为一个数据,并且根据量化的数据,确定与从所述检测器输出的测量值相关的所述磁性标记的位置。7.根据权利要求6所述的设备,其中,如果所述测量值符合以下回归公式,则所述主处理器确定所述磁性标记存在回归公式Y2=d+cX2+f (a+bX^cXg)。8.根据权利要求7所述的设备,其中,当符合上述回归公式时,所述主处理器确定对应于所述量化的数据的所述深度为所述磁性标记的位置。全文摘要本专利技术提供一种用于检测地下设施的位置的设备和方法,其计算磁性标记在每一深度处的高斯值,根据所述计算的高斯值,通过每一个传感器测量每一个深度处的磁场,通过对所述测量的磁场进行因子分析来提取因子,通过对所述提取的因子进行回归分析获得提取变量值,将所述提取变量值存储在数据库中,并且根据所述存储的提取变量值和由所述传感器实时测量的值,确定所述磁性标记的位置。文档编号G01V3/08GK102998708SQ20121016671公开日2013年3月27日 申请日期2012年5月25日 优先权日2011年5月25日专利技术者金平, 金悦 申请人:利宇Tec株式会社本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于检测地下设施的位置的方法,所述方法包括以下步骤:计算磁性标记的每一个深度处的高斯值;根据计算的高斯值,使用每一个深度处的每一个传感器测量磁场;通过对测量的磁场进行因子分析来提取因子;通过对提取的因子进行回归分析获得并且存储提取的变量值;和根据存储的提取变量值和由所述传感器实时测量的值确定所述磁性标记的位置。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:金平,金悦,
申请(专利权)人:利宇TEC株式会社,
类型:发明
国别省市:
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