Z扫描光学非线性测量装置和测量方法制造方法及图纸

一种Z扫描光学非线性测量装置和测量方法，本发明专利技术可以实现两个激光波长的测量，光源既可以是连续光，也可以是脉冲光，且脉冲宽度和重复频率可调；入射激光功率从0到100%连续可调；装置中的光隔离器能有效消除光学元件及待测样品表面反射光对激光器的影响，使得测量结果准确可靠；旋转λ/4波片可以测量线偏振、圆偏振、椭圆偏振态激光作用下样品的非线性光学参数；调节光路，改变两束光的相对强度可以实现双色时间分辨的非线性吸收和折射测量；调节泵浦光和探测光的偏振态可以测量不同偏振态激光作用下样品的时间响应特性；能够同时测量透射开孔、透射闭孔和反射开孔数据，不仅适用于测量透明样品，也适用于测量半透明样品。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及非线性光学，特别是一种用于透明样品和半透明样品非线性吸收系数和非线性折射率测量的。
技术介绍
材料的三阶光学非线性使得折射率和吸收系数与光强成正比，利用该非线性效应，可制备实时动态全光开关、光学晶体管、光限幅器和光学双稳态器件并应用于光学超分辨。利用材料的非线性效应，对非线性光学参数的测量非常关键。传统测量光学非线性方法有非线性干涉、简并四波混频、近简并三波混频、椭偏技术和光束畸变测量等。前四种方法测量灵敏度高，但是不能测量非线性折射率的符号，而且测量装置非常复杂，实现起来比较困难。 1990年，由M. Sheik-Bahae等人首先提出来的单光束Z-扫描技术具有装置简单、测量灵敏度较高等优点，可以探测到λ/300的波前畸变，而且这种方法可同时测量非线性折射率和非线性吸收系数的大小与符号(参见SHEIK-BAHAE，Μ. ; SAID, A. A. ;WEI, T.Η. ;HAGAN, D. J. ；STRYLAND, E. ff. V. , Sensitive measurement of optical nonlinearitiesusinga single be本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于透明样品和半透明样品非线性吸收系数和非线性折射率测量的Z扫描测量装置，特征在于其构成包括输出波长为λ1的第一激光器（2）和输出波长为λ2的第二激光器（10），沿所述的第一激光器（2）输出激光的主光轴方向上依次是第一滤波小孔（3）、第一λ/2波片（4）、第一分束镜（5）、第一光隔离器（7）、第一λ/4波片（8）、双色分光镜（9）、扩束镜（17）、聚焦透镜（18）、非偏振分束棱镜（19）、待测样品（20）、第一双凸透镜（22）、第三分束镜（23）、小孔（24）和第三光电探测器（25）；沿所述的第二激光器（10）输出激光的前进方向依次是第二滤波小孔（11）、第二λ/2波片（12）、第二分束镜...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡晓林，魏劲松，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：