一种球形近场测试探头的设计方法技术

本发明专利技术是一种球形近场测试探头的设计方法。它至少包括球形接收体、探头腔体、射频回路和射频同轴连接器，其特征是：探头腔体是一端有开口的绝缘壳体，其封闭端是球形腔体，开口端有测试手柄，中间呈棒状腔体；球形接收体设置在探头腔体的球形腔体内，射频回路设置在探头腔体的棒状腔体内，射频回路前端的芯线与球形接收体的外表面焊接固定，射频回路与球形接收体之间形成绝缘间隙；测试手柄包裹在射频回路的末端外侧；射频同轴连接器设置在探头腔体的开口端，并内嵌在测试手柄的末端，射频回路后端的芯线插入射频同轴连接器内部且与射频同轴连接器的线芯焊接导通，射频回路与射频同轴连接器5通过外回路层360°焊接固定。它能够360°测试电场信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子测试与电磁泄漏测试
，是ー种球形近场测试探头的设计方法。
技术介绍
近年来，在电磁兼容领域，对于产品的抗电磁干扰性能要求越来越高，由于各类电子产品的电磁干扰辐射频段越来越宽，且低频段尤为密集，加上设备结构较为复杂，使得电子设备上许多电路板及结构部位易造成电场泄漏，普通辐射发射测试天线可以测试到设备整体对外部的辐射大小，但却不能对其泄漏位置进行准确定位，这无疑对结构形式复杂、干扰频带范围宽的电子设备故障诊断排查工作造成了难题。因此，迫切需要ー种体积较小、可进场测试的辐射定位探头，从而精确找出辐射位置并进行整改。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供ー种球形近场测试探头的设计方法，能够使电子设备对外辐射位置进行准确定位，用于机箱、电路板或电カ电子系统的电场辐射泄漏位置及泄漏量的准确定位，还能适用于小体积机箱的电场屏蔽验证。本专利技术的技术方案是ー种球形近场测试探头的设计方法，它至少包括球形接收体I、探头腔体2、射频回路3和射频同轴连接器5，其特征是探头腔体2是一端有开ロ的绝缘壳体，其封闭端是球形腔体，开ロ端有测试手柄4，中间呈棒状腔体；球形接收体I设置在探头腔体2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种球形近场测试探头的设计方法，它至少包括球形接收体（1）、探头腔体（2）、射频回路（3）和射频同轴连接器（5），其特征是：探头腔体（2）是一端有开口的绝缘壳体，其封闭端是球形腔体，开口端有测试手柄（4），中间呈棒状腔体；球形接收体（1）设置在探头腔体（2）的球形腔体内，射频回路（3）设置在探头腔体（2）的棒状腔体内，射频回路（3）前端的芯线与球形接收体（1）的外表面焊接固定，射频回路（3）与球形接收体（1）之间形成绝缘间隙（6）；测试手柄（4）包裹在射频回路（3）的末端外侧；射频同轴连接器（5）设置在探头腔体（2）的开口端，并内嵌在测试手柄（4）的末端，射频回路（3）后端的芯线插入射频同轴连...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋博，
申请(专利权)人：西安开容电子技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：