一种针对CPU模块的测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种针对CPU模块的测试系统，该系统包括电脑测试主机和CPU模块测试装置，电脑测试主机通过USB数据线经过CPU模块测试装置实现对待测CPU模块上CPU的状态寄存器访问和测试程序执行；CPU模块测试装置由CPU模块测试接口、USB调试从接口、电源控制电路、USB主接口测试电路、外扩总线测试电路、IO测试电路、以太网接口测试电路和时钟后备电源测试电路组成。本发明专利技术不仅实现了对CPU模块质量的测试，而且能够定位具体故障的线路和芯片位置；通过电源控制电路实现了待测CPU模块的延时上电保护和电源短路检测，从而实现检测过程的带电插拔；整个测试系统结构简单、操作便捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种针对CPU模块的测试系统，属于电子产品制造

技术介绍
在CPU模块在制板焊接之后，需要进行全面测试，以确保所生产的CPU模块没有短路、断路等质量问题。已有CPU模块的测试方法，只能将待测CPU模块置入应用装置后，进行整机功能和性能测试。如果整机出现故障，更换CPU模块后修复，则确认原CPU模块损坏。这种测试方法，操作流程复杂，不能直接定位CPU模块上具体的故障线路、芯片损坏等质量问题，无法对焊接问题进行针对性的修复，测试效率低。当前CPU功能越来越强，CPU管脚多，CPU模块线路复杂。必须设计针对CPU模块的专用测试系统，实现快速简便的检测功能，准确定位故障问题，从而实现焊接问题修复，解决故障。同时，随之CPU性能提高，CPU具有内置或外扩的USB调试接口，电脑可以通过该接口访问CPU的状态寄存器，控制程序加载和运行，由此为设计结构简单、操作便捷的新型CPU模块测试系统，提供了技术基础。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种针对CPU模块的测试系统，以解决目前由于CPU管脚多以及线路复杂等问题，导致测试操作流程复杂，不能直接定位CPU模块上具体的故障线路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种针对CPU模块的测试系统，其特征在于：该测试系统包括：电脑测试主机，用于访问待测CPU模块上CPU的状态寄存器，控制测试程序在待测CPU上的加载和运行；CPU模块测试装置，通过USB连接线与所述电脑测试主机相连接，用于为待测CPU模块提供电源和扩展的测试电路；CPU模块测试接口，与所述CPU模块测试装置和待测CPU模块相连接，用于将CPU模块测试装置上的信号线与待测CPU模块的对应信号线连接起来；所述的CPU模块测试装置包括：USB调试从接口，该接口的输入通过USB连接线与所述电脑测试主机的USB接口相连，输出通过CPU模块测试接口与待测CPU模块的USB调试从口相连；电源控制电路，该电源...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张锦春，庞浩，张长江，侯高雷，黄明山，陈淘，张志颖，耿伟鹏，周志辉，王振举，歹志阳，
申请(专利权)人：许继集团有限公司，河南许继仪表有限公司，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：