【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子测试与电磁泄漏故障排查
，是ー种杆状近场测试探头的设计方法。
技术介绍
近年来，在电磁兼容领域，对于产品的抗电磁干扰性能要求越来越高，由于各类电子产品的电磁干扰辐射频段越来越宽，且低频段尤为密集，加上设备结构较为复杂，使得电子设备上许多电路板及结构部位易造成电场泄漏，普通辐射发射测试天线可以测试到设备整体对外部的辐射大小，但却不能对其泄漏位置进行准确定位，这无疑对结构形式复杂、干扰频带范围宽的电子设备故障诊断排查工作造成了难题。因此，迫切需要ー种体积较小、可进场垂直定位测试的电场辐射定位探头，从而精确找出辐射位置并进行整改。·
技术实现思路
本专利技术的目的是提供，能够使电子设备对外电场的辐射位置进行准确定位，用于机箱、电路板或电カ电子系统的电场辐射泄漏位置、泄漏量的准确定位，还能够垂直用于多种泄漏点并测试出最大辐射点。本专利技术的技术方案是ー种杆状近场测试探头的设计方法，它至少包括探头腔体2、射频回路3和射频同轴连接器5，其特征是探头腔体2是末端开ロ的棒状绝缘腔体，射频回路3设置在探头腔体2的空腔内；射频回路3是射频线缆，其前端有外露的芯线...
【技术保护点】
一种杆状近场测试探头的设计方法，它至少包括探头腔体（2）、射频回路（3）和射频同轴连接器5，其特征是：探头腔体（2）是末端开口的棒状绝缘腔体，射频回路（3）设置在探头腔体（2）的空腔内；射频回路（3）是射频线缆，其前端有外露的芯线，外露的芯线与射频回路（3）构成杆状接收体（1）；探头腔体（2）的末端设置测试手柄（4），测试手柄4包裹在射频回路（3）的末端外侧；射频同轴连接器（5）设置在探头腔体（2）末端开口处并内嵌在测试手柄（4）末端，射频回路（3）的芯线末端插入射频同轴连接器（5）内，并与射频同轴连接器的线芯（6）焊接，且射频同轴连接器（5）与射频回路（3）通过外回路层360°焊接固定。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宋博，
申请(专利权)人：西安开容电子技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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