一种PLC耦合和性能测试合并的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪（1）、显微镜（4）、画面分割器（6）、显示器（7）和六维调整架（8）；其特征在于：所述的多通道测试仪（1）连接六维调整架（8），显微镜（4）位于六维调整架（8）上方，显微镜（4）连接有画面分割器（6），画面分割器（6）连接有显示器（7）；所述的六维调整架（8）设置有左调整架（9）、中调整架（10）和右调整架（11）。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种PLC耦合和性能测试合并的装置。
技术介绍
在光通信产品PLC (Planar Lightwave Circuit Splitter,平面光波导分路器)的生产过程中，最为关键的工序就为耦合封装先把输入FA、芯片、输出FA (Fiber Array光纤阵列)放置在六维调整架上，分别进行6个自由度3个平动(X、Y、Z)和3个转动(α、3、g)的精确地对准，定位出最佳光功率耦合点以保证光功率输出的最大化和均匀化，然后用特种UV胶水进行粘接固化，使三者成为一体；在耦合封装操作过程中，调整并确保3个面的平动和3个面的转动都非常的关键，对产品的质量及后期可靠性起到了决定性的作 用。传统的耦合只对FA第一通道和最后一个通道进行一个波段的测量，如果第一通道和最和一个通道性能参数合格，则默认这个产品合格。但实际生产过程中，存在以下问题I.如果FA或芯片中间通道存在脏污，导致其他的通道不合格。2.耦合时只对一个波段进行了监控，其他波段无法确认是否合格。3.多通道的耦合中，如1x32或1x64，因为光纤的数量比较多，容易选错光纤，导致率禹合好的产品不合格。4.传统的耦合中只对耦合产品进行第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪（1）、显微镜（4）、画面分割器（6）、显示器（7）和六维调整架（8）；其特征在于：所述的多通道测试仪（1）连接六维调整架（8），显微镜（4）位于六维调整架（8）上方，显微镜（4）连接有画面分割器（6），画面分割器（6）连接有显示器（7）；所述的六维调整架（8）设置有左调整架（9）、中调整架（10）和右调整架（11）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄泽，
申请(专利权)人：张家界经天光电设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：