一种OTDR测试曲线降噪的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:8367808 阅读:371 留言:0更新日期:2013-02-28 07:25
本发明专利技术揭示了一种OTDR测试曲线降噪的方法和装置,其通过时域变换频域模块将OTDR测试曲线的点序列进行时域变换频域的离散傅里叶变换后,在频域中通过低通滤波模块将OTDR曲线进行低通滤波处理,将曲线中的高频部分过滤,得到低频部分的曲线,然后再通过频域逆变时域模块将滤波后的曲线进行离散傅里叶逆变换,将曲线还原至时域下的OTDR曲线,如此,使得OTDR测试曲线中的噪声得以有效地降低,从而提高了寻找曲线中的事件点的效率和准确性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种OTDR测试曲线降噪的方法,其特征在于包括:S1,将OTDR测试曲线点序列进行时域变换频域的离散傅里叶变换;S2,将OTDR曲线进行低通滤波处理,将曲线中的高频部分过滤,得到低频部分的曲线;S3,将滤波后的曲线进行离散傅里叶逆变换,将曲线还原至时域下的OTDR曲线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:季莹徐尧陈彦民
申请(专利权)人:苏州铭达信远通信科技有限公司
类型:发明
国别省市:

相关技术
    暂无相关专利
网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1