毫米波成像扫描检测装置及系统制造方法及图纸

技术编号:8300308 阅读:181 留言:0更新日期:2013-02-07 03:12
一种毫米波成像扫描检测装置,包括支架、毫米波发射源、竖直导轨、载物台及水平导轨;所述支架为板状结构;所述毫米波发射源用于发射毫米波;所述竖直导轨设置于所述支架的一侧面上;所述载物台可滑动地连接于所述竖直导轨上,所述载物台用于承载毫米波发射源;所述水平导轨设置于所述载物台上,所述毫米波发射源通过所述水平导轨可滑动地连接于所述载物台上。上述毫米波成像扫描检测系统在工作时,其辐射剂量较低,对人体伤害较小,有利于大范围的使用。同时还提供了一种毫米波成像扫描检测系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及安检
,特别是涉及一种毫米波成像扫描检测装置及系统
技术介绍
毫米波为波长为I 10毫米的电磁波,它位于微波与远红外波相交叠的波长范围。毫米波在通信、雷达、制导、遥感技术、射电天文学和波谱学方面都有重大的意义。利用大气窗口的毫米波频率可实现大容量的卫星-地面通信或地面中继通信。利用毫米波天线的窄波束和低旁瓣性能可实现低仰角精密跟踪雷达和成像雷达。在远程导弹或航天器重返大气层时,需采用能顺利穿透等离子体的毫米波实现通信和制导。高分辨率的毫米波辐射计适用于气象参数的遥感。用毫米波和亚毫米波的射电天文望远镜探测宇宙空间的辐射波谱可以推断星际物质的成分。 毫米波具有很好的穿透性和很高的空间分辨率,同时辐射能量也较低。而传统的可以直接用于人体的安全检测设备,如X射线设备等,其发出的X射线能量较强,在安全检测时,其辐射剂量较高,容易对人体造成伤害。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种辐射剂量较低的毫米波成像扫描检测装置。一种毫米波成像扫描检测装置,包括支架,为板状结构;毫米波发射源,用于发射毫米波;竖直导轨,设置于所述支架的一侧面上;载物台,可滑动地连接于所述竖直导轨上,所述载物台用于承载毫米波发射源;及水平导轨,设置于所述载物台上,所述毫米波发射源通过所述水平导轨可滑动地连接于所述载物台上。在其中一个实施例中,还包括第一电机,设置于所述支架上,并位于所述竖直导轨的一端;第一传动轴,设置于所述竖直导轨上,所述第一电机通过所述第一传动轴与所述载物台相连接,所述第一电机通过所述第一传动轴带动所述载物台在所述竖直导轨上滑动;第二电机,设置于所述载物台上,并位于所述水平导轨的一端;及第二传动轴,设置于所述水平导轨上,所述第二电机通过所述第二传动轴与所述毫米波发射源相连接,所述第二电机通过所述第二传动轴带动所述毫米波发射源在所述水平导轨上滑动。在其中一个实施例中,所述第一电机及所述第二电机均为步进电机。在其中一个实施例中,还包括控制器,与所述第一电机及所述第二电机通信连接,所述控制器用于控制所述第一电机及所述第二电机。在其中一个实施例中,还包括底座,所述支架为梯形板状结构,其下底边设置于所述底座上。在其中一个实施例中,还包括金属箱,所述金属箱设置于所述底座上,所述控制器收容于所述金属箱中。在其中一个实施例中,所述底座由钢板或大理石板材加工制成。此外,还有必要提供一种使用上述毫米波成像扫描检测装置的毫米波成像扫描检测系统。一种毫米波成像扫描检测系统,包括上述的毫米波成像扫描检测装置;及检查室,包括设备舱,用于收容所述毫米波成像扫描检测装置;毫米波吸收舱,正对所述毫米波发射源,所述毫米波吸收舱填充有毫米波吸收材料,所述毫米波吸收材料用于吸收所述毫米波发射源发射出的毫米波;及扫描舱,位于所述设备舱及所述毫米波吸收舱之间,所述毫米波发射源发射出的毫米波从所述设备舱经所述扫描舱达到所述毫米波吸收舱。在其中一个实施例中,所述设备舱、所述扫描舱及所述毫米波吸收舱间通过聚四氟乙烯板分隔。在其中一个实施例中,所述设备舱与所述扫描舱可拆卸连接,所述扫描舱与所述毫米波吸收舱可拆卸连接。上述毫米波成像扫描检测系统在工作时,通过毫米波成像扫描检测装置上承载的毫米波发射源发出的毫米波,对位于检查室中的被检测者进行检测,在做安检时,可以清晰地分辨被检测者身上所携带的刀具等危险物品。同时其辐射剂量较低,对人体伤害较小,有利于大范围的使用。附图说明图I为一实施例的毫米波成像扫描检测系统的结构图;图2为图I所示毫米波成像扫描检测装置的具体结构图。具体实施例方式为了便于理解本专利技术,下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1,本实施例的毫米波成像扫描检测系统10,包括毫米波成像扫描检测装置100及检查室200,毫米波成像扫描检测装置100设置于检查室200中。被检测者可在检查室200中接受毫米波成像扫描。请一并参阅图2,毫米波成像扫描检测装置100包括底座110、支架120、竖直导轨130、载物台140、水平导轨150及毫 米波发射源160。支架120为板状结构,并设置于底座110上。竖直导轨130设置于支架120的一侧面上,载物台140可滑动地连接于竖直导轨130上,载物台140用于承载毫米波发射源160。水平导轨150设置于载物台140上,毫米波发射源160通过水平导轨150可滑动地连接于载物台上。工作时,被检测者站在毫米波发射源160正对位置,毫米波发射源160可以通过水平导轨150在水平方向上移动,亦可随载物台140在竖直导轨上进行竖直方向上移动,来对被检测者进行多方位的扫描。为了带动毫米波发射源160的运动,毫米波成像扫描检测装置100还包括第一电机(图未不)及第二电机(图未不)。第一电机设置于支架120上,并位于竖直导轨130的一端。竖直导轨上还设有第一传动轴(图未示),第一电机通过第一传动轴与载物台140相连接。第一电机通过第一传动轴带动载物台140在竖直导轨130上滑动。第二电机设置于载物台140上,并位于水平导轨150的一端。水平导轨150上还设有第二传动轴(图未示),第二电机通过第二传动轴与毫米波发射源160相连接,第二电机通过第二传动轴带动毫米波发射源160在水平导轨150上滑动。上述第一电机及第二电机均为步进电机,毫米波成像扫描检测装置100还包括金属箱170,金属箱170中收容有与第一电机及第二电机通信连接的控制器,控制器用于向第一电机及第二电机发出脉冲信号,第一电机及第二电机根据脉冲信号精确控制毫米波发射源160的移动,使其能够精确照射到被检测者身上所需检测的位置。金属箱170中还收容有电源及伺服系统,金属箱170具有良好的信号屏蔽性能,使其内部收容的控制器、电源及伺服系统在工作时不会受到毫米波发射源160的干扰,提高了毫米波成像扫描检测装置100工作的稳定性。具体在本实施例中,底座110为矩形板状,可由较厚的钢板或大理石板材加工制成,以提高其承重能力。底座110四角上均设置有脚轮及固定脚钉,以方便毫米波成像扫描检测装置100的移动或固定。支架120具体为梯形板状结构,由铝材加工制成。支架120的下底边垂直设置于底座110的板面上。将支架120设计为梯形,使支架120上窄下宽,以减轻其重量。竖直导轨130、载物台140及水平导轨150亦可由铝材加工制成。支架1本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种毫米波成像扫描检测装置,其特征在于,包括:支架,为板状结构;毫米波发射源,用于发射毫米波;竖直导轨,设置于所述支架的一侧面上;载物台,可滑动地连接于所述竖直导轨上,所述载物台用于承载毫米波发射源;及水平导轨,设置于所述载物台上,所述毫米波发射源通过所述水平导轨可滑动地连接于所述载物台上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:金雷时华峰于文龙刘文权汪震李姣余菲
申请(专利权)人:中国科学院深圳先进技术研究院
类型:发明
国别省市:

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