【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种低电阻触头结构及其定位方式,属于真空灭弧室
技术介绍
目前真空灭弧室实用的触头在焊接时基本上都是采用外圆柱面定位或者内台阶定位,不管是采用外圆柱面定位或者是内台阶定位,均不能防止触头相对于触头托(或线圈)轴心的旋转,因此会造成触头焊接后灭弧槽错位,产生废品;另外在采用内台阶定位的情况下,由于台阶深度加工误差或根部不清角等原因,会有焊接不良的情况发生,这种不良品从外观上检测不出,但是在组装成产品后,由于缺陷的存在会造成产品接触电阻大,产品在使用时导电和导热不良,容易熔焊而导致故障的发生。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种新的触头和触头托(或线圈)的定位方式,所述触头与触头托的定位方式为定位点定位,通过在触头上的定位凹槽和触头托上的定位凸块来定位,新型触头定位效果好,使后期装配焊接性能得到有效改善,提高产品的一次合格率。本技术的构成一种真空灭弧室新型纵磁线圈结构包括触头、触头托,触头焊接面有I个或I个以上的定位凹槽,触头托上开有和触头上定位凹槽个数相同,位置对应的定位凸块,触头通过定位凹槽和定位凸块的配合达到与触头托定位。与现有技术相比, ...
【技术保护点】
一种低电阻触头结构,其特征在于:包括触头(1),触头(1)焊接面有1个或1个以上的定位凹槽(2),触头托(3)上开有和触头(1)上定位凹槽(2)个数相同,位置对应的定位凸块(4),通过定位凹槽(2)和定位凸块(4)的配合达到触头(1)与触头托(3)定位。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:康一,
申请(专利权)人:中国振华电子集团宇光电工有限公司国营第七七一厂,
类型:实用新型
国别省市:
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