一种老化测试控制箱制造技术

技术编号:8231904 阅读:200 留言:0更新日期:2013-01-18 13:43
本实用新型专利技术涉及乐器配件测试技术领域,特别是涉及一种老化测试控制箱,其包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器,箱架包括多个插座,控制器包括多个测试开关,测试装置、插座和测试开关的数目相同,插座与测试开关一一对应电连接;测试参数显示器和控制器电连接;琴键进行测试时,插座与测试装置一一对应电连接,测试装置与琴键连接。与现有技术相比,本实用新型专利技术能同时检测多个琴键,高效快速、而且测试数据准确、结构简单、操作方便及成本低廉。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及乐器配件测试
,特别是涉及一种老化测试控制箱
技术介绍
乐器零件一般需要进行老化测试,特别是电子琴和钢琴等的琴键必须经过老化测试,验证琴键在整个工作时间内的质量的可靠性,为了在短时间内获得准确的测试结果,往往会使用专用的老化测试装置。目前,琴键老化测试多使用专用的老化测试装置,然而,现有的琴键专用老化测试装置每次测试琴键数目少,工作效率低,而且老化测试装置的结构较复杂、成本昂贵,难以大规模广泛应用
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种高效、快速及结构简单的老化测试控制箱。本技术的目的通过以下技术方案实现。一种老化测试控制箱,包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器,箱架包括多个插座,控制器包括多个测试开关,测试装置、插座和测试开关的数目相同,插座与测试开关一一对应电连接;测试参数显示器与控制器电连接;琴键进行测试时,插座与测试装置一一对应电连接,测试装置与琴键连接。其中,箱架设有多个层架,多个层架相互平行设置,插座装设于层架上。其中,每个层架装设的插座数目相同。其中,控制器装设于箱架。本技术的有益效果一种老化测试控制箱,包括箱架、多个测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种老化测试控制箱,其特征在于:包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器,所述箱架包括多个插座,所述控制器包括多个测试开关,所述测试装置、插座和测试开关的数目相同,所述插座与所述测试开关一一对应电连接;所述测试参数显示器与所述控制器电连接;琴键进行测试时,所述插座与所述测试装置一一对应电连接,所述测试装置与琴键连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:苏金龙
申请(专利权)人:东莞市龙健电子有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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