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一种原子塞曼频率的测量仪制造技术

技术编号:8377203 阅读:197 留言:0更新日期:2013-03-01 06:00
本实用新型专利技术公开了一种原子塞曼频率的测量仪,属于原子频标领域。测量仪:用于使原子产生辐射光的光辐射模块;辐射光的谱线包括两个超精细结构成分;用于采用原子的同位素滤除两个超精细结构成分中的一个,得到过滤后的辐射光的过滤模块;用于在过滤后的辐射光的照射下,通过磁场和射频信号的作用,使微波腔中的原子发生分裂并产生共振跃迁的分裂跃迁模块;微波腔中的原子与光辐射模块中的原子为同一种原子;用于实时检测透过分裂跃迁模块的辐射光的强度,并产生光强信号的光检模块;用于为微波腔提供射频信号,根据射频信号与光强信号的对应关系,得到原子的吸收谱线,并根据吸收谱线计算原子的基态超精细塞曼频率的主控计算模块。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及原子频标领域,特别涉及一种原子塞曼频率的测量仪
技术介绍
塞曼效应是原子在外部磁场作用下,能级发生分裂的现象。在原子发生塞曼效应后,基态的超精细能级之间的跃迁频率被称为原子基态超精细塞曼频率。随着铷原子频标的广泛应用,通常需对铷原子基态超精细塞曼频率进行测量,以作为原子钟量子鉴频参考频率值。现有测量铷原子基态超精细塞曼频率的方法包括将充以87Rb的玻璃泡置入一个加有磁场的微波谐振腔内,将腔的共振频率调整在87Rb基态相应超精细能级跃迁频率上,然后通过微波检测测量仪获得87Rb的吸收谱线,根据该吸收谱线 可得到铷原子基态超精细塞曼频率。在实现本技术的过程中,专利技术人发现现有技术至少存在以下问题由于气态87Rb粒子数密度小,使用现有的测量方法在常温时得到的两个超精细能级间的粒子数差是非常小的,所以得到的原子吸收谱线非常微弱,根据该吸收谱线所测量的铷原子基态超精细塞曼频率存在一定误差。
技术实现思路
为了提高测量塞曼频率的精确度,本技术实施例提供了一种原子塞曼频率的测量仪。所述技术方案如下—种原子塞曼频率的测量仪,所述测量仪包括用于使原子产生辐射光的光辐射模块;所述辐射光的谱线包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种原子塞曼频率的测量仪,其特征在于,所述测量仪包括:用于使原子产生辐射光的光辐射模块;所述辐射光的谱线包括两个超精细结构成分;用于采用所述原子的同位素滤除所述两个超精细结构成分中的一个,得到过滤后的辐射光的过滤模块;用于在所述过滤后的辐射光的照射下,通过磁场和射频信号的作用,使微波腔中的原子发生分裂并产生共振跃迁的分裂跃迁模块;所述微波腔中的原子与所述光辐射模块中的原子为同一种原子;用于实时检测透过所述分裂跃迁模块的辐射光的强度,并产生光强信号的光检模块;用于为所述微波腔提供所述射频信号,根据所述射频信号与所述光强信号的对应关系,得到所述原子的吸收谱线,并根据所述吸收谱线计算所述原子的基态超...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:雷海东
申请(专利权)人:江汉大学
类型:实用新型
国别省市:

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