本实用新型专利技术公开了一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪（1）、显微镜（4）、画面分割器（6）、显示器（7）和六维调整架（8）；其特征在于：所述的多通道测试仪（1）连接六维调整架（8），显微镜（4）位于六维调整架（8）上方，显微镜（4）连接有画面分割器（6），画面分割器（6）连接有显示器（7）；所述的六维调整架（8）设置有左调整架（9）、中调整架（10）和右调整架（11）。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种PLC耦合和性能测试合并的装置。
技术介绍
在光通信产品PLC (Planar Lightwave Circuit Splitter,平面光波导分路器)的生产过程中，最为关键的工序就为耦合封装先把输入FA、芯片、输出FA (Fiber Array光纤阵列)放置在六维调整架上，分别进行6个自由度3个平动(X、Y、Z)和3个转动(α、3、g)的精确地对准，定位出最佳光功率耦合点以保证光功率输出的最大化和均匀化，然后用特种UV胶水进行粘接固化，使三者成为一体；在耦合封装操作过程中，调整并确保3个面的平动和3个面的转动都非常的关键，对产品的质量及后期可靠性起到了决定性的作 用。传统的耦合只对FA第一通道和最后一个通道进行一个波段的测量，如果第一通道和最和一个通道性能参数合格，则默认这个产品合格。但实际生产过程中，存在以下问题I.如果FA或芯片中间通道存在脏污，导致其他的通道不合格。2.耦合时只对一个波段进行了监控，其他波段无法确认是否合格。3.多通道的耦合中，如1x32或1x64，因为光纤的数量比较多，容易选错光纤，导致率禹合好的产品不合格。4.传统的耦合中只对耦合产品进行第一通道和最后一通道的IL监控，PDL是否合格无法判定。传统的耦合不仅浪费大量的工时，而且浪费贵重的胶水，浪费插芯，FA和单纤Pigatail ο
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种能通过简单方便的PLC耦合和性能测试合并的装置。为实现以上目的，本技术采用的技术方案一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪(I)、显微镜(4)、画面分割器(6)、显示器(7)和六维调整架(8);其特征在于所述的多通道测试仪(I)连接六维调整架(8)，显微镜(4)位于六维调整架(8)上方，显微镜(4)连接有画面分割器(6)，画面分割器(6)连接有显示器(7);所述的六维调整架(8)设置有左调整架(9)、中调整架(10)和右调整架(11)。本技术的有益效果耦合时就能直接判断耦合的PLC是否合格。从而避免不合格的产品流入下一道工序中，减少胶水浪费，芯片，FA，光纤的报废。因在耦合时就进行了测量，可以减少后续裸纤测试这个工序，从而大大的降低了成本和工时。附图说明图I为本技术示意图。图2为六维调整架的结构示意图。在图中，I、多通道测试仪；2、输入FA ;3、芯片；4、显微镜；5、输出FA ;6、画面分割器；7、显示器；8、六维调整架；9、左调整架；10、中调整架；11、右调整架。具体实施方式结合图I对本技术作进一步描述。如图I一2所示，本技术的装配连接关系为本技术包括多通道测试仪I、显微镜4、画面分割器6、显示器7和六维调整架8 ;其特征在于所述的多通道测试仪I连 接六维调整架8，显微镜4位于六维调整架8上方，显微镜4连接有画面分割器6，画面分割器6连接有显示器7 ;所述的六维调整架8设置有左调整架9、中调整架10和右调整架11。本技术在实际工作过程中的工作流程I.将输入FA2置于六维调整架8的左调整架9上，将芯片3置于六维调整架8的中调整架10上，将输出FA5置于六维调整架8的右调整架11上。2.多通道测试仪I同时连接六维调整架8的左调整架9和右调整架11，用于随时控制六维调整架8的运动。3.通过显微镜4对接口处进行观察，并通过画面分割器6把观测到的结果输入到显示器7。通过显示器7可直接判断耦合的PLC是否合格。如耦合合格，对接口采用胶水粘接。如耦合不合格，通过六维调整架8调整FA与芯片3之间的相对位置，达到耦合合格标准，即可对接口采用胶水粘接。4.若耦合参数都合格则烤胶。烤胶完就可以流入下一道工序，即可完成PLC耦合和性能测试。权利要求1.一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪(I)、显微镜(4)、画面分割器(6)、显示器(7)和六维调整架(8);其特征在于所述的多通道测试仪(I)连接六维调整架(8)，显微镜(4)位于六维调整架(8)上方，显微镜(4)连接有画面分割器(6)，画面分割器(6)连接有显示器(7);所述的六维调整架(8)设置有左调整架(9)、中调整架(10)和右调整架(11)。专利摘要本技术公开了一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪(1)、显微镜(4)、画面分割器(6)、显示器(7)和六维调整架(8)；其特征在于所述的多通道测试仪(1)连接六维调整架(8)，显微镜(4)位于六维调整架(8)上方，显微镜(4)连接有画面分割器(6)，画面分割器(6)连接有显示器(7)；所述的六维调整架(8)设置有左调整架(9)、中调整架(10)和右调整架(11)。文档编号G01M11/00GK202693847SQ20122035148公开日2013年1月23日 申请日期2012年7月19日 优先权日2012年7月19日专利技术者黄泽 申请人:张家界经天光电设备有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种PLC耦合和性能测试合并的装置，它包括多通道测试仪（1）、显微镜（4）、画面分割器（6）、显示器（7）和六维调整架（8）；其特征在于：所述的多通道测试仪（1）连接六维调整架（8），显微镜（4）位于六维调整架（8）上方，显微镜（4）连接有画面分割器（6），画面分割器（6）连接有显示器（7）；所述的六维调整架（8）设置有左调整架（9）、中调整架（10）和右调整架（11）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄泽，
申请(专利权)人：张家界经天光电设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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