【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种高精度光纤长度测量系统。
技术介绍
高精度光纤长度测量系统在光纤通信系统中具有重要的应用价值。传统的光纤测量方法主要包括光时域反射仪(OTDR),光频域反射仪(OFDR),光低相干反射仪(OLCR)等。其中OTDR是基于后向瑞利散射和菲涅尔反射原理制成的,是目前最广泛的测量光纤长度的仪器。OTDR的优点是测量长度可达上百公里,缺点是精确度较差,只能达到米的量级,且不可测量短距离光纤,设备体积庞大。 OFDR和OLCR的测量精度虽然相对较高,分别可以达到毫米和几十微米量级,但是实际操作的稳定性和可靠性比较低。另外,复杂的结构与高昂的造价也一定程度上限制了他们的应用。
技术实现思路
本专利技术提供了一种高精度光纤长度测量系统,主要解决了现有测量系统结构复杂、成本高,且在对光纤长度进行测量时,精度低、稳定性差的问题。本专利技术的具体技术解决方案如下该高精度光纤长度测量系统包括用于产生脉冲激光的脉冲发生装置,脉冲发生装置连接有光分束器,光分束器的上设置有两个输出端,光分束器第一输出端与光环形器第一端口连接,光分束器第二输出端通过第二光电探测器与示波器连接, ...
【技术保护点】
一种高精度光纤长度测量系统,包括用于产生脉冲激光的脉冲发生装置,其特征在于:所述脉冲发生装置连接有光分束器,光分束器的上设置有两个输出端,光分束器第一输出端与光环形器第一端口连接,光分束器第二输出端通过第二光电探测器与示波器连接,光环形器第二端口依次和待测光纤及法拉第旋转镜连接,光环形器第三端口通过第一光电探测器与示波器连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:梁健,任立勇,屈恩世,
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所,
类型:实用新型
国别省市:
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