【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种根据权利要求I的用于角度测量的装置以及一种根据权利要求9的用于角度测量的方法。根据本专利技术的装置或用于角度测量的方法尤其可在测量带有较大直径的轴的角位置时以及在圆工作台中和在望远镜应用中决定性地改善精度。
技术介绍
用于测量轴(例如圆工作台)的角位置的高精度的量角器是已知的。带有测量系统侧的轴和自支承(Eigenlagerung)的变体例如在书“Digitale Laengen- undWinkelmesstechnik”，A. Ernst, Moderne Industrie 出版社，第 3 版 1998 年，61-64 页中进行说明。为了达到较高的精度，一方面在测量系统中必须使用非常精确的且因此非常 昂贵的精密轴承，另一方面必须动用较高的耗费，以便借助于合适的离合器将测量系统的轴(其承载带有径向的测量刻度的分度盘)与待测量的轴相连接。另外，从上述书第64-70页已知不带自支承的量角器，在其中旋转对称的测量刻度或相应的分度盘被直接布置在待测量的轴上。用于探测(Abtasten)测量刻度的相应的探测单元相对于扭转的分度盘静止地来布置。作为测量刻度，在...
【技术保护点】
一种以量角器(10)的形式的用于角度测量的装置，其包括：·刻度架(20,？200)，其具有同心于其中心布置的码道(25)，·至少两个用于通过探测所述码道(25)来确定所述刻度架(20,？200)的角度值的探测单元(30？33)，·控制单元(40)，其带有用于与后续电子装置(100)通讯的仪器接口(42)和至少一个用于与所述探测单元(30？33)的接口(35？38)通讯的接口(45？48)，其中，所述控制单元(40)包括处理单元(41)，由其经由所述至少一个接口(45？48)能够请求所述探测单元(30？33)的角度值且能够处理成修正的角度值且所述修正的角度值经由所述仪器接口(...
【技术特征摘要】
2011.07.28 DE 102011079961.31.一种以量角器(10)的形式的用于角度测量的装置，其包括 刻度架(20，200)，其具有同心于其中心布置的码道(25)， 至少两个用于通过探测所述码道(25)来确定所述刻度架(20，200)的角度值的探测单元(30-33)， 控制单元(40)，其带有用于与后续电子装置(100)通讯的仪器接口(42)和至少一个用于与所述探测单元(30-33)的接口(35-38)通讯的接口(45-48)， 其中，所述控制单元(40)包括处理单元(41)，由其经由所述至少一个接口(45-48)能够请求所述探测单元(30-33)的角度值且能够处理成修正的角度值且所述修正的角度值经由所述仪器接口(42)能够传输至所述后续电子装置(100)。2.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，角度值的请求能够通过从所述后续电子装置(100)到达所述仪器接口(42)处的位置请求指令发动。3.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述处理单元(41)另外包括节拍发生器(420，530)且角度值的请求能够由所述节拍发生器(420，530)控制。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述处理单元(41)另外包括 时间测量单元(430)，利用其能够测量在角度值的最后的请求直至位置请求指令到达所述仪器接口(42)处之间的时间， 外插单元(410)，在位置请求指令到达之后利用其能够计算外插的角度值，和 修正单元(440)，其将所述外插的角度值处理成修正的角度值。5.根据权利要求2或3中任一项所述的装置，其特征在于，所述处理单元(41)另外包括 用于从角度值确定修正值的修正值确定单元(520)和 修正单元(440)，利用其能够从主导的探测单元(30)的当前的角度值和所述修正值计算修正的角度值。6.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述处理单元(41)另外包括触发单元(620)和修正单元(610)，其中，所述触发...
【专利技术属性】
技术研发人员：S比尔斯基，E施特拉泽，S克吕策，A科布勒，D佩鲁辛，E迈耶，
申请(专利权)人：约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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