下颌美学设计器制造技术

技术编号:8277370 阅读:229 留言:0更新日期:2013-01-31 18:44
本实用新型专利技术涉及一种下颌美学设计器,包括基尺,所述基尺一侧设置有尺头,尺头向下弯折,基尺的下侧边设置有滑动头,滑动头具有向下的弯折部,所述滑动头可在基尺的下侧面自由滑动,滑动头上安装有固定卡,固定卡可将滑动头固定在基尺上,本实用新型专利技术所述下颌美学设计器克服了目前临床外科领域中存在的双侧下颌骨截骨量的不对称问题,在手术中准确地解决下颌骨截骨量的多少。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种整形外科手术工具,特别涉及一种用于下颌手术的美学设计器。
技术介绍
由于目前整形外科领域对双侧下颌骨截骨量的多少只能根据每个医生的临床经验来决定,往往双侧下颌骨的截骨量或者存留的骨量不对称,不能达到完全一致,以至于术后美学效果不稳定。
技术实现思路
本技术提供了一种下颌美学设计器,克服目前临床外科领域中存在的双侧下·颌骨截骨量的不对称问题,在手术中准确地解决下颌骨截骨量的多少。本技术为解决上述技术问题所采用的技术方案是一种下颌美学设计器,包括基尺,其特征在于所述基尺一侧设置有尺头,尺头向下弯折,基尺的下侧边设置有滑动头,滑动头具有向下的弯折部,所述滑动头可在基尺的下侧面自由滑动,滑动头上安装有固定卡,固定卡可将滑动头固定在基尺上。所述基尺的另一侧设置有尺托。所述基尺上设置有刻度。所述尺头的端头设置有标记笔。本专利技术具有如下的技术效果对于双侧下颌骨性肥大的患者来说,患者会要求下颌骨截骨能达到面部美观的目的,但以往技术在下颌骨截骨量的多少问题上存在盲目性,手术往往达不到手术后双侧下颌角的完全对称。本技术所述的测量器能够非常准确的标定截骨的位置,以使得截骨手术后双侧保留的下颌角完本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种下颌美学设计器,包括基尺(1),其特征在于所述基尺(1)一侧设置有尺头(2),尺头(2)向下弯折,基尺(1)的下侧边设置有滑动头(5),滑动头(5)具有向下的弯折部(3),所述滑动头(5)可在基尺(1)的下侧面自由滑动,滑动头(5)上安装有固定卡(4),固定卡(4)可将滑动头(5)固定在基尺(1)上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张艳红杨永成
申请(专利权)人:海南瑞韩医学美容中心普通合伙
类型:实用新型
国别省市:

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