本实用新型专利技术公开了一种低损耗电阻测试装置，用于快速检测电阻的阻值，且该电阻两端分别设有接脚，该低损耗电阻测试装置包括基座板，基座板上设有电阻表和左铜带、右铜带，其中，电阻表的2个端子分别连接左铜带和右铜带，且左铜带和右铜带呈“八”字型分布，所述左铜带和右铜带之间设有滑块，滑块上设有容纳槽，容纳槽的两端设有保护槽，其中，电阻放置于容纳槽内，且2个接脚分别和2个保护槽相配。本实用新型专利技术所具有的优点是：检测电阻阻值速度较快、电阻的损耗率较低。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子仪表
，尤其是涉及一种低损耗电阻测试装置。技术背景 电阻是电子、电器领域最为常见的电子元件。由于其使用量极大，而且使用部位较为集中，所以使用时极易混淆。因此，为了能够直观的体现电阻的阻值，多通过在电阻表面设置标识环的方式。这样的方式虽然较为通用，但是在实际生产线中，操作者持久观察时易于出错，且对于色弱或色盲人群而言，极具障碍，从而通用性较差。当然，也可以通过电阻表进行逐个测试的方式，但是这样的测试方式需要将电阻的接脚和电阻表端子连接的测试棒分别连接，较为浪费时间。为此，本专利技术人专利技术了一种电阻测试装置，该电阻测试装置包括基座板，基座板上设有电阻表和左铜带、右铜带。其中，电阻表的2个端子分别连接左铜带和右铜带，且左铜带和右铜带呈“八”字型分布。使用时，仅需使用者将电阻两端的接脚分别压紧在左铜带和右铜带上，电阻表即可显示该电阻的阻值。这样，该电阻测试装置通用性较强、测试速度较快。但是在实际使用中发现，该电阻测试装置存在着电阻的接脚易于压断的缺陷。因此有必要继续改进。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的不足，本专利技术的目的是提供一种低损耗电阻测试装置，它具有在保证快速检测电阻阻值的前提下，电阻的接脚不易折断，从而电阻的损耗率较低的特点。为了实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案是低损耗电阻测试装置，用于快速检测电阻的阻值，且该电阻两端分别设有接脚，该低损耗电阻测试装置包括基座板，基座板上设有电阻表和左铜带、右铜带，其中，电阻表的2个端子分别连接左铜带和右铜带，且左铜带和右铜带呈“八”字型分布，所述左铜带和右铜带之间设有滑块，滑块上设有容纳槽，容纳槽的两端设有保护槽，其中，电阻放置于容纳槽内，且2个接脚分别和2个保护槽相配。所述2个保护槽的宽度均为1mm。所述基座板上位于左铜带和右铜带之间设有滑槽，该滑槽和滑块相配。所述左铜带和右铜带均为一端固定在基座板上、另一端呈自由状态。采用上述结构后，本专利技术和现有技术相比所具有的优点是1、检测电阻阻值速度较快。本专利技术的低损耗电阻测试装置对电阻阻值进行检测时，通过电阻表显示阻值，易于查看。同时，无需将电阻的接脚和电阻表端子连接的测试棒进行分别连接，仅需将电阻的2个接脚接触到左铜带和右铜带，从而速度较快。2、电阻的损耗率较低。使用时，电阻放置于容纳槽内，电阻的接脚从容纳槽两端的保护槽内穿出。由于保护槽的宽度较小，从而接脚和铜带接触时，弯折的挠度较小，从而接脚不易折断，使电阻在测试时的损耗率较低。以下结合附图和实施例对本专利技术进一步说明图I是本专利技术的实施例的主视 图；图2是图I的放大了的A— A向视图。图中10、基座板，11、滑槽；20、电阻表；31、左铜带，32、右铜带；40、滑块，41、容纳槽，411、保护槽；100、电阻，101、接脚。具体实施方式以下所述仅为本专利技术的较佳实施例，并不因此而限定本专利技术的保护范围。实施例，见图I和图2所示低损耗电阻测试装置，用于快速检测电阻100的阻值，且该电阻100两端分别设有接脚101。该低损耗电阻测试装置包括基座板10，基座板10上设有电阻表20和左铜带31、右铜带32。其中，电阻表20的2个端子分别连接左铜带31和右铜带32，且左铜带31和右铜带32呈“八”字型分布。这样，仅需使接脚101分别接触左铜带31、右铜带32，即可从电阻表20上快速读出阻值。为此，左铜带31和右铜带32之间设有滑块40，滑块40上设有容纳槽41，容纳槽41的两端设有保护槽411。其中，电阻100放置于容纳槽41内，且2个接脚101分别和2个保护槽411相配。所谓相配，指的是保护槽411在保证接脚101能够快速放入的前提下，宽度较窄。比如，该保护槽411的宽度可以为1mm。这样，电阻100快速放好后，2个接脚101的端部裸露在滑块40的两侧之外，之后通过推动滑块40，使接脚101分别接触左铜带31和右铜带32。在该过程中，由于接脚101在保护槽411的限制下，弯曲挠度较小，从而不易折断。优化的，基座板10上位于左铜带31和右铜带32之间设有滑槽11，该滑槽11和滑块40相配。即，滑块40沿该滑槽11移动。进一步，左铜带31和右铜带32均为一端固定在基座板10上、另一端呈自由状态。这样，进一步发挥了左铜带31和右铜带32的弹性,避免了接脚101和左铜带31、右铜带32的硬性接触。电阻表目前已广泛使用，其结构和原理与现有技术相同，这里不再赘述。权利要求1.低损耗电阻测试装置，用于快速检测电阻(100)的阻值，且该电阻(100)两端分别设有接脚(101)，该低损耗电阻测试装置包括基座板(10)，基座板(10)上设有电阻表(20)和左铜带(31)、右铜带(32 )，其中，电阻表(20 )的2个端子分别连接左铜带(31)和右铜带(32)，且左铜带(31)和右铜带(32)呈“八”字型分布，其特征在于所述左铜带(31)和右铜带(32 )之间设有滑块(40 )，滑块(40 )上设有容纳槽(41)，容纳槽(41)的两端设有保护槽(411)，其中，电阻(100)放置于容纳槽(41)内，且2个接脚(101)分别和2个保护槽(411)相配。2.根据权利要求I所述的低损耗电阻测试装置，其特征在于所述2个保护槽(411)的宽度均为1mm。3.根据权利要求I所述的低损耗电阻测试装置，其特征在于所述基座板(10)上位于左铜带(31)和右铜带(32)之间设有滑槽(11)，该滑槽(11)和滑块(40)相配。4.根据权利要求I至3中任一项所述的低损耗电阻测试装置，其特征在于所述左铜带(31)和右铜带(32)均为一端固定在基座板(10)上、另一端呈自由状态。专利摘要本技术公开了一种低损耗电阻测试装置，用于快速检测电阻的阻值，且该电阻两端分别设有接脚，该低损耗电阻测试装置包括基座板，基座板上设有电阻表和左铜带、右铜带，其中，电阻表的2个端子分别连接左铜带和右铜带，且左铜带和右铜带呈“八”字型分布，所述左铜带和右铜带之间设有滑块，滑块上设有容纳槽，容纳槽的两端设有保护槽，其中，电阻放置于容纳槽内，且2个接脚分别和2个保护槽相配。本技术所具有的优点是检测电阻阻值速度较快、电阻的损耗率较低。文档编号G01R27/02GK202720275SQ201220379400公开日2013年2月6日 申请日期2012年8月2日 优先权日2012年8月2日专利技术者阮献忠 申请人:泰州市双宇电子有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
低损耗电阻测试装置，用于快速检测电阻（100）的阻值，且该电阻（100）两端分别设有接脚（101），该低损耗电阻测试装置包括基座板（10），基座板（10）上设有电阻表（20）和左铜带（31）、右铜带（32），其中，电阻表（20）的2个端子分别连接左铜带（31）和右铜带（32），且左铜带（31）和右铜带（32）呈“八”字型分布，其特征在于：所述左铜带（31）和右铜带（32）之间设有滑块（40），滑块（40）上设有容纳槽（41），容纳槽（41）的两端设有保护槽（411），其中，电阻（100）放置于容纳槽（41）内，且2个接脚（101）分别和2个保护槽（411）相配。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：阮献忠，
申请(专利权)人：泰州市双宇电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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