玻璃熔片均匀性的检验方法技术

本发明专利技术公开了一种玻璃熔片均匀性的检验方法，属于光谱分析领域。该方法是选定一个含量最高的主元素或含量较高的生成酸性氧化物的元素作为测定元素，对熔片中选定的若干个微区进行检测，并对该元素的强度进行统计处理，计算其相对标准偏差，当相对标准偏差小于0.7时，该玻璃熔片具有足够的均匀性。与现有技术相比，本发明专利技术的玻璃熔片均匀性的检验方法具有操作简单、测试效率高等特点，可广泛应用于X射线荧光光谱分析之中，具有很好的推广应用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱分析领域，具体地说是一种。
技术介绍
不均匀效应是X射线荧光光谱定量分析中影响测量准确度的关键因素之一。目前，克服不均匀效应的主要方法有研磨压片法、溶解液化制样法、熔融制样法(玻璃熔片法)。研磨压片法就是对粉末样品进行一定时间的研磨而后进行加压成型的制样方法，其主要优点为操作简单，但仅能缓解不均匀效应，而无法消除，对轻元素而言无论如何也达 不到定量要求。溶解液化制样法通过特别的化学试剂和处理方法，把粉末样品转化为液态样品，使相态单一，完全没有不均匀效应，但液态样品对仪器往往有致命伤害，不到万不得已，通常不推荐使用。熔融制样法(玻璃熔片法)是将熔剂(如Na2B4O7)与粉末样品以一定比例混合放入坩埚内，于900-1300°C内的某一固定温度下熔融，冷却熔融体即制得玻璃状试样的方法，通常称为玻璃熔片法。高温热源通常为电炉、高频炉等。熔剂通常为Na2B407、Li2B407、LiB02等。熔融制样法通过选择合适的熔剂、经过液态状高温熔融体的处理，可以完全消除粉末样品所固有的不均匀效应。熔融制样法(玻璃熔片法)的最终目的是为X-荧光光谱分析测试提供一个合格的玻璃熔片，即相本文档来自技高网...

【技术保护点】
玻璃熔片均匀性的检验方法，其特征在于：选定一个含量最高的主元素或含量较高的生成酸性氧化物的元素作为测定元素，对熔片中选定的若干个微区进行检测，并对该元素的强度进行统计处理，计算其相对标准偏差，当相对标准偏差小于0.7时，该玻璃熔片具有足够的均匀性。

【技术特征摘要】
1.玻璃熔片均匀性的检验方法，其特征在于选定一个含量最高的主元素或含量较高的生成酸性氧化物的元素作为测定元素，对熔片中选定的若干个微区进行检测，并对该元素的强度进行统计处理，计算其相对标准偏差，当相对标准偏差小于O. 7时，该玻璃熔片具有足够的均匀性。2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：白雪冰，洪飞，王卿，袁家义，
申请(专利权)人：白雪冰，洪飞，王卿，袁家义，
类型：发明
国别省市：