【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种测试装置及系统，特别涉及ー种用于测试芯片等测试样品的电学特性的装置及系统。
技术介绍
芯片是ー种常见的电子元件，在很多时候，需要检测芯片的电学特性，例如芯片上某两个管脚之间的电阻值。这些检测都离不开将特定的测试装置用导线和芯片上的特定管 脚电连接。ー个最直接的例子就是用万用表的两个表笔来检测芯片上某两个管脚之间的电阻值大小。另外还有一些更为精密的测试仪器，能够实现更加丰富的芯片测试功能，但在将需要测试的芯片管脚和测试仪器相互电连接时，都离不开探测头和芯片管脚的物理触碰。由于现在芯片的体积日趋微型化，这样ー来，芯片的管脚就不可避免地要变得更细小，管脚之间变得更加靠近。在市面上，管脚间距在0. 5mm甚至更小的芯片比比皆是。在检测这种小管脚间距的芯片时，一种比较常见的办法是用探针来接触管脚。例如，在万用表的两个表笔上分別连接ー根细针，用针尖去触碰管脚。这种方法操作起来很麻烦，不仅细针的针尖无法和管脚固定，而且操作者的手在自然抖动时就很容易超过0. 5mm的幅度，容易发生脱接或错接。这种测试方法可靠性很差且费时费力。一种改进的方法是将芯片固定在一个设有显...
【技术保护点】
一种电性测试装置，其特征在于，包括一个基板，所述基板上设有至少一个芯片卡槽，所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线，每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张弓长，王文赫，曾元宏，
申请(专利权)人：国网电力科学研究院，国家电网公司，
类型：实用新型
国别省市：
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