电容触控系统和操作电容触控系统的方法技术方案

技术编号:8241441 阅读:131 留言:0更新日期:2013-01-24 22:21
电容触控系统包含一触控面板、一侦测电路及一微处理器。该触控面板包含多个扫描区,其中各该些扫描区包含多个感测单元;该侦测电路是连接于该触控面板,利用惠斯同电桥原理并根据一预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,以产生对应于各该些扫描区中每一扫描区的侦测结果;该微处理器是用以产生该预定时序至该侦测电路,以及根据对应于每一扫描区的侦测结果,判断每一扫描区是否被触碰。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种,尤指一种是利用惠斯同电桥(Wheatstone bridge)原理以快速侦测触控面板是否被触碰的。
技术介绍
在现有技术中,如图I、图2和图3中所示,图I为一种触控面板100的示意图,图2为触控面板100的侦测电路200的示意图,和图3为当侦测电路200侦测到有手指触碰触控面板100和没有侦测到手指触碰触控面板100的示意图。如图I所示,触控面板100包含多个X轴的感测线XSI-XSN与多个Y轴的感测线YSI-YSM,其中每一条感测线是连接于多·个感测单元,且N、M是为正整数。如图2所示,侦测电路200的电流源202可根据预定顺序对多个X轴的感测线XSl-XSN与多个Y轴的感测线YSl-YSM充电。因此,侦测电路200通过触控面板100上二相邻感测单元间的寄生电容SC的电容值变化来侦测触控面板100上触控点的位置。如图2和图3所示,当没有手指触碰触控面板100时,感测线XS1-XSN(或感测线YS1-YSM)上二相邻感测单元间的寄生电容SC被充电至参考电压Vref的时间是为Tl,亦即当寄生电容SC被充电至参考电压Vref时,比较器204产生重置讯号RS给计数器206和开关208。此时,计数器206根据计数器206内的频率CLK和重置讯号RS,记录时间Tl并在时间Tl时重置计数器206的计数,开关208可在时间Tl时根据重置讯号RS,重置寄生电容SC所储存的电位,以及使比较器204的输出回复到初始状态。如图2和图3所示,当手指触碰触控面板100时,感测线XSl-XSN (或感测线YS1YSM)上被手指触碰的二相邻感测单元间的寄生电容S '(因为寄生电容S'是寄生电容SC并联手指触碰触控面板100所造成的寄生电容,所以寄生电容S ^是大于寄生电容SC)被充电至参考电压Vref的时间是为T2(T2大于Tl)。因此,触控面板100的时序控制器即可重复上述过程,以侦测触控面板100上的触控点。因此综上所述的现有技术中的侦测方法具有较慢的侦测速度,不易实现多点触控,并且容易受噪声干扰。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可快速侦测触控面板是否触碰,实现多点触控,并且降低触控面板的噪声实现多点触控的。本专利技术一种电容触控系统采用以下结构,其包括触控面板、侦测电路、微处理器;触控面板,包含多个扫描区,其中各该些扫描区包含多个感测单元;侦测电路,连接于该触控面板,利用惠斯同电桥原理根据一预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,以产生对应于各该些扫描区中每一扫描区的侦测结果;及微处理器,用以产生该预定时序至该侦测电路,以及根据对应于每一扫描区的侦测结果,判断每一扫描区是否被触碰。其中该触控面板为一投射式电容触控面板。其中该投射式电容触控面板为一互感式电容触控面板。其中该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,是为该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区中的每一列扫描区发射驱动讯号。其中该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,是为该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区中的每一行扫描区发射驱动讯号。其中该侦测电路包括第一开关电路、第二开关电路、比较器、可变电容、定电容;第一开关电路,用以连接对应一扫描区的一第一感测线至一电源的第一端;第二开关电路,用以连接对应该扫描区的二相邻第二感测线至该比较器;可变电容,具 有一第一端,连接于该二相邻第二感测线中的一第二感测线和该比较器,及一第二端,连接于该电源的第二端 '及定电容,具有一第一端,连接于该二相邻第二感测线中的另一第二感测线和该比较器,及一第二端,连接于该电源的第二端。其中该微处理器根据对应于该扫描区的侦测结果,判断该扫描区是否被触碰,是为当该侦测电路所包含的可变电容的电容值变化超过一预定值时,该微处理器判断该扫描区被触碰。其中该第一感测线是位于该触控面板的一第一轴向上,以及该二相邻第二感测线是位于该触控面板的一第二轴向上。其中该微处理器另用以当一扫描区被一个以上对象触碰时,计算该扫描区内一个以上触控点的坐标。本专利技术操作电容触控系统的方法,其采用电容触控系统,所述电容触控系统包含一触控面板、一侦测电路及一微处理器,其中该触控面板包含多个扫描区,以及各该些扫描区包含多个感测单元,所述操作电容触控系统的方法包括该微处理器产生一第一预定时序;该侦测电路利用惠斯同电桥原理并根据该第一预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,以产生对应于各该些扫描区中每一扫描区的侦测结果;及该微处理器根据对应于每一扫描区的侦测结果,执行一相对应的动作。本专利技术操作电容触控系统的方法,其包括其中该微处理器根据对应于该扫描区的侦测结果,执行该相对应的动作,是为该微处理器根据对应于该扫描区的侦测结果,判断该扫描区没有被触碰时,该微处理器判断下一扫描区是否被触碰。本专利技术操作电容触控系统的方法包括该微处理器根据对应于该扫描区的侦测结果,执行该相对应的动作,是为该微处理器根据对应于该扫描区的侦测结果,判断该扫描区被触碰时,该微处理器产生一第二时序,并通知该侦测电路根据一第二预定时序,对该扫描区的每一感测单元发射驱动讯号,以产生对应于该扫描区的每一感测单元的侦测结果。本专利技术操作电容触控系统的方法还包括该微处理器根据对应于该扫描区的每一感测单元的侦测结果,计算该扫描区内一个以上触控点的坐标。本专利技术操作电容触控系统的的方法包括该微处理器根据对应于该扫描区的侦测结果,判断该扫描区被触碰,是为当该侦测电路所包含的可变电容的电容值变化超过一预定值时,该微处理器判断该扫描区被触碰。本专利技术操作电容触控系统的方法包括其中该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,是为该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区中的每一列扫描区发射驱动讯号。本专利技术操作电容触控系统的方法包括其中该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,是为该侦测电路根据该预定时序,依序对该些扫描区中的每一行扫描区发射驱动讯号。以上技术方案,相较于先前技术,因为该侦测电路在每一扫描区仅侦测一对寄生电容,所以该侦测电路扫描该触控面板的该些扫描区的时间可被减少。如此,本专利技术不仅可快速侦测该触控面板是否被触碰,亦可利用该惠斯同电桥原理以降低该触控面板的噪声进而达到多点触控的目的。以下结合附图对本专利技术做进一步详细说明;图I为现有一种触控面板的示意图; 图2为现有触控面板的侦测电路的示意图;图3为现有当侦测电路侦测到有手指触碰触控面板和没有侦测到手指触碰触控面板的不意图;图4为本专利技术的一实施例说明一种电容触控系统的示意图;图5为本专利技术的另一实施例说明一种操作电容触控系统的方法之流程图。具体实施例方式请参照图4,图4是为本专利技术的一实施例说明一种电容触控系统400的示意图。电容触控系统400包含一触控面板402、一侦测电路404及一微处理器406。触控面板402包含多个扫描区,其中多个扫描区中的每一扫描区包含多个感测单元(如第4图所示,每一扫描区包含9个感测单元)。但本专利技术并不受限于每一扫描区包含9个感测单元。另外,触控面板402是可为一投射式电容触控面板,且亦为一互感式电容触控面板。侦测电路404是连接于触控面板402,利用惠斯同电桥原理并根据一预定时序,依序对触控面板402的多个扫描区中的本文档来自技高网
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【技术保护点】
电容触控系统,其特征在于:其包括触控面板、侦测电路、微处理器;触控面板,包含多个扫描区,其中各该些扫描区包含多个感测单元;侦测电路,连接于该触控面板,利用惠斯同电桥原理根据一预定时序,依序对该些扫描区发射驱动讯号,以产生对应于各该些扫描区中每一扫描区的侦测结果;及微处理器,用以产生该预定时序至该侦测电路,以及根据对应于每一扫描区的侦测结果,判断每一扫描区是否被触碰。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄子轩姜智尹谢襦毅
申请(专利权)人:华映光电股份有限公司中华映管股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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