测头制造技术

技术编号:8270149 阅读:230 留言:0更新日期:2013-01-31 01:54
本发明专利技术涉及一种测头,其包括壳体(1),其中,壳体(1)具有:第一壳体单元(1.1),其确定用于固定在机器处;和第二壳体单元(1.2),探针(2)可偏转地支承在其处。第二壳体单元(1.2)可动地在第一壳体单元(1.1)处可偏转地支承。此外,测头具有开关单元(1.5),其包括第一接触元件(1.15)和第二接触元件(1.25),其中,接触元件(1.15,1.25)这样布置,使得在第二壳体单元(1.2)相对于第一壳体单元(1.1)偏转时接触元件(1.15,1.25)根据偏转的方向可在不同的点(Px,Py)处带到相互接触,其中,通过该接触可触发电气开关信号。

【技术实现步骤摘要】
测头
本专利技术涉及一种根据权利要求1的测头(Tastkopf),其尤其能够可靠地且耐用地运行。
技术介绍
探测系统例如被用于工件的位置确定,工件夹紧在加工材料的机器(例如铣床)中。该探测系统经常具有静止的发射器-接收器单元(其固定在加工材料的机器的位置固定的元件处)和可相对于此移动的或活动的零件(其经常被称为测头)。测头大多安装在加工材料的机器的可移动的元件处、例如在铣床主轴处。在此,测头包括可从静止位置偏转的探针(Taststift)或可偏转的探测元件,其在从其静止位置中偏转出来时产生开关信号。探测元件的静止位置理解成探测元件的不与工件接触的位置。在探测元件与工件接触时,探测元件被从其静止位置中偏转出来。在文件DE3532184C1中例如说明了一种测头,在其中通过中心的支承和单个从中线偏移的开关提供一种防撞装置。
技术实现思路
本专利技术另外目的在于提供一种测头,其相对壳体的碰撞是不敏感的且尽管如此达到特别高的测量精度。该目的根据本专利技术通过带有权利要求1的特征的测头来实现。相应地,测头包括壳体和探针,其中,壳体具有带有纵轴线的第一壳体单元。该第一壳体单元尤其确定用于固定在机器处。本文档来自技高网...
测头

【技术保护点】
一种测头,其包括壳体(1)和探针(2),其中,所述壳体(1)??具有带有纵轴线(A)的第一壳体单元(1.1),其中,所述第一壳体单元(1.1)确定用于固定在机器处,并且??具有第二壳体单元(1.2),所述探针(2)可偏转地支承在其处,其中,在所述探针(2)相对于所述第二壳体单元(1.2)偏转时能够由传感器单元(1.22)触发电信号,并且所述第二壳体单元(1.2)可动地在所述第一壳体单元(1.1)处可偏转地支承,且所述测头此外具有开关单元(1.5),其包括第一接触元件(1.15)和第二接触元件(1.25),其中,所述接触元件(1.15,?1.25)这样布置,使得在所述第二壳体单元(1.2)相对于...

【技术特征摘要】
2011.07.25 DE 102011079738.61.一种测头,其包括壳体(1)和探针(2),其中,所述壳体(1)-具有带有纵轴线(A)的第一壳体单元(1.1),其中,所述第一壳体单元(1.1)确定用于固定在机床处并且具有锥形的区域(1.12),所述锥形的区域能够被引入所述机床的卡盘中,-具有第二壳体单元(1.2),所述探针(2)可偏转地支承在其处,其中,在所述探针(2)相对于所述第二壳体单元(1.2)偏转时能够由传感器单元(1.22)触发电信号,并且所述第二壳体单元(1.2)可动地在所述第一壳体单元(1.1)处可偏转地支承,且所述测头此外具有开关单元(1.5),其包括第一接触元件(1.15)和第二接触元件(1.25),其中,所述第一接触元件(1.15)和所述第二接触元件(1.25)这样布置,使得在所述第二壳体单元(1.2)相对于所述第一壳体单元(1.1)偏转时所述第一接触元件(1.15)和所述第二接触元件(1.25)根据偏转的方向能够在不同的点(Px,Py)处被置于相互接触中,其中,通过所述接触能够触发电气开关信号。2.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述第一接触元件(1.15)和所述第二接触元件(1.25)在所述第二壳体单元(1.2)相对于所述第一壳体单元(1.1)未偏转的状态中通过轴向的气隙(d)来彼此分离。3.根据权利要求1所述的测头,其特征在于,所述第一接触元件(1.15)和所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员:R肖普夫
申请(专利权)人:约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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